【正文】
儀器上時(shí)間掃描線可以按反射體的深度調(diào)試,這時(shí)顯示的刻度 值即為缺陷深度。也可按水平距離 調(diào)試這時(shí)顯示的值為探頭入射點(diǎn)至 缺陷的水平距離。 六)超聲波探傷工藝 (b)靈敏度調(diào)試 (試塊法、工件大平底法、當(dāng)量計(jì)算法) 按標(biāo)準(zhǔn)要求,選用一定形狀、大小的規(guī)則反射體,深度與工 件厚度相當(dāng),使反射體的波高到一定高度,如 80%顯示屏。 當(dāng)工件厚度大于三倍的近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度時(shí),聲波衰可按理論計(jì)算,計(jì)算工件底面與人工反射體的差異,調(diào)節(jié)靈敏度。 利用通用的規(guī)一化處理過(guò)的曲線來(lái)調(diào)節(jié)靈敏度。 六)超聲波探傷工藝其特征量 缺陷大小測(cè)量 A 當(dāng)量法(比較、計(jì)算) 探傷中發(fā)現(xiàn)缺陷后,測(cè)量其波高與試塊上同聲程的規(guī)則反射體波高相同,規(guī)則反射體的大小即為該缺陷的當(dāng)量大小。 如果聲程大于三倍近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度可用公式計(jì)算缺陷當(dāng)量大小。當(dāng)量法一般用于缺陷小于聲束截面時(shí)使用,大于聲束截面時(shí)用測(cè)長(zhǎng)法。 六、超聲波探傷工藝 B 測(cè)長(zhǎng)法(半波高度法端點(diǎn)半波高度法) 當(dāng)缺陷的尺寸大于聲束截面時(shí), 探頭移動(dòng),當(dāng)缺陷波高降至一半時(shí),認(rèn)為聲束中心是指向缺陷的邊緣。 當(dāng)缺陷波不是一個(gè)最高點(diǎn)時(shí), 將缺陷波邊緣某高度的的波下降一半時(shí),探頭位置為缺陷邊緣。 C 底波高度法 用缺陷波的高度與工件完好處的 底波或與缺陷處底波進(jìn)行比較。 六、超聲波探傷工藝 非缺陷信號(hào)的識(shí)別 A 工件側(cè)壁回波 縱波檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)工件時(shí) ,由于擴(kuò)散波束在側(cè)壁產(chǎn)生波型轉(zhuǎn)換 ,由縱波轉(zhuǎn)換為橫波 ,此橫波在另一面又轉(zhuǎn)換為縱波 ,最后經(jīng)底面反射回到探頭。 d B T 六、超聲波探傷工藝 B 三角回波 縱波徑向探測(cè)實(shí)心圓柱體時(shí),探頭平面與柱面接觸面積小,使波束擴(kuò)散角增加,擴(kuò)散聲束會(huì)在圓柱在上形成三角反射路徑 B1 B2 d 2d 六)超聲波探傷工藝 C 焊角回波 焊縫余高過(guò)高時(shí)會(huì)在余高處反射和波型轉(zhuǎn)換。有時(shí)呈山形回波,可以根據(jù)山形回波的出現(xiàn)判斷焊縫中無(wú)大缺陷。 縱波 橫波 ① ② ③ ① ② ③ 六、超聲波探傷工藝 掃查方式 A 以規(guī)定的掃查靈敏度(基準(zhǔn)靈敏度)先進(jìn)行掃查粗探傷,再以定量靈敏度對(duì)缺陷進(jìn)行定量、定級(jí)、定位。 B 為檢測(cè)縱向缺陷,斜探頭應(yīng)垂直于焊縫中心線放置在檢測(cè)面上,作鋸齒型掃查。探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊接接頭截面,在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí),還應(yīng)作 10176。 ~ 15176。的左右轉(zhuǎn)動(dòng)。 六、超聲波探傷工藝 C基本掃查方式 為觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形和區(qū)分缺陷信號(hào)或偽缺陷信號(hào),確定缺陷的位置、方向和形狀,可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式。 D掃查覆蓋率 為確保檢測(cè)時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域,探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的 15%。 E探頭的移動(dòng)速度 探頭的掃查速度不應(yīng)超過(guò) 150mm/s。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí),不受此限 小結(jié):超聲波檢測(cè)的特點(diǎn) 1 面積型缺陷檢出率高,體積型缺陷檢出率低 2適合較大厚度工件的檢驗(yàn) 3材質(zhì)晶粒度對(duì)檢測(cè)結(jié)果有影響