【正文】
h=Planck constant ( x 1034 J s ), v frequency (Hz) BE=電子鍵能或結(jié)合能、電離能( Electron Binding Energy)KE=電子動(dòng)能 ( Electron Kiic Energy)?spec= 譜學(xué)功函數(shù)或電子反沖能 ( Spectrometer Work Function)譜學(xué)功函數(shù)極小,可略去, 得到 KE = hv BE :3 元素不同,其特征的 電子鍵能不同。表面幾個(gè)原子層進(jìn)行分析。而由于電射線穿透大,造成分析區(qū)太深。展。)。是研究表面成分的重要手段。第五章 X射線光電子能譜 (Xray Photoelectron Spectroscopy (XPS) ESCA)一 概述n 表面分析技術(shù) (Surface Analysis)是對(duì)材料外層 (the OuterMost Layers of Materials (100 ?))的研究的技術(shù) 。 包括:n 1 電子譜學(xué) (Electron Spectroscopies) X射線光電子能譜 XPS: Xray Photoelectron Spectroscopy 俄歇能譜 AES: Auger Electron Spectroscopy 電子能量損失譜 EELS: Electron Energy Loss Spectroscopyn 2 離