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x射線光電子能譜(xps)-文庫吧資料

2025-01-09 05:52本頁面
  

【正文】 d軌道上有未成對電子存在的 3s能級表現(xiàn)有強(qiáng)的分裂 。 相應(yīng)于每個終態(tài)在 XPS譜圖上將有一條譜線對應(yīng)這就是 多重分裂 。 (2). 多重分裂 (靜電分裂 ) 當(dāng)原子或自由離子的價(jià)殼層 擁有未配對的自旋電子 ,即當(dāng) 體系的總角動量 J不為零時 。 (1). 弛豫效應(yīng) ? 光電離過程中由于體系電子結(jié)構(gòu)的重新調(diào)整 , 弛豫作用使得 XPS譜線向低結(jié)合能方向移動 。這些復(fù)雜現(xiàn)象的出現(xiàn)同體系的電子結(jié)構(gòu)密切相關(guān) 。 ( 5) .結(jié)合能與 氧化 還原 結(jié)合能的影響因素 終態(tài)效應(yīng) ? 由電離過程中引起的各種激發(fā) 產(chǎn)生的不同體系終態(tài)對電子結(jié)合能 的影響稱為 終態(tài)效應(yīng) 。 ? 對大多數(shù)樣品而言 ΔEb僅以初態(tài)效應(yīng)項(xiàng)表示是足夠的 。 所謂某原子所處化學(xué)環(huán)境不同有兩方面的含義 : ? 與它相結(jié)合的元素種類和數(shù)量不同; ? 原子具有不同的化學(xué)價(jià)態(tài) 。 Eb = Ef(n1)Ei(n) 結(jié)合能的影響因素 ? 初態(tài) 即是光電發(fā)射之前原子的基態(tài)如果原子的初態(tài)能量發(fā)生變化 , 例如與其它原子化學(xué)成鍵則此原子中的電子結(jié)合能 Eb就會改變 。 ? Eb可用 XPS直接實(shí)驗(yàn)測定 ,也可用量子化學(xué)從頭計(jì)算方法進(jìn)行計(jì)算。 ea 結(jié)合能與化學(xué)位移 Vacumm Level Fermi Level Lowest state of energy Eb 216。 一、 X射線光電子能譜產(chǎn)生過程 Xray Beam X射線穿透深度~1mm,整個區(qū)域的電子將被激發(fā)。 ? 它是以 X射線為探針檢測由表面出射的光電子來獲取表面信息的 , 這些光電子 主要來自表面原子的內(nèi)殼層攜帶有表面豐富的物理和化學(xué)信息 。X射線光電子能譜 (XPS) 202310 表面分析 The Study of the OuterMost Layers of Materials (100 197。). n Electron Spectroscopies XPS: X光電子能譜 AES: 俄歇電子能譜 EELS:電子能量損失譜 福州大學(xué)測試中心 XPS儀器簡介 X射線光光電子能譜 (XPS) XPS 的物理基礎(chǔ) 結(jié)合能與化學(xué)位移 XPS 譜的一般特性 XPS在不同領(lǐng)域的應(yīng)用 XPS光譜儀及新技術(shù)發(fā)展介紹 1. H. Hertz, Ann. Physik 31,983 (1887). 2. A. Einstein, Ann. Physik 17,132 (1905). 1921 Nobel Prize in Physics. 3. K. Siegbahn, Et. Al.,Nova Acta Regiae ., Ser. IV, Vol. 20 (1967). 1981 Nobel Prize in Physics. ? XPS technique is based on Einstein’s idea about the photoelectric effect, developed around 1905. ? The concept of photons was used to describe the ejection of electrons from a surface when photons were impinged upon it ? During the mid 1960’s Dr. Siegbahn and his research group developed the XPS technique. ? In 1981, Dr. Siegbahn was awarded the Nobel Prize in Physics for the development of the XPS technique. XPS Background 什么是光電子能譜 ? ? XPS (Xray Photoelectron Spectroscopy)又被稱為 ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)。 ? XPS作為表面分析技術(shù)的普及歸因于其高信息量 、 其對廣泛樣品的適應(yīng)性以及其堅(jiān)實(shí)的理論基礎(chǔ) 。 Xray excitation area ~1x1 cm2. Electrons are emitted from this entire area Electrons are extracted only from a
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