【正文】 第一個(gè)標(biāo)記點(diǎn)。（4）選定另一較深的孔，找到最大反射波高，調(diào)節(jié)A閘門，選取該波，按回車，即獲得該標(biāo)定點(diǎn)與以前標(biāo)定點(diǎn)的連線。（5）依次探測(cè)其他橫孔，重復(fù)（3）步驟，直至整個(gè)探測(cè)范圍，這樣，就制作出一條基準(zhǔn)DAC曲線。若較深孔回波較低，則可通過(guò)ΔdB調(diào)節(jié)，升高回波，這不影響DAC曲線的形狀。（6）完成全部孔輸入后，把光標(biāo)移到A門外，按下頁(yè)鍵，得到一組三條DAC曲線。（7）已制作的DAC曲線可隨探傷條件存儲(chǔ)。 DAC曲線調(diào)用對(duì)已存儲(chǔ)的DAC曲線，到探傷現(xiàn)場(chǎng)可直接調(diào)用。 存儲(chǔ)功能根據(jù)需要，對(duì)工藝條件（含DAC曲線）進(jìn)行存儲(chǔ)，也可對(duì)需記錄的波形進(jìn)行存儲(chǔ)。 文件打?。?）現(xiàn)場(chǎng)打印在探傷作業(yè)中，如遇缺陷需打印，先按凍結(jié)鍵，將波形固定。可實(shí)現(xiàn)打印。（2）回放打印對(duì)存儲(chǔ)的波形，通過(guò)回放顯示需打印的波形，根據(jù)需要可打印。 檢測(cè)結(jié)束，關(guān)閉電源，拆卸電纜線和回收儀器。 其他要求。15超聲波探傷儀系統(tǒng)自校 本工藝規(guī)定了超聲波探傷儀系統(tǒng)自校人員的資格、所用器材、檢測(cè)技術(shù)及操作步驟。 本工藝依據(jù)JB/，滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的要求。適用于本單位對(duì)超聲波探傷儀系統(tǒng)進(jìn)行的自校。 采用按規(guī)定條件來(lái)比較測(cè)試超聲波探傷儀系統(tǒng)特定參數(shù)及使用性能的方法進(jìn)行校驗(yàn)。 檢測(cè)人員 檢測(cè)人員必須經(jīng)考核取得國(guó)家有關(guān)部門頒發(fā)的與其工作相適應(yīng)的Ⅱ級(jí)或以上資格證書，方可從事超聲波探傷儀系統(tǒng)的自校工作及簽發(fā)自校記錄。. 自校條件 針對(duì)所適用的超聲波探傷儀。 采用校驗(yàn)探頭。 采用將用于超聲檢測(cè)的探頭。 CSKⅠA試塊、CSKⅢA試塊及其他相關(guān)試塊。. 操作步驟 垂直線性誤差的測(cè)量（1） 測(cè)試步驟（a） 連接探頭并固定在試塊上。調(diào)節(jié)探傷儀，使熒光屏上顯示的圖形中，孔波幅度恰為垂直刻度的100%，且衰減器至少有30dB的衰減器余量。（b） 調(diào)節(jié)衰減器，依次記下每衰減2dB孔波幅度的百分?jǐn)?shù)，直到26dB。然后將孔波幅度的實(shí)測(cè)值與表1中的理論值相比較，取最大正偏差值d（+）與最大負(fù)偏差值d（—）之絕對(duì)值的和為垂直線性誤差Δd，如式（1）：Δd=︱d（+）︱+︱d（—）︱………………………………………（1）式中：Δd——垂直線性誤差，%。表1衰減量（dB）02468101214161820222426波高理論值（%）100（c） 將底波幅度調(diào)為垂直刻度的100%，重復(fù)上條的測(cè)試。（d） 在工作頻率范圍內(nèi)，改用不同頻率的探頭，重復(fù)上述兩項(xiàng)的測(cè)試。 動(dòng)態(tài)范圍的測(cè)量（1） 測(cè)試步驟（a） 。（b） 調(diào)節(jié)衰減器，讀取孔波幅度自垂直刻度100%下降至剛能辨認(rèn)之最小值時(shí)（衰減器）的調(diào)節(jié)量，定為探傷儀在該探頭所給定的工作頻率下的動(dòng)態(tài)范圍。（c） 按（a）和（b）項(xiàng)的方法，測(cè)試不同回波、不同頻率時(shí)的動(dòng)態(tài)范圍。 水平線性誤差的測(cè)量（1） 測(cè)試步驟（a）連接探頭并根據(jù)被測(cè)探傷儀中的掃描范圍檔級(jí)的要求將探頭固定于適當(dāng)厚度的試塊上，再調(diào)節(jié)探傷儀，使顯示多次無(wú)干擾底波。（b） 在不具有“延遲掃描”功能的探傷儀中，在分別將底波調(diào)到某一設(shè)定幅度（如垂直刻度的80%）的條件下，使第一次底波B1的前沿對(duì)準(zhǔn)水平刻度“2”，第五次底波B5的前沿對(duì)準(zhǔn)水平刻度“10”；然后在依次將每次底波調(diào)到上述相同幅度時(shí)，分別讀取第二、三、四次底波前沿與水平刻度“4”、“6”、“8”的偏差Ln，然后取其最大偏差Lmax按式（2）計(jì)算水平線性ΔL。ΔL=（︱Lmax︱/）100% ……………………………………（2）（c） 在具有“延遲掃描”功能的探傷儀中,，將底波B1前沿對(duì)準(zhǔn)水平刻度“0”,底波B6前沿對(duì)準(zhǔn)水平刻度“10”,然后讀取第二至第五底波中的最大偏差值Lmax，再按式（3）計(jì)算水平線性誤差ΔL。ΔL=（︱Lmax︱/b）100%…………………………………………（3）（d） 在探傷儀掃描范圍的每個(gè)檔級(jí)，至少應(yīng)測(cè)試一種掃描速度下的水平線性誤差。 探傷靈敏度余量的測(cè)量（1） 測(cè)試步驟（a） 被測(cè)探傷儀的（發(fā)射強(qiáng)度）置于產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的調(diào)節(jié)度上。（b） 連接石英標(biāo)定探頭，將探傷儀的靈敏度和掃描范圍調(diào)至最大，然后調(diào)節(jié)衰減器或增益，使電噪聲電平≤10%，并記下此時(shí)（衰減器）的讀數(shù) S0。（c） 將石英標(biāo)定探頭置于CSKⅠA標(biāo)準(zhǔn)試塊上厚度100mm處并使底波最高，調(diào)節(jié)衰減器，使底波B1幅度恰為垂直刻度的50%，記下此時(shí)（衰減器）的讀數(shù)S1，則探傷靈敏度余量按式（3）計(jì)算。 SQ= S1—S0 …………………………………………………（3）式中：SQ——石英標(biāo)定探頭的探傷靈敏度余量，dB。（d） 連接常用直探頭并置于CSⅠ—2試塊上，移動(dòng)探頭，獲得平底孔最高回波，調(diào)節(jié)衰減器使孔波幅度為垂直刻度的50%，記下此時(shí)衰減器的讀數(shù)S2,則探傷靈敏度余量按式（4）計(jì)算。 Sp= S2—S0 …………………………………………………（4）式中：Sp——常用直探頭的探傷靈敏度余量，dB。 始脈沖寬度（1） 測(cè)試步驟按規(guī)定調(diào)好靈敏度并校準(zhǔn)“0”點(diǎn)，然后讀出此始波前沿始點(diǎn)至其后沿和垂直刻度20%線交點(diǎn)的水平距離Wn，此寬度即為始脈沖寬度。 分辨力的測(cè)量（1） 遠(yuǎn)場(chǎng)直探頭分辨力的測(cè)量（a） 測(cè)量步驟a. 將待測(cè)直探頭置于CSK—ⅠA試塊上端面正對(duì)階梯槽處，使熒光屏上出現(xiàn)89100毫米階梯面的三個(gè)回波A、B、C，使三個(gè)回波的波峰處于大致同一水平位置，記下此時(shí)衰減器讀數(shù)h1。b. 調(diào)節(jié)衰減器，使A、B間的波谷升至波峰位置，記下衰減器的讀數(shù)h2。則儀器探頭的分辨力為： Δh= h1 h2（2） 斜探頭分辨力的測(cè)量（a） 測(cè)量步驟—ⅠA試塊上端面正對(duì)階梯孔處，使熒光屏上出現(xiàn)φ50、φ4φ40毫米階梯面的三個(gè)回波A、B、C，使三個(gè)回波的波峰處于大致同一水平位置，記下此時(shí)衰減器讀數(shù)H1。，使A、B間的波谷升至波峰位置，記下衰減器的讀數(shù)H2。則儀器探頭的分辨力為： ΔH= H1 H2 探頭前沿距離l0的測(cè)量（1） 測(cè)量步驟 將斜探頭置于CSK—ⅠA試塊上端面正對(duì)R100的圓弧面，獲得最高回波時(shí)，用鋼板尺量得探頭前端面至試塊圓弧面?zhèn)榷私堑木嚯x，即為前沿距離l0。 探頭K值的測(cè)量（1） 測(cè)量步驟將斜探頭置于CSK—ⅠA試塊上端面正對(duì)φ50、φ4φ40的圓弧面，獲得最高回波時(shí)，用鋼板尺量得探頭前端面至試塊階梯面?zhèn)榷私堑木嚯xl1，探頭的K值即為： K=（l1+35 l0）/30 探頭主聲束的偏離的測(cè)量（1） 斜探頭主聲束水平偏離的測(cè)量（a） 測(cè)量步驟將斜探頭置于CSK—ⅠA試塊的側(cè)面上正對(duì)試塊的棱角處，前后、左右及轉(zhuǎn)角移動(dòng)，獲得最高回波，固定探頭。做出斜探頭前端面的垂直平分線，交于試塊的棱角于A點(diǎn)，聲束水平交線為OA。做出過(guò)A點(diǎn)的垂線，AB。則用量角器量出角OAB的讀數(shù)即為主聲束的水平偏離角α。（2） 斜探頭的垂直方向的偏離的測(cè)量（a） 測(cè)量步驟將斜探頭置于CSK—Ⅰ，前后、左右及轉(zhuǎn)角移動(dòng)，看能否獲得唯一的明顯的最高回波位置。若有兩個(gè)或兩個(gè)以上的最高回波，或最高回波位置處于一個(gè)較寬的區(qū)域，則說(shuō)明該探頭垂直方向存在著雙峰。. 自校記錄應(yīng)包括 設(shè)備儀器名稱、編號(hào)、型號(hào)。 檢測(cè)方法。 檢測(cè)條件。 操作方法。 檢測(cè)結(jié)果。. 自校周期 新探頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值和主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測(cè)定。 使用儀器—斜探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。 使用儀器—直探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。 水平線性和垂直線性的自校周期為每3個(gè)月一次。 存檔檢測(cè)資料應(yīng)歸檔交資料室保管，保存時(shí)間不少于7年。16 超聲測(cè)厚儀操作規(guī)程 適用范圍本規(guī)程適用于本單位人員操作超聲波測(cè)厚儀探傷儀。 操作人員。 測(cè)厚操作程序 測(cè)量準(zhǔn)備將探頭插頭插入主機(jī)探頭插座中，按ON鍵開機(jī)，全屏幕顯示數(shù)秒后顯示聲速（5900mm/s）。此時(shí)可開始測(cè)量。 校準(zhǔn)在每次更換探頭、更換電池及環(huán)境溫度變化較大時(shí)應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)。此步驟對(duì)保證測(cè)量準(zhǔn)確度十分關(guān)鍵。如有必要，可重復(fù)多次。（1） 按ZERO鍵，進(jìn)入校準(zhǔn)狀態(tài)。（2） 在隨機(jī)試塊上涂耦合劑，將探頭與隨機(jī)試塊耦合，屏幕顯示的橫線逐條消失，即校準(zhǔn)完畢。 測(cè)量厚度（1）將耦合劑涂于被測(cè)處，將探頭與被測(cè)材料耦合即可測(cè)量，屏幕將顯示被測(cè)材料厚度。拿開探頭后，厚度值保持，耦合標(biāo)志消失。（2）當(dāng)探頭與被測(cè)材料耦合時(shí)，顯示耦合標(biāo)志。如耦合標(biāo)志閃爍或不出現(xiàn)說(shuō)明耦合不好。（3）當(dāng)材料實(shí)際聲速與5900m/s不同時(shí)，按下式計(jì)算實(shí)際厚度值：H0=HV0/5900式中：H—5900m/s聲速下測(cè)得厚度值。 V0—材料實(shí)際聲速值。 H0—材料實(shí)際厚度值。 低電壓指示如果屏幕顯示BATT標(biāo)志,說(shuō)明電池電壓已低落,應(yīng)及時(shí)更換電池后繼續(xù)使用。 自動(dòng)關(guān)機(jī)如果兩分鐘內(nèi)不進(jìn)行任何操作，將自動(dòng)關(guān)機(jī)。 測(cè)量技術(shù)（1）清潔表面測(cè)量前應(yīng)清除被測(cè)物體表面所有的灰塵、污垢及銹蝕物，鏟除油漆等覆蓋物。（2）降低粗糙度過(guò)分粗糙的表面會(huì)引起測(cè)量誤差，甚至儀器無(wú)讀數(shù)。測(cè)量前通過(guò)磨、拋、銼等方法應(yīng)盡量使被測(cè)材料表面光滑，還可通過(guò)使用高粘度耦合劑。（3）圓柱形表面檢件的測(cè)厚（a）選擇探頭隔層板與被測(cè)材料軸線之間的夾角至關(guān)重要。測(cè)量時(shí)，使探頭與被檢材料耦合，探頭串音隔層板與被測(cè)材料軸線平行或垂直，沿與被測(cè)材料軸線方向垂直地緩慢搖動(dòng)探頭，屏幕上的讀數(shù)將有規(guī)則的變化，選擇讀數(shù)中的最小值，作為材料的準(zhǔn)確厚度。（b）選擇探頭串音隔層板與被測(cè)材料軸線交角的方向依據(jù)取決于材料的曲率。直徑較大的管材,選擇探頭串音隔層板與管子軸線垂直,直徑較小的管材,則選擇與管子軸線平行和垂直兩種測(cè)量方法進(jìn)行測(cè)量,取讀數(shù)中的最小值作為測(cè)量厚度。（4）復(fù)合外形當(dāng)測(cè)量復(fù)合外形的材料（如管子彎頭處）時(shí)可采用上述方法測(cè)量。需注意要進(jìn)行二次測(cè)量，分別讀取探頭串音隔層板與軸線垂直與平行的兩個(gè)數(shù)值，其較小的一個(gè)數(shù)作為作為該檢件在測(cè)量點(diǎn)處的厚度。（5）不平行表面的影響被檢件兩測(cè)量面須平行或同軸，否則將引起測(cè)量誤差或無(wú)讀數(shù)顯示。（6）材料溫度的影響由于材料的聲速受到溫度的影響，故材料聲速的變化也將影響到材料的測(cè)厚。若對(duì)測(cè)量精度要求較高時(shí)，可用相同材料的試塊在不同溫度條件下分別測(cè)量，計(jì)算出溫度對(duì)該材料的測(cè)量誤差，可用此溫度誤差的計(jì)算值來(lái)對(duì)被檢鋼件在溫差較大的環(huán)境下進(jìn)行的厚度測(cè)量值進(jìn)行校正。（7）參考試塊為了確保測(cè)量精度，可用與被檢件材質(zhì)相同或相近的材料制成的試塊來(lái)進(jìn)行校準(zhǔn)。測(cè)厚試塊可以自制，但需用千分尺校核制作精度以滿足測(cè)量要求。（a）對(duì)于薄材料，在它的厚度接近于探頭測(cè)量下限時(shí)，不要測(cè)量低于下限厚度的材料。（b）如果被檢件的厚度范圍是可估計(jì)的，那么試塊的厚度應(yīng)選上限值。（c）由于鍛件和鑄件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)具有方向性，方向性不同將引起聲速有所改變，所以，試塊應(yīng)具有與被測(cè)材料相同的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，使超聲波在試塊中的傳播方向與被檢件中的方向相同。（d）若被檢件的聲速未知，可用以下公式算出被測(cè)件的厚度：H0=（h0/ h1）H1式中：H0—被檢物體實(shí)際厚度。H1—被檢物體用測(cè)厚儀測(cè)得的厚度。 h0—試塊的實(shí)際厚度。h1—試塊用測(cè)厚儀測(cè)得的厚度。 測(cè)量誤差的預(yù)防（1）超薄材料的測(cè)量當(dāng)測(cè)量超薄材料時(shí)，有時(shí)會(huì)發(fā)生一種“雙重折射”的錯(cuò)誤結(jié)果，它的結(jié)果為顯示讀數(shù)是實(shí)際厚度的二倍；另一種錯(cuò)誤結(jié)果被稱為“脈沖包絡(luò)、循環(huán)跳躍”的現(xiàn)象，其結(jié)果是測(cè)得值大于實(shí)際厚度，為防止這類錯(cuò)誤，測(cè)臨界探頭使用下限的材料時(shí)應(yīng)重復(fù)測(cè)量核對(duì)。（2）有銹斑、腐蝕凹坑等材料的測(cè)量被測(cè)材料另一表面的銹斑凹坑等將引起讀數(shù)無(wú)規(guī)則的變化，在極端情況下甚至無(wú)讀數(shù)。當(dāng)發(fā)現(xiàn)凹坑或感到懷疑時(shí)，此區(qū)域的測(cè)量應(yīng)特別注意，可選擇探頭串音隔層板不同角度的定位來(lái)作多次測(cè)試。（3） 探頭的磨損探頭表面為丙烯樹脂，長(zhǎng)期使用會(huì)使粗糙度增大，靈敏度下降，可用砂紙或油石打磨探頭表面使其平滑并保證平行度。如仍不穩(wěn)定，則需更換探頭。（4）反常的厚度讀數(shù)操作者應(yīng)具備辨別反常讀數(shù)的能力，銹斑、腐蝕凹坑、被測(cè)材料內(nèi)部缺陷都將引起反常讀數(shù),可參照上述處理方法進(jìn)行處理。 注意事項(xiàng)（1）試塊的清潔試塊使用時(shí)應(yīng)均勻的涂抹耦合劑，使用完畢后應(yīng)擦拭干凈，均勻涂抹防銹油。當(dāng)再次使用時(shí)，應(yīng)將防銹油擦拭干凈。（2）機(jī)殼的清潔酒精、有機(jī)試劑對(duì)機(jī)殼尤其是視窗有腐蝕作用，故清洗時(shí)，用少量清水輕輕擦拭即可。（3）探頭的保護(hù)（a） 探頭表面為丙烯樹脂，對(duì)粗糙表面的重劃很敏感，因此在使用中應(yīng)輕按。測(cè)粗糙表面時(shí)，盡量減少探頭在工件表面的劃動(dòng)。（b） 被測(cè)表面的溫度不應(yīng)高于60℃，否則探頭將無(wú)法使用。（c） 拔探頭時(shí)，應(yīng)握住插頭活動(dòng)外套沿軸向用力，不可旋轉(zhuǎn)探頭，否則易損壞電纜線。（4）電池的更換出現(xiàn)低電壓指示標(biāo)志后，應(yīng)及時(shí)更換電池，按下述方式更換：（a） 打開電池艙蓋。（b） 取出電池，放入新電池，注意極性。儀器長(zhǎng)時(shí)間不用應(yīng)將電池取出，以免泄露。（5）嚴(yán)格避免碰撞、潮溫等。謝謝大家！151 / 151