材料試驗方法x射線衍射x射線光電子能譜-文庫吧資料
2025-05-18 18:45本頁面
【正文】 之間的距離來獲得介孔的直徑 是目前測定納米介孔材料結構最有效的方法之一 對于排列不規(guī)整的介孔材料不能獲得其孔徑大小 Page ? 43 已二胺處理前后粘土的 XRD曲線 處理土的晶面間距 (d001)由原來的 粘土晶層間的水合陽離子進行了交換 Page ? 44 殘余應力是指當產(chǎn)生應力的各種因素不復存在時，由于形變，相變，溫度或體積變化不均勻而存留在構件內部并自身保持平衡的應力 在無應力存在時，各晶粒的同一 {hkl}晶面族的面間距都為 d0 應力的測定 Page ? 45 薄膜厚度和界面結構測定 XRD研究 Au /Si薄膜材料的界面物相分布 Page ? 46 物質狀態(tài)的鑒別 ? 不同的物質狀態(tài)對 X射線的衍射作用是不相同的，因此可以利用 X射線衍射譜來區(qū)別晶態(tài)和非晶態(tài) ? 一般非晶態(tài)物質的 XRD譜為一條直線 ? 漫散型峰的 XRD一般是由液體型固體和氣體型固體所構成 ? 微晶態(tài)具有晶體的特征，但由于晶粒小會產(chǎn)生衍射峰的寬化彌散，而結晶好的晶態(tài)物質會產(chǎn)生尖銳的衍射峰 Page ? 47 不同材料狀態(tài)以及相應的 XRD譜示意圖 Page ? 48 我所研究的方向： CaMO3系熱電材料 48 Thermoelectric properties of Bi, Nb cosubstituted CaMnO 3 at high temperature Page ? 49 49 Frequency dependence of N233。 根據(jù) Scherrer公式，可以計算獲得晶粒的尺寸 D101＝ nm Page ? 39 根據(jù)晶粒大小還可以計算出晶胞的堆垛層數(shù) N=D101/d101=根據(jù)晶粒大小，還可以計算納米粉體的比表面積 當已知納米材料的晶體密度 r和晶粒大小 利用公式 s=6/rD進行比表面計算 Page ? 40 小角 X射線衍射 在納米多層膜材料中，兩薄膜層材料反復重疊，形成調制界面 周期良好的調制界面，產(chǎn)生相干衍射，形成明銳的衍射峰 對于制備良好的 小周期納米多層膜 可以用小角度 XRD方法測定其調幅周期 大周期多層膜調制界面的 XRD衍射峰因衍射角度太小而無法觀察 Page ? 41 納米 TiN/AlN薄膜樣品的 XRD譜 S2樣品在 2?=176。 ，為 101晶面 當采用 Cu K?，波長為，衍射角的 2?為 176。 ， ? 代如公式有 D?MnO2（ 131） = 260 197。 ）； ?為衍射峰的寬度（弧度單位）； k為常數(shù)（與 ?的定義有關， ?用積分寬計算晶粒大小時， k = 1； ?用半高寬計算時，則取 k = 。 3=*1024cm3 ? 將密度 D=? 原子量 M= ? Na=*1023 ? 代入公式（ 6） ? 可計算出單胞原子數(shù)為 Z = 4 3. 平均晶粒尺寸測定 D = k?? / ??cos? ( 謝樂方程 ） 其中： D為晶粒的尺寸（單位為 197。 應用實例 ? 實驗測得金屬銅的衍射線如下 ? ???????????????????? ? No. ? sin? sin2? h2+k2+l2 h k l ? ? 1 22 3 1 1 1 ? 2 4 2 0 0 ? 3 8 2 2 0 ? 4 11 3 1 1 ? 5 12 2 2 2 ? 6 16 4 0 0 ? 7 19 3 3 1 ? 8 20 4 2 0 ? ________________________________________ 由此可得出金屬銅點陣類型為面心立方結構 ? 代入公式 ? 可計算出晶胞邊長 a = 197。 圖 5 X射線衍射法對礦物中藥磁石的物相分析圖譜 2. 晶胞參數(shù)與結構的測定 由布拉格方程 2 d sin? = ? 推得 sin2?= ( ? / 2 ) 2
環(huán)評公示相關推薦
鄂ICP備17016276號-1