【正文】 11 在用承壓設(shè)備超聲檢測專用工藝 范圍本工藝適用于在用承壓設(shè)備超聲檢測。 上述評定應(yīng)獨(dú)立進(jìn)行。 質(zhì)量分級 單個(gè)缺陷的質(zhì)量分級執(zhí)行JB/。 缺陷記錄,記錄當(dāng)量直徑大于φ2㎜的單個(gè)缺陷的波幅和位置。 缺陷當(dāng)量的確定 一般應(yīng)采用距離—波幅曲線或計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量。 。應(yīng)按螺旋線或圓周進(jìn)行掃查，行程應(yīng)有重疊，掃查面應(yīng)包括整個(gè)圓周面。 檢測方法鍋爐、壓力容器及壓力管道落實(shí)坯件一般采用縱波檢測，盡可能檢測到工件的全體積。 探頭～5MHz的單晶直探頭或雙晶直探頭。10 承壓設(shè)備用鋼螺栓坯件超聲檢測專用工藝 范圍和一般要求。 單個(gè)缺陷點(diǎn)狀缺陷指示長度按5毫米計(jì)。 缺陷的評定 超過評定線的信號(hào)應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺陷特征，如有懷疑時(shí)，應(yīng)采取改變K值，觀察缺陷動(dòng)態(tài)波型并結(jié)合焊接工藝等進(jìn)行綜合分析。 R——管子外徑，毫米。（3）缺陷最大反射波幅位于Ⅰ區(qū)，如認(rèn)為有必要時(shí)，用評定線絕對靈敏度法測量其指示長度。 缺陷指示長度的測試按下述方法進(jìn)行：（1）缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn)，且位于Ⅱ區(qū)或Ⅱ區(qū)以上時(shí)，用定量線的絕對靈敏度法測量其指示長度。 缺陷位置測定應(yīng)以獲得缺陷最大反射波幅的位置為準(zhǔn)。 掃查方法 一般將探頭從對接焊接接頭兩側(cè)垂直于焊接接頭作鋸齒形掃查，探頭前后移動(dòng)距離應(yīng)符合要求，探頭左右移動(dòng)距離應(yīng)小于探頭晶片寬度的一半。評定線與定量線之間（包括評定線）為Ⅰ區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為Ⅱ區(qū)，判廢線及其以上區(qū)域?yàn)棰髤^(qū)，圖19 距離波幅曲線示意圖 不同管壁厚度的距離—波幅曲線靈敏度應(yīng)符合表6的規(guī)定。 選擇與實(shí)際工件曲率相對應(yīng)的對比試塊。 探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他雜質(zhì)，其表面粗糙度Ra≤,P=2TK。加工好曲率的探頭應(yīng)對其K值和前沿距離進(jìn)行測定，要求一次波至少掃查到焊接接頭根部。如有必要，也可采用其他K值的探頭。探頭主聲束偏離角不應(yīng)大于2176。 探頭 應(yīng)采用線聚集斜探頭和雙晶斜探頭，其性能應(yīng)能滿足檢測要求。（2）GS2適用于曲率半徑大于24㎜至35㎜的承壓設(shè)備管對接環(huán)向?qū)雍附咏宇^的檢測。 試塊 試塊的曲率應(yīng)與被檢管徑相同或相近，其曲率半徑之差不應(yīng)大于管徑的10%。9 鋼制承壓設(shè)備管子和管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^超聲檢測專用工藝 范圍 本工藝規(guī)定了承壓設(shè)備管子和壓力管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^的超聲檢測工藝。表4 T型焊接接頭直探頭距離波幅曲線的靈敏度評定線定量線判廢線φ2㎜平底孔φ3㎜平底孔φ4㎜平底孔 掃查方式。 斜探頭K值的確定用斜探頭在翼板外側(cè)進(jìn)行探測時(shí)，一般使用K1探頭；用斜探頭在腹板一側(cè)探測時(shí)，按JB/。 用斜探頭從翼板外側(cè)用直射法或一次反射法進(jìn)行探測，見圖16位置2和位置圖17位置2和位置圖18位置2和位置4?？蛇x擇其中一種或幾種方式組合實(shí)施檢測，檢測方式選擇有合同雙方商定，并應(yīng)考慮主要檢測對象和幾何條件的限制。 基本原則在選擇檢測面和探頭時(shí)應(yīng)盡考慮到檢測各類缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂直于該類焊接接頭結(jié)構(gòu)中的主要缺陷。8 承壓設(shè)備T型焊接接頭超聲檢測專用工藝 適用范圍～50mm的鍋爐、壓力容器全熔化焊T型焊接接頭的超聲檢測。 返修和復(fù)驗(yàn)不合格的缺陷予以返修。，均評為Ⅰ級。 等級評定：Ⅲ區(qū)的缺陷。(d)根據(jù)具體情況，亦可采用絕對靈敏度測長法。（2）缺陷指示長度ΔL的測定采用以下方法：（a）當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn)，且位于Ⅱ區(qū)時(shí)，用6dB法測其指示長度。 缺陷定量應(yīng)根據(jù)缺陷最大反射波幅確定缺陷當(dāng)量直徑φ或缺陷指示長度ΔL。，應(yīng)確定其位置、最大反射波幅和缺陷當(dāng)量。（5）在容器外壁采用斜探頭檢測,見圖14位置2。（3）在接管外壁采用斜探頭檢測,見圖14位置2。（2）在容器內(nèi)壁采用直探頭檢測,見圖15位置1。在選擇檢測面和探頭時(shí)應(yīng)考慮到各種類型的缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂直于該焊縫結(jié)構(gòu)中的主要缺陷。（c）當(dāng)檢測面半徑R大于W2/4且采用平面對比試塊調(diào)節(jié)儀器時(shí)，應(yīng)注意到熒光屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離弧長的差異，必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行修正。（a）根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭K值，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個(gè)焊縫。對于受幾何形狀限制，無法檢測的部位應(yīng)予以記錄。（4）為確定缺陷位置，方向和形狀，觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形和區(qū)分缺陷信號(hào)，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式。（3）對電渣焊焊接接頭還應(yīng)增加與焊縫中心線成45176。的左右轉(zhuǎn)動(dòng)。在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí)，還應(yīng)作10176。如下圖12所示。（5）掃查靈敏度不低于最大聲程處的評定線靈敏度。（4）工件的表面耦合損失和材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同，否則應(yīng)按JB/T47302005附錄F的規(guī)定進(jìn)行傳輸損失補(bǔ)償。（2）檢測橫向缺陷時(shí)，應(yīng)將各線靈敏度均提高6dB。 距離—波幅曲線的繪制—波幅曲線按所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線由評定線、定量線和判廢線組成。）（2）檢測頻率一般為2MHz～5MHz。）＞120～400～（60176。）＞46～120～（60176。）＞25～46～（68176。表3 推薦采用的斜探頭K值板厚T,mmK值6～25～（72176。（角度）(1)斜探頭的K值選取參照J(rèn)B/T47302005標(biāo)準(zhǔn)的具體規(guī)定。（3）去除余高的焊縫，應(yīng)將余高打磨到與鄰近母材平齊。（a）采用一次反射法或串列式掃查檢測時(shí)，：P=2TK或 或 P=2Ttgβ式中： P——跨距，mmT——母材厚度，mmK——探頭K值β——探頭折射角，（176。 檢測準(zhǔn)備（1）檢測區(qū)域的寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30%的一段區(qū)域，這個(gè)區(qū)域最小為5，最大為10mm，見下圖10：圖 10 檢測面和探頭移動(dòng)區(qū)（2）探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油污及其它雜質(zhì)。S——聲程，㎜。試塊寬度b一般應(yīng)滿足：b≥2λS/D0式中：b——試塊寬度，㎜。在滿足靈敏度要求時(shí)，試塊上的人工反射體根據(jù)需要可采取其他布置形式或添加，也可采用其他型式的等效試塊。 試塊 采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為CSKⅠA、CSKⅡA、CSKⅢA和CSKⅣA。（c）應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測。對于單側(cè)坡口角度小于5176。（b）母材厚度為46㎜～400㎜時(shí)，一般用兩種K值探頭采用直射波法在對接焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10176。（3）C級檢測采用C級檢測時(shí)應(yīng)將焊接接頭的余高磨平，對焊接接頭兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過的母材區(qū)域要用直探頭進(jìn)行檢測。作兩個(gè)方向的斜平行掃查，如圖8所示。檢測時(shí)，可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使探頭與焊接接頭中心線成10176。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10176。受結(jié)構(gòu)限制,也可在焊接接頭的雙面單側(cè)或單面雙側(cè)采用兩種K值探頭進(jìn)行檢測。（2）B級檢測（a）母材厚度為8㎜～46㎜時(shí)，一般用一種K值探頭采用直射波和一次反射波法在對接焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測?？捎靡环NK值探頭采用一次波和二次波法在對接焊接接頭的單面單側(cè)進(jìn)行檢測。超聲檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合制造、安裝、在用等有關(guān)規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。 本條適用于母材厚度為8～400㎜全熔化焊對接接頭的超聲檢測。 處理及復(fù)驗(yàn)不合格的復(fù)合鋼板可進(jìn)行處理或修復(fù)，修復(fù)后仍按以上方法進(jìn)行檢測和評級。 質(zhì)量分級 復(fù)合板質(zhì)量分級按JB/T47302005超聲檢測部分表10執(zhí)行。多個(gè)相鄰的未接合區(qū)，當(dāng)其最小間不小于20㎜時(shí)，應(yīng)作為單個(gè)未接合區(qū)處理，其面積為各個(gè)未接合區(qū)面積之和。 未接合缺陷的評定方法 缺陷指示長度的評定（1）一個(gè)缺陷按其指示的最大長度作為該缺陷的指示長度。 未接合區(qū)的測定第一次底波高度低于熒光屏滿刻度的5%，且明顯有未接合缺陷反射波存在（≥5%），該部分稱為未接合區(qū)。（3）在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50㎜內(nèi)作100%掃查。（1）可采用100%掃查或沿鋼板寬度方向，間隔50㎜的平行線掃查。 檢測方法根據(jù)聲阻抗、表面狀態(tài)及復(fù)合鋼板的形狀決定從復(fù)板一側(cè)或從基板一側(cè)進(jìn)行檢測。、規(guī)格、加工工藝過程、材料曲率等，預(yù)計(jì)缺陷可能產(chǎn)生的部位和類型，并能進(jìn)行正確的定位和定量。 檢測人員必須掌握儀器的綜合性能，并能獨(dú)立進(jìn)行檢測。 本工藝主要用于復(fù)合板復(fù)合面結(jié)合狀態(tài)的超聲檢測。6 承壓設(shè)備用復(fù)合鋼板超聲檢測專用工藝 適用范圍、鈦及鈦合金、鋁及鋁合金、鎳及鎳合金、銅及銅合金復(fù)合鋼板的超聲波檢測。 結(jié)果評定缺陷回波幅度≥人工缺陷回波，則不合格。（6）檢測靈敏度的確定（a）直接接觸法可在人工標(biāo)準(zhǔn)式樣上調(diào)節(jié)探傷靈敏度，使試樣內(nèi)表面人工缺陷所產(chǎn)生的反射波幅度等于滿幅度的80%，移動(dòng)探頭，找出外壁人工缺陷的最大反射波，并在屏上標(biāo)出，連接兩點(diǎn)，即為該探頭的距離—波幅曲線，作為檢測時(shí)的基準(zhǔn)靈敏度。（4）。（2）以水浸法采用回聲透鏡聚焦的探頭進(jìn)行探傷。 每根鋼管應(yīng)從管子兩端沿相反方向各測一次。圖5 管壁內(nèi)聲束的周向傳播 圖6 管壁內(nèi)聲束的軸向傳播 探頭相對鋼管螺旋進(jìn)給的螺距應(yīng)保證超聲波束對鋼管進(jìn)行100%掃查時(shí),有不少于15%的覆蓋率。 檢測縱向超聲波束應(yīng)由鋼管截面中心線一側(cè)傾斜入射，在管壁內(nèi)沿周向程鋸齒形傳播（見圖5）。橫向缺陷的檢測執(zhí)行JB/T47302005超聲部分的附錄D，相關(guān)事宜由合同雙方協(xié)商解決。 。1檢測設(shè)備應(yīng)每年按期進(jìn)行計(jì)量校驗(yàn)。接觸法檢測使用與鋼管表面吻合良好的斜探頭或聚集探頭?！? MHz。、規(guī)格、加工工藝過程、材料曲率等，預(yù)計(jì)缺陷可能產(chǎn)生的部位和類型，并能進(jìn)行正確的定位和定量。 檢測人員必須掌握儀器的綜合性能，并能獨(dú)立進(jìn)行檢測。 本條不適用于內(nèi)外徑之比小于80%的鋼管周向直接接觸法橫波檢測，也不適用于分層缺陷的超聲檢測。 以上評級獨(dú)立進(jìn)行，以最低級別作為被檢件的質(zhì)量級別。 質(zhì)量分級 單直探頭檢測的質(zhì)量分級見表JB/T47302005超聲部分的表15。 缺陷記錄 由于缺陷的存在，而是底波降為滿刻度25%以下的部位。 靈敏度的校正 當(dāng)被檢鍛件厚度不大于600㎜時(shí)，應(yīng)根據(jù)訂貨鍛件厚度和要求的質(zhì)量等級，在適當(dāng)厚度的平底孔試塊上校正，并根據(jù)實(shí)測值作出距離—波幅曲線（定量線）；當(dāng)被檢鍛件厚度大于600㎜時(shí)，在工件無缺陷部位將底波調(diào)至滿刻度的80%，以此作為基準(zhǔn)靈敏度。 斜探頭檢測可按JB/T47302005《承壓設(shè)備無損檢測》超聲部分附錄E執(zhí)行。 檢測方法一般應(yīng)進(jìn)行直探頭縱波檢測。 檢測時(shí)機(jī)和工件要求 。 對比試塊的晶粒大小和聲學(xué)特性與被檢鍛件大致相近。 為了準(zhǔn)確測定缺陷，必要時(shí)也可采用其他探頭。 直探頭的晶片直徑為14㎜～30㎜。4 承壓設(shè)備用奧氏體鋼鍛件超聲檢測專用工藝 適用范圍 本工藝適用于承壓設(shè)備用奧氏體鋼鍛件的超聲檢測和質(zhì)量分級。 當(dāng)缺陷被檢測人員判定為危害性缺陷時(shí)，鍛件的質(zhì)量等級應(yīng)評為最低級別—Ⅴ級。 上述評級，獨(dú)立進(jìn)行。則此缺陷被稱為密集區(qū)缺陷。（1）若在熒光屏掃描線相當(dāng)于50㎜聲程范圍內(nèi)同時(shí)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號(hào)；或是在50㎜50㎜的檢測面上發(fā)現(xiàn)同一深度范圍內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號(hào)。：先確定出靠近缺陷處的無缺陷完好區(qū)域內(nèi)第一次底波幅度BG,再確定出缺陷區(qū)域內(nèi)底波幅度降至最低時(shí)的第一次底波的幅度BF,則可確定出BG與BF的dB幅度差值。缺陷密集區(qū)面積以50mm50mm的方塊作為最小量度單位，其邊界可由6dB法決定。 密集性缺陷：記錄密集缺陷中最大當(dāng)量缺陷的位置和分布。 計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí)，當(dāng)材質(zhì)衰減系數(shù)超過4dB/m，應(yīng)考慮修正。對于3倍近場區(qū)以內(nèi)的缺陷，可采用單直探頭或雙晶直探頭的距離—波幅曲線來確定當(dāng)量。 工件上三處衰減系數(shù)的平均值即為該工件的衰減系數(shù)。 衰減系數(shù)（T≥3N）按下式（2）計(jì)算：α=〖（B1B2）6〗/2T （2）式中：（B1B2）—兩次衰減器的讀數(shù)差，dB。N—單直探頭近場區(qū)長度，㎜。 衰減系數(shù)（T＜3N，且滿足n＞3N/T,m=2n）按下式（1）計(jì)算：α=〖（BnBm）6〗/2（mn）T （1）式中: α—衰減系數(shù)； BnBm—兩次衰減器的讀數(shù)之差，dB。）177。（1）首先應(yīng)算出公式：λ=C/f N=D2/4λ 確定XB≥3N Xf≥3N（2）平底面和實(shí)心圓柱體曲底面調(diào)節(jié)探傷靈敏度當(dāng)量計(jì)算公式△=20lg（2λX/πφ178。 雙晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定使用CSⅡ試塊，依次測試一組不同檢測距離的φ3㎜平底孔（至少3個(gè)）。 檢測靈敏度的確定 單直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的三倍近場區(qū)時(shí)，且與探測面平行時(shí)，原則上可選用底波計(jì)算法確定基準(zhǔn)靈敏度。