【正文】 圖表面預(yù)處理磁化電流磁化方法對工件磁化施加磁粉觀察判別記 錄報(bào) 告壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D / 0第 1 頁共 40 頁1. 范圍本規(guī)程規(guī)定了采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀檢測工件缺陷的超聲檢測方法和質(zhì)量分級(jí)要求。14. 退磁 退磁一般要求規(guī)定檢測后加熱至700℃以上進(jìn)行熱處理的工件，一般可不進(jìn)行退磁，在下列情況下工件應(yīng)進(jìn)行退磁。 。通電時(shí)間為1s—3s，停施磁懸液至少1s后方可停止磁化。如被檢工件表面殘留有涂層，經(jīng)試驗(yàn)仿礙檢測，則應(yīng)清除干凈。磁化方向本規(guī)程采用縱向磁化和復(fù)合磁化。標(biāo)準(zhǔn)試片有A1型、C型其規(guī)格和尺寸見JB/—2005表2。濕法應(yīng)采用水或低粘度油基載體作為分散媒介。（距）視力和遠(yuǎn)（距）（），并1年檢查1次，不得有色盲。 不允許任何裂紋和白點(diǎn)，緊固件和軸類零件不允許何橫向缺陷顯示。，必須確定跡痕是真缺陷還是假缺陷，必要時(shí)可借助5~10倍放大鏡進(jìn)行觀察。不可在同一地點(diǎn)反復(fù)多次施加。要特別小心地注意避免使用過量的清洗劑，也不得往復(fù)擦試，以便盡可能減少把缺陷中滲透劑清洗掉的可能。清洗時(shí)，通常是用丙酮仔細(xì)擦洗后，再放入裝有丙酮和無水酒精的混合液(混合比為1：1)的密封容器中保存，或曬干后密封保存。，在進(jìn)行檢測時(shí)，應(yīng)采用必要的通風(fēng)措施禁止用火。15．資料整理與歸檔 每臺(tái)產(chǎn)品焊縫檢驗(yàn)合格后，評片人員應(yīng)分門別類整理產(chǎn)品的所有資料，出具RT報(bào)告，底片應(yīng)按順序號(hào)擺放，當(dāng)有返修時(shí)，返修片應(yīng)與原始片之間應(yīng)用紙隔離。、像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)時(shí)應(yīng)符合JB/；雙壁雙影透照、像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)時(shí)應(yīng)符合JB/；雙壁單影或雙壁雙影透照、像質(zhì)計(jì)置于膠片側(cè)時(shí)應(yīng)符合JB/。，評片人員應(yīng)了解焊縫的坡口型式及尺寸、材質(zhì)、熱處理情況、焊接方法、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、透照方式等。（焊縫丁字接頭處的含義指：縱縫與環(huán)縫交叉點(diǎn)，它也包括相鄰的縱縫一端）及在拍片原始記錄表上簽上拍片者、復(fù)核者姓名、資格、日期。，各電纜接頭及接地狀態(tài)是否良好。 γ射線透照工件采用源在內(nèi)中心透照方式。當(dāng)T/D0，相隔1200或600透照3次。一次透照長度應(yīng)以透照厚度比K值進(jìn)行控制，不同級(jí)別的射線檢測技術(shù)和不同類型對接焊接接頭的透照厚度比應(yīng)符合表2的規(guī)定，但縱向焊接接頭拍片長度一般不超過300mm。專用像質(zhì)計(jì)至少應(yīng)能識(shí)別兩根金屬絲。雙壁雙影透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)可放置在源側(cè)，也可放置在膠片側(cè)。封頭拼縫加FA標(biāo)記。也使膠片暗袋中心對準(zhǔn)容器壁上的中心符號(hào)位置。校驗(yàn)方法參照J(rèn)B/。、第二個(gè)和最后一個(gè)片號(hào)中心點(diǎn)及環(huán)縫各T字接頭處，拍片人員必須在該部位離焊縫邊緣30mm處打上清晰可見的檢測鋼印標(biāo)記（包括片號(hào)和中心方向標(biāo)記），對于不適合打鋼印標(biāo)記的工件，檢測操作人員應(yīng)繪制壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC23—D/02012題 目射線照相檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D/ 0第 3 頁共 19 頁詳細(xì)的透照部位草圖或其它有效方式標(biāo)注透照部位（一律記號(hào)筆標(biāo)注）。，底片和檢測報(bào)告以及產(chǎn)品試板資料應(yīng)及時(shí)整理，并歸檔，且應(yīng)專門保管。，評片人應(yīng)依照底片對照該片在容器相應(yīng)部位仔細(xì)觀察分析，并請示RTⅢ級(jí)人員進(jìn)行裁定，否則應(yīng)重新拍片。.．評片要求。：：AB級(jí)：≤D≤； B級(jí)：≤D≤ 注：底片有效評定區(qū)域內(nèi)的黑度式指搭接標(biāo)記之間焊縫和熱影響區(qū)的黑度。檢測工作人員應(yīng)佩帶個(gè)人劑量計(jì)，并攜帶劑量報(bào)警儀。或60176。不滿足上述條件時(shí)或橢圓成像有困難時(shí)可采用垂直透照方式重疊成像。周向曝光時(shí),射線機(jī)應(yīng)在中心位置, 射線束的中心應(yīng)同時(shí)對準(zhǔn)透照區(qū)90度位,180度位,270度位,360度位焊縫中心.、鉛遮板、鉛襯板等，照射場內(nèi)不應(yīng)堆放雜物，以防止散亂射線影響底片質(zhì)量。：（底）應(yīng)有下列鉛質(zhì)的識(shí)別標(biāo)記，產(chǎn)品編號(hào)、像質(zhì)返修標(biāo)記“R”，需增拍時(shí)還應(yīng)增拍標(biāo)記“Z”，及必要時(shí)的“F”標(biāo)記。（被檢區(qū)長度1/4部位）鋼絲應(yīng)橫跨焊縫垂直細(xì)鋼絲置于外側(cè)。（其高度為13mm，厚度為16mm）。AB級(jí)為不小于15毫安分,B級(jí)為不小于20毫安分, 當(dāng)焦距改變時(shí)按平方反比定律對曝光量進(jìn)行換算。環(huán)縫首先從容器的1B之T字接頭處開始按順時(shí)針劃分片號(hào)，以同樣的方法劃分其余各環(huán)縫片號(hào)，片號(hào)由小到大用阿拉伯?dāng)?shù)字表示（1B1在1A1丁字口處，2B1在2A1的丁字口處，以此類推）。,L3規(guī)定一般為300mm。1B1R2表示第一條焊縫第一張片第二次返修。并且應(yīng)有試板的編號(hào)1AS1AS2……（連1A縱縫）.工藝評定試板的工藝評定號(hào)為檢測編號(hào)，片號(hào)以SS2…表示之。公稱直徑大于250mm的接管對接接頭應(yīng)進(jìn)行射線檢測。3．4射線檢測人員應(yīng)能熟練操作射線機(jī)，正確選用透照工藝，合理使用暗室處理方法，并應(yīng)熟悉焊接工藝、金屬材料等知識(shí)，應(yīng)了解壓力容器制造工藝，熟悉有關(guān)壓力容器的法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)條件。1,3非承壓設(shè)備元件對接焊接接頭的X射線檢測可參照使用。本工藝規(guī)程規(guī)定了承壓設(shè)備金屬材料受壓元件的熔化焊對接接頭的X射線檢測方法、底片質(zhì)量和質(zhì)量分級(jí)的要求。無損檢測 射線照相檢測用線型像質(zhì)計(jì) JB/T79021999 線型象質(zhì)計(jì) JB/T7903－1999 工業(yè)射線照相底片觀燈片HB7684－2000 射線照相用線型象質(zhì)計(jì)3．1從事射線檢測的人員應(yīng)按照《特種設(shè)備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則》的要求持有國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督部門頒發(fā)的與其工作相適應(yīng)的技術(shù)等級(jí)資格證書。，對其A類，Ⅱ級(jí)的要求。無損檢測室接到委托單后，方可安排射線檢測，無損檢測室應(yīng)將委托單反饋焊接檢驗(yàn)員。如第1條縱縫第二張片即以1A2表示之。對直徑較大或壁厚較厚的容器環(huán)焊縫劃線時(shí)，應(yīng)注意限制累積誤差和筒體內(nèi)外中心位置的重疊準(zhǔn)確性，在容器內(nèi)中心壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC23—D/02012題 目射線照相檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D/ 0第 3 頁共 10頁曝光只要在容器外壁劃線布片。所需最少透照次數(shù)與透照方式和透照厚度比有關(guān), 首先計(jì)算和查圖表，確定整圈環(huán)縫透照等分?jǐn)?shù)N，再以下式計(jì)算L3。，所攝片號(hào)，并與實(shí)物、X光底片相符，保證追溯的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。，依據(jù)曝光曲線確定曝光參數(shù)。 表1 單壁透照、像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)（AB級(jí)）公稱厚度（T）范圍mm要求達(dá)到的像質(zhì)指數(shù)Z線直徑mm＞～16＞～15＞～14＞～1013＞10～1512＞15～2511＞25～3210＞32～409＞40～558注。，如果像質(zhì)計(jì)無法放置于源側(cè)，也可放置于膠片側(cè)。如060525表示2006年5月25日。應(yīng)優(yōu)先選用單壁透照法，在單壁透照不能實(shí)施時(shí)方可采用雙壁透照。透照2次。，升高壓前預(yù)熱35分鐘，再根據(jù)曝光規(guī)范緩慢升壓，再升mA至規(guī)定值，在時(shí)間到前15秒，應(yīng)緩慢降mA和KV值至結(jié)束。：（膠片沖洗采用槽浸和式進(jìn)行），配制好放置24小時(shí)后，方可使用。黑度計(jì)至少每6個(gè)月校驗(yàn)一次。、鎳、銅制承壓設(shè)備熔化焊對接接頭射線檢測質(zhì)量分級(jí)按JB/。除非另有規(guī)定，射線檢測應(yīng)在焊后進(jìn)行，對有延遲裂紋傾向的材料，至少應(yīng)在焊接完成24h后進(jìn)行射線檢測。（具體制作過程參閱RT有關(guān)教科書，并符合JB/～)8 透照準(zhǔn)備、厚度及結(jié)構(gòu)形式進(jìn)行選用，同時(shí)還應(yīng)兼顧靈敏度。，無破損漏光的情況。，可在暗盒背面貼一個(gè)符合JB/“B”鉛字標(biāo)記。搭接標(biāo)記放置的部位如圖（3）所示圖3 搭接標(biāo)記的擺放位置～。d、當(dāng)像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí)，應(yīng)在像質(zhì)計(jì)上適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記，“F”標(biāo)記的影像應(yīng)與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記同時(shí)出現(xiàn)在底片上，且應(yīng)在檢測報(bào)告中注明。，應(yīng)按GB18465的規(guī)定劃定控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)，設(shè)置警告標(biāo)志。a) ，透照厚度比K=；b) （偏心內(nèi)透法和雙壁單影法）透照環(huán)向?qū)雍附咏宇^，透照厚度比K=；c) ，透照厚度比K=；d) （偏心內(nèi)透法和雙壁單影法）透照環(huán)向?qū)雍附咏宇^，透照厚度比K=；e) ，透照厚度比K=；f) （偏心內(nèi)透法和雙壁單影法）透照環(huán)向?qū)雍附咏宇^，透照厚度比K=。鑒于透照一次不能實(shí)現(xiàn)焊縫全長的100%檢測，此時(shí)應(yīng)采用有效措施擴(kuò)大缺陷可檢出范圍，并保證底片評定范圍內(nèi)黑度和靈敏度滿足要求（如抽拍焊接接頭總數(shù)的百分?jǐn)?shù)，可采用擴(kuò)大抽拍比例，或改進(jìn)曝光參數(shù)增加寬容度或加強(qiáng)散射線屏蔽等）（W）雙壁雙影透照小徑管對接接頭的厚度計(jì)算一般為雙壁厚度（W=2T），像質(zhì)計(jì)的像質(zhì)指數(shù)確定也是據(jù)此選取。模圖。并密切注意毫安指示及電壓表的穩(wěn)定情況，發(fā)現(xiàn)異常情況應(yīng)立即切斷高壓，在排除故障后方可使用。評片室應(yīng)整潔、安靜、溫度適宜、光線應(yīng)暗且柔和。，尤其是黑度較低區(qū)域，即使其影像黑度較低，也不應(yīng)輕易放過，應(yīng)通過適當(dāng)方法加以確認(rèn)。(代號(hào)ⅡCd)2．滲透檢測人員《特種設(shè)備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則》的要求取得PTⅠ級(jí)以上的資格證書，才能從事相應(yīng)技術(shù)等級(jí)的工作?！?，被檢工件非機(jī)加工表面粗糙度Ra≤，對不能打磨的工件可適當(dāng)放寬，但不得影響檢測結(jié)果。清洗后讓工件充分干燥是重要的，工件可放在紅外線燈泡下干燥，也可用空氣吹干，或者自然干燥。干燥時(shí)間一般為5～10分鐘，被檢面的溫度不得大于50℃。)吹干。9．缺陷顯示痕跡分類。 其他部件的質(zhì)量分級(jí)評定見表 3壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC24—D/02012題 目滲透檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D/ 0第 4 頁共 4 頁表3其他部件的質(zhì)量分級(jí)等級(jí)線性缺陷圓形缺陷 (評定框尺寸為2500m㎡，其中一條矩形邊的最大長度為150mm)I不允許d ≤,且在評定框內(nèi)少于或等于1個(gè)IIL≤4d ≤,且在評定框內(nèi)少于或等于4個(gè)IIIL≤8d ≤8,且在評定框內(nèi)少于或等于6個(gè)VI大于III級(jí)注：L為線性缺陷長度，mm；d 為圓形缺陷在任何方向上的最大尺寸，mm。磁粉檢測設(shè)備的電流表至少半年校驗(yàn)一次。測定前對磁懸液進(jìn)行充分的攪拌非熒光磁粉配制濃度10~25g/L，~。a) 標(biāo)準(zhǔn)試片適用于連續(xù)磁化法，使用時(shí)，應(yīng)將試片無人工缺陷的面朝外。8. 磁化規(guī)范。a) 預(yù)處理；b) 磁化；c) 施加磁粉或磁懸液；d) 磁痕的觀察與記錄；e) 缺陷評定；f) 退磁；g) 后處理。被檢工件的每一被檢區(qū)域至少應(yīng)進(jìn)行兩次獨(dú)立的檢測，兩次檢測的磁力線方向應(yīng)大致相互垂直。 缺陷磁痕的觀察 缺陷磁痕的觀察應(yīng)在磁痕形成后立即進(jìn)行壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC25—D/02012題 目磁粉檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D / 0第 4 頁共 6 頁 非熒光磁粉檢測時(shí)，缺陷磁痕的評定應(yīng)在可見光下進(jìn)行，通常工件被檢表面可見光照度應(yīng)大于或等于1000lx；當(dāng)現(xiàn)場采用便攜式設(shè)備檢測，由于條件所限無法滿足，可見光照度可以適當(dāng)降低，但不得低于500lx。 焊接接頭的磁粉檢測質(zhì)量分級(jí)，見表1表1等級(jí)線性缺陷磁痕圓形缺陷磁痕（評定框尺寸為35100mm）I不允許d≤,且在評定框內(nèi)不大于1個(gè)II不允許d≤,且在評定框內(nèi)不大于2個(gè)IIIL≤d≤,且在評定框內(nèi)不大于4個(gè)Ⅳ大于III級(jí)注：L表示線性缺陷磁痕長度，mm；d表示圓形缺陷磁痕長徑mm。、探頭和系統(tǒng)性能 采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，現(xiàn)使用PXUT350C數(shù)字機(jī)。，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB。在檢測和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。測定應(yīng)按JB/T10062的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行，并滿足要求。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB,則應(yīng)對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評定。：工件名稱、編號(hào)、探傷部位、材質(zhì)、規(guī)格、表面情況、探傷方法、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)、儀器、探頭、試塊、耦合劑、探傷比例、探傷靈敏度、缺陷情況及評定、檢測人員、日期。，采用的CB I標(biāo)準(zhǔn)試塊如圖1所示。若檢測人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上有要求時(shí)，也可選鋼板的上、下兩軋制表面分別進(jìn)行檢測。 c)用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí)，移動(dòng)探頭使缺陷波第一次反射波高下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25％或使缺陷第一次反射波與底面第一次反射波高之比為50％。 a)一個(gè)缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積。，檢測人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí)，應(yīng)評為Ⅴ級(jí)。 本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料鍛件的超聲檢測，也不適用于內(nèi)，外徑之比小于80％的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測。圖4 CS I 標(biāo)準(zhǔn)試塊表4 CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸 mm試塊序號(hào)CSⅠ－1CSⅠ2CSⅠ3CSⅠ4L50100150200D50608080 圖5 CSⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊 壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D / 0第 11 頁共 40 頁 表5 CSⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸