【正文】 02012題 目滲透檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 2 頁共 4 頁：對比試塊使用后要進(jìn)行徹底清洗。被檢工件表面清理后，再進(jìn)行預(yù)清洗，以除去檢測表面的污垢。清洗后讓工件充分干燥是重要的，工件可放在紅外線燈泡下干燥，也可用空氣吹干，或者自然干燥。，可遵照滲透劑生產(chǎn)廠的指示，一般不少于10分鐘。應(yīng)先用干凈不脫毛的布料進(jìn)行擦試，盡可能+除去多余的滲透劑，然后再用蘸有清洗劑的干凈不脫毛的布或紙進(jìn)行擦試工件表面，直至表面上所有多余的滲透劑都被清除掉。在施加滲透劑之后和顯像之前禁止使用清洗劑沖洗被檢表面。干燥時(shí)間一般為5～10分鐘，被檢面的溫度不得大于50℃。、均勻地覆蓋上一層顯像劑薄膜?！?0176。然后將工件進(jìn)行自然干燥或用暖風(fēng)(30186。)吹干。～60分鐘內(nèi)進(jìn)行，如果受檢表面太大，無法在規(guī)定時(shí)間內(nèi)完成檢驗(yàn)，則應(yīng)將表面分成若干個(gè)部分進(jìn)行檢驗(yàn)。，觀察應(yīng)在被檢表面可見光照度不少于1000lx的條件下進(jìn)行。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC24—D/02012題 目滲透檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 3 頁共 4 頁當(dāng)出現(xiàn)以下情況之一時(shí)必須進(jìn)行復(fù)驗(yàn)：a) 檢測結(jié)束時(shí),用對比試塊驗(yàn)證檢測靈敏度不符合要求；b) 發(fā)現(xiàn)檢測過程中操作方法有誤或技術(shù)條件改變時(shí)；c) 供需雙方有爭議或認(rèn)為有其它需要時(shí)；d) 經(jīng)返修后的部位。9．缺陷顯示痕跡分類。176。，按一條缺陷處理，其長度為顯示痕跡長度之和加間距。 焊接接頭和坡口的質(zhì)量分級按表2進(jìn)行。 其他部件的質(zhì)量分級評定見表 3壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC24—D/02012題 目滲透檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D/ 0第 4 頁共 4 頁表3其他部件的質(zhì)量分級等級線性缺陷圓形缺陷 (評定框尺寸為2500m㎡，其中一條矩形邊的最大長度為150mm)I不允許d ≤,且在評定框內(nèi)少于或等于1個(gè)IIL≤4d ≤,且在評定框內(nèi)少于或等于4個(gè)IIIL≤8d ≤8,且在評定框內(nèi)少于或等于6個(gè)VI大于III級注：L為線性缺陷長度，mm；d 為圓形缺陷在任何方向上的最大尺寸，mm。12. 附表著色探傷試驗(yàn)報(bào)告壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC25—D/02012題 目磁粉檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D/ 0第 1 頁共 6 頁《承壓設(shè)備無損檢測》制定、適用于鐵磁性材料制壓力容器的原材料、零部件和焊接接頭表面，近表面缺陷的檢測及質(zhì)量評定分級。 磁粉檢測人員應(yīng)按照《特種設(shè)備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則》的要求取得MTⅠ級以上的資格證書，才能從事相應(yīng)技術(shù)等級的工作。3．磁粉檢測設(shè)備磁粉檢測設(shè)備應(yīng)符合JB/T8290的規(guī)定。磁粉檢測設(shè)備的電流表至少半年校驗(yàn)一次。電磁軛的提升力至少半年校驗(yàn)一次。 A型或C型標(biāo)準(zhǔn)試塊 2~10倍放大鏡4．磁粉、載體及磁懸液磁粉應(yīng)具有高磁異率、低矯頑力和低剩磁并與被檢工件表面有較高的對比度，磁粉之間不應(yīng)相互吸引，磁粉粒度均勻，濕法用磁粉的平均粒度為2~10微米最大粒度不大于45微米。若以水為載體時(shí)，應(yīng)加入適當(dāng)?shù)姆冷P劑和表面活性劑。測定前對磁懸液進(jìn)行充分的攪拌非熒光磁粉配制濃度10~25g/L，~。將磁懸液施加在被檢工件表面上，如果磁懸液的液膜是均勻連續(xù)的，則磁懸液的潤濕性能合格；如果液膜斷開，則磁懸液的潤濕性能不合格。 標(biāo)準(zhǔn)試片主要用于對被檢工件表面有效磁場強(qiáng)度和方向，有效檢測區(qū)域及磁化方法是否正確的測定?！?0/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。a) 標(biāo)準(zhǔn)試片適用于連續(xù)磁化法，使用時(shí)，應(yīng)將試片無人工缺陷的面朝外。如果工件表面凹凸不平，要用銼刀或砂輪打磨平，并除去銹蝕和油脂污物；b) 如果新使用的標(biāo)準(zhǔn)試片表面有銹蝕，褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)，不得繼續(xù)使用。：交流電。檢測與工件軸線方向垂直或夾角大于或等于450的缺陷時(shí)，應(yīng)使用縱向磁化，本規(guī)程采用磁軛法。8. 磁化規(guī)范。，其磁化電流應(yīng)根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)試片實(shí)測結(jié)果來選擇。表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測結(jié)果的正確性和完整性，否則應(yīng)作適當(dāng)?shù)男蘩怼?反差增強(qiáng)劑為增強(qiáng)對比度，可以使用反差增強(qiáng)劑10. 檢測時(shí)機(jī)焊縫接頭的磁粉檢測應(yīng)安排在焊接工序完成之后進(jìn)行。a) 預(yù)處理；b) 磁化；c) 施加磁粉或磁懸液；d) 磁痕的觀察與記錄；e) 缺陷評定；f) 退磁；g) 后處理。采用濕法時(shí)，應(yīng)先確認(rèn)整個(gè)檢測區(qū)被磁懸液很好的液潤濕后，再施加磁懸液。采用連續(xù)法時(shí)，被檢工件的磁化、施加磁粉的工藝以及觀察磁痕顯示都應(yīng)在磁化通電時(shí)間內(nèi)完成。為保證磁化效果應(yīng)至少反復(fù)磁化兩次。被檢工件的每一被檢區(qū)域至少應(yīng)進(jìn)行兩次獨(dú)立的檢測，兩次檢測的磁力線方向應(yīng)大致相互垂直。 長寬比大于3的缺陷磁痕。長寬比小于3的磁痕按圓形磁痕處理。 兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一條直線上且間距不大于2mm時(shí)，按一條磁痕處理，其長度為兩條磁痕之和加間距。 缺陷磁痕的觀察 缺陷磁痕的觀察應(yīng)在磁痕形成后立即進(jìn)行壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC25—D/02012題 目磁粉檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 4 頁共 6 頁 非熒光磁粉檢測時(shí)，缺陷磁痕的評定應(yīng)在可見光下進(jìn)行，通常工件被檢表面可見光照度應(yīng)大于或等于1000lx；當(dāng)現(xiàn)場采用便攜式設(shè)備檢測，由于條件所限無法滿足，可見光照度可以適當(dāng)降低，但不得低于500lx。當(dāng)辨認(rèn)細(xì)小磁痕時(shí)，應(yīng)用2～10倍放大鏡進(jìn)行觀察。13. 復(fù)驗(yàn)當(dāng)出現(xiàn)下列情況之一時(shí)，需要復(fù)驗(yàn)：a)檢測結(jié)束時(shí)，用標(biāo)準(zhǔn)試片驗(yàn)證檢測靈敏度不符合要求時(shí)；b)發(fā)現(xiàn)檢測過程中操作方法有誤或技術(shù)條件改變時(shí)。a)當(dāng)檢測需要多次磁化時(shí)，如認(rèn)定上一次磁化將會給下一次磁化帶來不良影響；b)如認(rèn)為工件的剩磁會對以后的機(jī)械加工產(chǎn)生不良影響；c)如認(rèn)為工件的剩磁會對測試或計(jì)量裝置產(chǎn)生不良影響；d)如認(rèn)為工件的剩磁會對焊接產(chǎn)生不良影響。 焊接接頭的磁粉檢測質(zhì)量分級，見表1表1等級線性缺陷磁痕圓形缺陷磁痕（評定框尺寸為35100mm）I不允許d≤,且在評定框內(nèi)不大于1個(gè)II不允許d≤,且在評定框內(nèi)不大于2個(gè)IIIL≤d≤,且在評定框內(nèi)不大于4個(gè)Ⅳ大于III級注：L表示線性缺陷磁痕長度，mm；d表示圓形缺陷磁痕長徑mm。對各類缺陷分別評定級別，取質(zhì)量級別最低的級別作為綜合評級的級別。磁粉檢測報(bào)告應(yīng)包括以下內(nèi)容：a)委托單位；b)被檢工件：名稱、編號、規(guī)格、材質(zhì)、坡口型式，焊接方法和熱處理狀況；c)檢測設(shè)備：名稱、型號；d)檢測規(guī)范：磁化方法及磁化規(guī)范，磁粉種類及磁懸液濃度和磁懸液的施加方法，檢測靈敏度校驗(yàn)及標(biāo)準(zhǔn)試片；e)磁痕記錄及工件草圖（或示意圖）；f)檢測結(jié)果及質(zhì)量分級，檢測標(biāo)準(zhǔn)名稱和驗(yàn)收等級；g)檢測人員和責(zé)任人員簽字及其技術(shù)資格；h)檢測日期。本規(guī)程適用于與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測，也可參照使用金屬材料制鍋爐壓力容器用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測。、探頭和系統(tǒng)性能 采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，現(xiàn)使用PXUT350C數(shù)字機(jī)。探傷儀具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級每檔不大于2dB，其精度為任意相鄰12dB的誤差在177。水平線性誤差不大于1%，垂直線性誤差不大于5%。 探頭,且任一邊長不大于25mm。，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB。10%。，斜探頭的遠(yuǎn)場分辨力應(yīng)不小于6dB。，檢測時(shí)機(jī)及抽檢率的選擇等應(yīng)按法規(guī)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的要求進(jìn)行。表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測結(jié)果的正確性和完整性，否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)奶幚怼? 探頭的掃查速度不應(yīng)超過150mm/s。 采用機(jī)油或漿糊或水。在檢測和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。在檢測和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對材質(zhì)衰減引起的檢測靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償。對探測面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊，通過對比試驗(yàn)進(jìn)行曲率補(bǔ)償。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D/ 0第 3 頁共 40 頁 每隔三個(gè)月至少對儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測定，測定方法按JB/T10061的規(guī)定。測定應(yīng)按JB/T10062的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行，并滿足要求?！碧筋^系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。 a)每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對掃描量程進(jìn)行復(fù)核。 b)每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB,則應(yīng)對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對所有的記錄信號進(jìn)行重新評定。 b)鍛件用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CSⅠ、CSⅡ、CSⅢ。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 4 頁共 40 頁，該材料用直探頭檢測時(shí)，不得有大于或等于φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對應(yīng)。、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合JB/。：工件名稱、編號、探傷部位、材質(zhì)、規(guī)格、表面情況、探傷方法、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)、儀器、探頭、試塊、耦合劑、探傷比例、探傷靈敏度、缺陷情況及評定、檢測人員、日期。檢測結(jié)論為不合格的工件，應(yīng)予返修。、零部件的超聲檢測和質(zhì)量分級 本條適用于板厚為6mm～250mm的碳素鋼、低合金鋼板材的超聲檢測和質(zhì)量分級。，采用的CB I標(biāo)準(zhǔn)試塊如圖1所示。試塊厚度應(yīng)與被檢鋼板厚度相近。 圖1 CBⅠ標(biāo)準(zhǔn)試塊壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 6 頁共 40 頁 圖2 CBⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊 表2 CBⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊 mm試塊編號被檢鋼板厚度檢測面到平底孔的距離S試塊厚度TCBⅡ－1CBⅡ－2CBⅡ－3CBⅡ－4CBⅡ－5CBⅡ－620～4040～6060～100100～160160～200200～25015305090140190≥20≥40≥65≥110≥170≥220，用CBⅠ試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50％，再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。，也可取鋼板無缺陷部位的第一次底波來校準(zhǔn)靈敏度。若檢測人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上有要求時(shí)，也可選鋼板的上、下兩軋制表面分別進(jìn)行檢測。 a)探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距不大于100mm的平行線進(jìn)行掃查。 a)檢出缺陷后，應(yīng)在它的周圍繼續(xù)進(jìn)行檢測，以確定缺陷的延伸。此時(shí)，探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。 c)用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí)，移動探頭使缺陷波第一次反射波高下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25％或使缺陷第一次反射波與底面第一次反射波高之比為50％。兩種方法測得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。此時(shí)探頭中心移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。單個(gè)缺陷按其指示的最大長度作為該缺陷的指示長度。 a)一個(gè)缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積。 c)指示面積不計(jì)的單個(gè)缺陷見表3。 在任一1m1m檢測面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來確定。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 9 頁共 40 頁。，檢測人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí)，應(yīng)評為Ⅴ級。（規(guī)范性附錄）。(2)超聲充水探頭的技術(shù)參數(shù)應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。(4)靈敏度的調(diào)節(jié)和單直探頭一樣在φ5100100的標(biāo)準(zhǔn)試塊上調(diào)節(jié)靈敏度大小按標(biāo)準(zhǔn)第一底波（或者第二次、第三次）調(diào)到50%在實(shí)際探測時(shí)可適當(dāng)提高靈敏度。 本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料鍛件的超聲檢測，也不適用于內(nèi)，外徑之比小于80％的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測。探頭晶片面積不小于150mm2。 。 a）工件檢測距離小于45mm時(shí)，應(yīng)采用CSⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊。圖4 CS I 標(biāo)準(zhǔn)試塊表4 CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸 mm試塊序號CSⅠ－1CSⅠ2CSⅠ3CSⅠ4L50100150200D50608080 圖5 CSⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊 壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 11 頁共 40 頁 表5 CSⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸