【正文】 聲檢測報告，編制超聲波檢測工藝。、探頭和系統(tǒng)性能 采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，現(xiàn)使用PXUT350C數(shù)字機?！?0MHz，儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進級每檔不大于2dB，其精度為任意相鄰12dB的誤差在177。1 dB以內(nèi)，最大累計誤差不超過1dB。水平線性誤差不大于1%，垂直線性誤差不大于5%。其余指標應(yīng)符合JB/T10061的規(guī)定。 探頭,且任一邊長不大于25mm。，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 2 頁共 40 頁177。10%。（在基準靈敏度下）：對于頻率為5MHz的探頭，寬度不大于10mm；，寬度不大于15mm。，斜探頭的遠場分辨力應(yīng)不小于6dB。，檢測時機及抽檢率的選擇等應(yīng)按法規(guī)、產(chǎn)品標準及有關(guān)技術(shù)文件的要求進行。，應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。所有影響超聲檢測的銹蝕、飛濺和污物等都應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測結(jié)果的正確性和完整性，否則應(yīng)做適當?shù)奶幚怼? 為確保檢測時超聲聲束能掃查到工件的整個被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。 探頭的掃查速度不應(yīng)超過150mm/s。 掃查靈敏度應(yīng)高于基準靈敏度。 采用機油或漿糊或水。 a)耦合補償。在檢測和缺陷定量時，應(yīng)對由表面粗糙度引起的耦合損失進行補償。 b)衰減補償。在檢測和缺陷定量時，應(yīng)對材質(zhì)衰減引起的檢測靈敏度下降和缺陷定量誤差進行補償。 c)曲面補償。對探測面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊，通過對比試驗進行曲率補償。 校準應(yīng)在標準試塊上進行，校準中應(yīng)使探頭主聲束垂直對準反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定的和最大的反射信號。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D/ 0第 3 頁共 40 頁 每隔三個月至少對儀器的水平線性和垂直線性進行一次測定，測定方法按JB/T10061的規(guī)定。 新購探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說明書，新探頭使用前應(yīng)進行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測定。測定應(yīng)按JB/T10062的有關(guān)規(guī)定進行，并滿足要求。—斜探頭系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度?！碧筋^系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。 遇有下述情況應(yīng)對系統(tǒng)進行復(fù)核： a) 校準后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生變化時； b)檢測人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時； c)連續(xù)工作4h以上時； d)工作結(jié)束時。 a)每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對掃描量程進行復(fù)核。如果任意一點在掃描線上的偏移超過掃描線讀數(shù)的10％，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進行復(fù)檢。 b)每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對掃查靈敏度進行復(fù)核。一般對距離－波幅曲線的校核不應(yīng)少于3點。如曲線上任何一點幅度下降2dB,則應(yīng)對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對所有的記錄信號進行重新評定。、復(fù)核的有關(guān)注意事項 校準、復(fù)核和對儀器進行線性檢測時，任何影響儀器線性的控制器（如抑制或濾波開關(guān)等）都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。標準試塊有： a)鋼板用標準試塊：CBⅠ、CBⅡ。 b)鍛件用標準試塊：CSⅠ、CSⅡ、CSⅢ。 c)焊接接頭用標準試塊：CSKIA、CSKⅡA、CSKⅢA、CSKⅣA。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 4 頁共 40 頁，該材料用直探頭檢測時，不得有大于或等于φ2mm平底孔當量直徑的缺陷。，并應(yīng)經(jīng)計量部門檢定合格。，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測，試塊的厚度應(yīng)由其最大厚度來確定。、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合JB/。、完整，并經(jīng)相應(yīng)責任人員簽字認可。：工件名稱、編號、探傷部位、材質(zhì)、規(guī)格、表面情況、探傷方法、驗收標準、儀器、探頭、試塊、耦合劑、探傷比例、探傷靈敏度、缺陷情況及評定、檢測人員、日期。：工件名稱、編號、探傷部位、檢驗范圍、探傷比例、驗收標準、缺陷情況、返修情況、探傷結(jié)論、檢驗人員、審核人員等。檢測結(jié)論為不合格的工件，應(yīng)予返修。返修后，應(yīng)按原探傷驗收條件進復(fù)探驗收。、零部件的超聲檢測和質(zhì)量分級 本條適用于板厚為6mm～250mm的碳素鋼、低合金鋼板材的超聲檢測和質(zhì)量分級。 奧氏體鋼板材、鎳及鎳合金板材以及雙相不銹鋼板材的超聲檢測也可參照執(zhí)行。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 5 頁共 40 頁 表1 板材超聲檢測探頭選用板厚，（mm）采用探頭公稱頻率，MHZ探頭晶片尺寸6～20雙晶直探頭5晶片面積不小于150mm220～40單晶直探頭5φ14～φ20mm40～250單晶直探頭φ20～φ25mm（規(guī)范性附錄）的要求。，采用的CB I標準試塊如圖1所示。，CB II標準試塊應(yīng)符合圖2和表2的規(guī)定。試塊厚度應(yīng)與被檢鋼板厚度相近。經(jīng)合同雙方同意，也可采用雙晶直探頭進行檢測。 圖1 CBⅠ標準試塊壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 6 頁共 40 頁 圖2 CBⅡ標準試塊 表2 CBⅡ標準試塊 mm試塊編號被檢鋼板厚度檢測面到平底孔的距離S試塊厚度TCBⅡ－1CBⅡ－2CBⅡ－3CBⅡ－4CBⅡ－5CBⅡ－620～4040～6060～100100～160160～200200～25015305090140190≥20≥40≥65≥110≥170≥220，用CBⅠ試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50％，再提高10dB作為基準靈敏度。，應(yīng)將CBⅡ試塊φ5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50％壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 7 頁共 40 頁作為基準靈敏度。，也可取鋼板無缺陷部位的第一次底波來校準靈敏度。 可選鋼板的任一軋制表面進行檢測。若檢測人員認為需要或設(shè)計上有要求時，也可選鋼板的上、下兩軋制表面分別進行檢測。耦合方式可采用直接接觸法。 a)探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距不大于100mm的平行線進行掃查。在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（當板厚超過100mm，以板厚的一半為準）內(nèi)應(yīng)作100％掃查，掃查示意圖見圖3； b)根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查 圖3 探頭掃查示意圖，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷： a)缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的50％，即F1≥50％； b)當?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高未達到滿刻度，此時，缺陷第一次反射波（F1）波高與底面第一次反射波（B1）波高之比大于或等于50％，即B1100％，而F1/B1≥50%； c)底面第一次反射波（B1）波高低于滿刻度的50％，即B150％。 a)檢出缺陷后，應(yīng)在它的周圍繼續(xù)進行檢測，以確定缺陷的延伸。 b)用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時，探頭的移動方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到基準靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25％或使缺陷第一次反射波壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 8 頁共 40 頁高與底面第一次反射波高之比為50％。此時，探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點即為缺陷的邊界點。兩種方法測得的結(jié)果以較嚴重者為準。 c)用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時，移動探頭使缺陷波第一次反射波高下降到基準靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25％或使缺陷第一次反射波與底面第一次反射波高之比為50％。此時，探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心即為缺陷的邊界點。兩種方法測得的結(jié)果以較嚴重者為準。 d) c)中缺陷的邊界范圍或指示長度時，移動探頭（單直探頭或雙直探頭）使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50％。此時探頭中心移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點即為缺陷的邊界點。 e)當板厚較薄，確需采用第二次缺陷波和第二次底波來評定缺陷時，基準靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的第二次反射波來校準。單個缺陷按其指示的最大長度作為該缺陷的指示長度。若單個缺陷的指示長度小于40mm時，可不作記錄。 a)一個缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個指示面積。 b)多個缺陷相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰較小缺陷的指示長度（取其較大值）時，以各缺陷面積之和作為單個缺陷指示面積。 c)指示面積不計的單個缺陷見表3。 表3 鋼板質(zhì)量分級等級單個缺陷指示長度mm單個缺陷指示面積cm2在任一1m1m檢測面積內(nèi)存在的缺陷面積百分比 ％以下單個缺陷指示面積不計 cm2I8025≤39II10050≤515III120100≤1025Ⅳ150100≤1025Ⅴ超 過 Ⅳ 級 者注：Ⅳ級鋼板主要用于與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的制造安裝。 在任一1m1m檢測面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來確定。如鋼板面積小于1m1m，可按比例折算。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 9 頁共 40 頁。（板厚大于100mm時，以板厚的一半為準）內(nèi)，缺陷的指示長度大于或等于50mm時，應(yīng)評為Ⅴ級。，檢測人員如確認鋼板中有白點、裂紋等危害性缺陷存在時，應(yīng)評為Ⅴ級。，可采用橫波檢測。（規(guī)范性附錄）。(1)操作者應(yīng)具有一定縱波探傷經(jīng)驗的人擔任。(2)超聲充水探頭的技術(shù)參數(shù)應(yīng)符合標準規(guī)定。(3)儀器的探頭的組合靈敏度應(yīng)符合標準規(guī)定。(4)靈敏度的調(diào)節(jié)和單直探頭一樣在φ5100100的標準試塊上調(diào)節(jié)靈敏度大小按標準第一底波（或者第二次、第三次）調(diào)到50%在實際探測時可適當提高靈敏度。(5)用充水探頭探測鋼板時應(yīng)考慮到介面波與鋼板底面重合，即重合波探傷發(fā)，因此超聲充水探頭層高度的調(diào)節(jié)甚為重要，并應(yīng)有自動控制水層高度的裝置，這樣介面波與底面波才能有效重合，其計算公式如下：h=CL水/CL鋼δ h 層高度，δ 鋼板厚度，CL水水中縱波聲速，CL鋼鋼中縱波聲速若探測厚度較小的鋼板，考慮到探頭盲區(qū)影響，可提高水層高度h，因此用下式計算：h=CL水/CL鋼nδ n:（即一次、二次、三次、四次重合法） 本條適用于碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測和質(zhì)量分級。 本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料鍛件的超聲檢測，也不適用于內(nèi)，外徑之比小于80％的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測。 雙晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用5MHz。探頭晶片面積不小于150mm2。單晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用2MHz～5MHz，探頭晶片一般為Ф14～Ф25mm。 。 采用CSⅠ試塊，其形狀和尺寸應(yīng)符合圖4和表4的規(guī)定。 a）工件檢測距離小于45mm時，應(yīng)采用CSⅡ標準試塊。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 10 頁共 40 頁 b）CSⅡ試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合圖5和表5的規(guī)定。圖4 CS I 標準試塊表4 CSI標準試塊尺寸 mm試塊序號CSⅠ－1CSⅠ2CSⅠ3CSⅠ4L50100150200D50608080 圖5 CSⅡ標準試塊 壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 11 頁共 40 頁 表5 CSⅡ標準試塊尺寸