【正文】 聲檢測(cè)報(bào)告，編制超聲波檢測(cè)工藝。、探頭和系統(tǒng)性能 采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，現(xiàn)使用PXUT350C數(shù)字機(jī)?！?0MHz，儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級(jí)每檔不大于2dB，其精度為任意相鄰12dB的誤差在177。1 dB以內(nèi)，最大累計(jì)誤差不超過1dB。水平線性誤差不大于1%，垂直線性誤差不大于5%。其余指標(biāo)應(yīng)符合JB/T10061的規(guī)定。 探頭,且任一邊長(zhǎng)不大于25mm。，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D / 0第 2 頁共 40 頁177。10%。（在基準(zhǔn)靈敏度下）：對(duì)于頻率為5MHz的探頭，寬度不大于10mm；，寬度不大于15mm。，斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于6dB。，檢測(cè)時(shí)機(jī)及抽檢率的選擇等應(yīng)按法規(guī)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的要求進(jìn)行。，應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。所有影響超聲檢測(cè)的銹蝕、飛濺和污物等都應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測(cè)結(jié)果的正確性和完整性，否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)奶幚怼? 為確保檢測(cè)時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。 探頭的掃查速度不應(yīng)超過150mm/s。 掃查靈敏度應(yīng)高于基準(zhǔn)靈敏度。 采用機(jī)油或漿糊或水。 a)耦合補(bǔ)償。在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。 b)衰減補(bǔ)償。在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)材質(zhì)衰減引起的檢測(cè)靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償。 c)曲面補(bǔ)償。對(duì)探測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊，通過對(duì)比試驗(yàn)進(jìn)行曲率補(bǔ)償。 校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定的和最大的反射信號(hào)。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D/ 0第 3 頁共 40 頁 每隔三個(gè)月至少對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測(cè)定，測(cè)定方法按JB/T10061的規(guī)定。 新購探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說明書，新探頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測(cè)定。測(cè)定應(yīng)按JB/T10062的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行，并滿足要求?！碧筋^系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度?！碧筋^系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。 遇有下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核： a) 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生變化時(shí)； b)檢測(cè)人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)； c)連續(xù)工作4h以上時(shí)； d)工作結(jié)束時(shí)。 a)每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過掃描線讀數(shù)的10％，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。 b)每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。一般對(duì)距離－波幅曲線的校核不應(yīng)少于3點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB,則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。、復(fù)核的有關(guān)注意事項(xiàng) 校準(zhǔn)、復(fù)核和對(duì)儀器進(jìn)行線性檢測(cè)時(shí)，任何影響儀器線性的控制器（如抑制或?yàn)V波開關(guān)等）都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。標(biāo)準(zhǔn)試塊有： a)鋼板用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CBⅠ、CBⅡ。 b)鍛件用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CSⅠ、CSⅡ、CSⅢ。 c)焊接接頭用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CSKIA、CSKⅡA、CSKⅢA、CSKⅣA。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D / 0第 4 頁共 40 頁，該材料用直探頭檢測(cè)時(shí)，不得有大于或等于φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。，并應(yīng)經(jīng)計(jì)量部門檢定合格。，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測(cè)，試塊的厚度應(yīng)由其最大厚度來確定。、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合JB/。、完整，并經(jīng)相應(yīng)責(zé)任人員簽字認(rèn)可。：工件名稱、編號(hào)、探傷部位、材質(zhì)、規(guī)格、表面情況、探傷方法、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)、儀器、探頭、試塊、耦合劑、探傷比例、探傷靈敏度、缺陷情況及評(píng)定、檢測(cè)人員、日期。：工件名稱、編號(hào)、探傷部位、檢驗(yàn)范圍、探傷比例、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)、缺陷情況、返修情況、探傷結(jié)論、檢驗(yàn)人員、審核人員等。檢測(cè)結(jié)論為不合格的工件，應(yīng)予返修。返修后，應(yīng)按原探傷驗(yàn)收條件進(jìn)復(fù)探驗(yàn)收。、零部件的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí) 本條適用于板厚為6mm～250mm的碳素鋼、低合金鋼板材的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。 奧氏體鋼板材、鎳及鎳合金板材以及雙相不銹鋼板材的超聲檢測(cè)也可參照?qǐng)?zhí)行。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D / 0第 5 頁共 40 頁 表1 板材超聲檢測(cè)探頭選用板厚，（mm）采用探頭公稱頻率，MHZ探頭晶片尺寸6～20雙晶直探頭5晶片面積不小于150mm220～40單晶直探頭5φ14～φ20mm40～250單晶直探頭φ20～φ25mm（規(guī)范性附錄）的要求。，采用的CB I標(biāo)準(zhǔn)試塊如圖1所示。，CB II標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)符合圖2和表2的規(guī)定。試塊厚度應(yīng)與被檢鋼板厚度相近。經(jīng)合同雙方同意，也可采用雙晶直探頭進(jìn)行檢測(cè)。 圖1 CBⅠ標(biāo)準(zhǔn)試塊壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D / 0第 6 頁共 40 頁 圖2 CBⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊 表2 CBⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊 mm試塊編號(hào)被檢鋼板厚度檢測(cè)面到平底孔的距離S試塊厚度TCBⅡ－1CBⅡ－2CBⅡ－3CBⅡ－4CBⅡ－5CBⅡ－620～4040～6060～100100～160160～200200～25015305090140190≥20≥40≥65≥110≥170≥220，用CBⅠ試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50％，再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。，應(yīng)將CBⅡ試塊φ5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50％壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D / 0第 7 頁共 40 頁作為基準(zhǔn)靈敏度。，也可取鋼板無缺陷部位的第一次底波來校準(zhǔn)靈敏度。 可選鋼板的任一軋制表面進(jìn)行檢測(cè)。若檢測(cè)人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上有要求時(shí)，也可選鋼板的上、下兩軋制表面分別進(jìn)行檢測(cè)。耦合方式可采用直接接觸法。 a)探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距不大于100mm的平行線進(jìn)行掃查。在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（當(dāng)板厚超過100mm，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)應(yīng)作100％掃查，掃查示意圖見圖3； b)根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查 圖3 探頭掃查示意圖，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷： a)缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的50％，即F1≥50％； b)當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高未達(dá)到滿刻度，此時(shí)，缺陷第一次反射波（F1）波高與底面第一次反射波（B1）波高之比大于或等于50％，即B1100％，而F1/B1≥50%； c)底面第一次反射波（B1）波高低于滿刻度的50％，即B150％。 a)檢出缺陷后，應(yīng)在它的周圍繼續(xù)進(jìn)行檢測(cè)，以確定缺陷的延伸。 b)用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25％或使缺陷第一次反射波壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D / 0第 8 頁共 40 頁高與底面第一次反射波高之比為50％。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。 c)用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭使缺陷波第一次反射波高下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25％或使缺陷第一次反射波與底面第一次反射波高之比為50％。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。 d) c)中缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭（單直探頭或雙直探頭）使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50％。此時(shí)探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。 e)當(dāng)板厚較薄，確需采用第二次缺陷波和第二次底波來評(píng)定缺陷時(shí)，基準(zhǔn)靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的第二次反射波來校準(zhǔn)。單個(gè)缺陷按其指示的最大長(zhǎng)度作為該缺陷的指示長(zhǎng)度。若單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度小于40mm時(shí)，可不作記錄。 a)一個(gè)缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積。 b)多個(gè)缺陷相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰較小缺陷的指示長(zhǎng)度（取其較大值）時(shí)，以各缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷指示面積。 c)指示面積不計(jì)的單個(gè)缺陷見表3。 表3 鋼板質(zhì)量分級(jí)等級(jí)單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度mm單個(gè)缺陷指示面積cm2在任一1m1m檢測(cè)面積內(nèi)存在的缺陷面積百分比 ％以下單個(gè)缺陷指示面積不計(jì) cm2I8025≤39II10050≤515III120100≤1025Ⅳ150100≤1025Ⅴ超 過 Ⅳ 級(jí) 者注：Ⅳ級(jí)鋼板主要用于與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的制造安裝。 在任一1m1m檢測(cè)面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來確定。如鋼板面積小于1m1m，可按比例折算。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D / 0第 9 頁共 40 頁。（板厚大于100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)，缺陷的指示長(zhǎng)度大于或等于50mm時(shí)，應(yīng)評(píng)為Ⅴ級(jí)。，檢測(cè)人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí)，應(yīng)評(píng)為Ⅴ級(jí)。，可采用橫波檢測(cè)。（規(guī)范性附錄）。(1)操作者應(yīng)具有一定縱波探傷經(jīng)驗(yàn)的人擔(dān)任。(2)超聲充水探頭的技術(shù)參數(shù)應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。(3)儀器的探頭的組合靈敏度應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。(4)靈敏度的調(diào)節(jié)和單直探頭一樣在φ5100100的標(biāo)準(zhǔn)試塊上調(diào)節(jié)靈敏度大小按標(biāo)準(zhǔn)第一底波（或者第二次、第三次）調(diào)到50%在實(shí)際探測(cè)時(shí)可適當(dāng)提高靈敏度。(5)用充水探頭探測(cè)鋼板時(shí)應(yīng)考慮到介面波與鋼板底面重合，即重合波探傷發(fā)，因此超聲充水探頭層高度的調(diào)節(jié)甚為重要，并應(yīng)有自動(dòng)控制水層高度的裝置，這樣介面波與底面波才能有效重合，其計(jì)算公式如下：h=CL水/CL鋼δ h 層高度，δ 鋼板厚度，CL水水中縱波聲速，CL鋼鋼中縱波聲速若探測(cè)厚度較小的鋼板，考慮到探頭盲區(qū)影響，可提高水層高度h，因此用下式計(jì)算：h=CL水/CL鋼nδ n:（即一次、二次、三次、四次重合法） 本條適用于碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。 本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料鍛件的超聲檢測(cè)，也不適用于內(nèi)，外徑之比小于80％的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測(cè)。 雙晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用5MHz。探頭晶片面積不小于150mm2。單晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用2MHz～5MHz，探頭晶片一般為Ф14～Ф25mm。 。 采用CSⅠ試塊，其形狀和尺寸應(yīng)符合圖4和表4的規(guī)定。 a）工件檢測(cè)距離小于45mm時(shí)，應(yīng)采用CSⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D / 0第 10 頁共 40 頁 b）CSⅡ試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合圖5和表5的規(guī)定。圖4 CS I 標(biāo)準(zhǔn)試塊表4 CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸 mm試塊序號(hào)CSⅠ－1CSⅠ2CSⅠ3CSⅠ4L50100150200D50608080 圖5 CSⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊 壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D / 0第 11 頁共 40 頁 表5 CSⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸