電子顯微分析ppt課件(2)-展示頁
2025-01-24 04:31本頁面
【正文】 掃描電鏡的最大優(yōu)點是樣品制備方法簡單，對金屬等導(dǎo)電塊狀樣品，只需將它們切割成大小合適的尺寸，用導(dǎo)電膠將其粘接在電鏡的樣品座上即可直接進行觀察。 (a) 加偏 壓 前 (b) 加偏 壓 后 二次電子像襯度的特點： 二次電子像的襯度可以分為以下幾類： 二次電子信號主要來自樣品表層 510nm深度范圍，能量較低 (小于 50eV)。 SEM可以通過樣品上方的電子檢測器檢測到具有不同能量的信號電子有背散射電子、二次電子、吸收電子、俄歇電子等。像襯原理與應(yīng)用 由于受儀器，工作狀態(tài)，樣品本身性質(zhì)及環(huán)境影響，一般樣品在觀察中的分辨率達不到這一極限值。 第第 8章章掃描電子顯微分析掃描電子顯微分析 掃描電鏡的工作原理、和性能構(gòu)造 1： SEM的主要結(jié)構(gòu)包括電子光學(xué)系統(tǒng)、信號的收集和圖像顯示系統(tǒng)、真空系統(tǒng)三部分。2：掃描電鏡重要指標是分辨率，是由特定樣品在特定工作狀態(tài)，特定環(huán)境下拍攝的圖像上兩點之間的最小間隙的寬度。 一、像襯原理 像的襯度就是像的各部分 (即各像元 )強度相對于其平均強度的變化。 特征 X射線1．二次電子像襯度及特點 影響二次電子產(chǎn)額的因素主要有： (1)二次電子能譜特性； (2)入射電子的能量； (3)材料的原子序數(shù)； (4)樣品傾斜角 ?。(1)形貌襯度 (2)成分襯度 (3)電壓襯度 (4)磁襯度 (第一類 ) 右圖為形貌襯度原理 （ 1）分辨率高（ 2）景深大，立體感強（ 3）主要反應(yīng)形貌襯度。圖 加偏 壓 前后的二次 電 子收集情況 為防治假象的存在，在放試樣前應(yīng)先將試樣用丙酮或酒精等進行清洗，必要時用超聲波振蕩器清洗，或進行表面拋光。因此這類試樣在觀察前要噴鍍導(dǎo)電層進行處理，通常采用二次電子發(fā)射系數(shù)較高的金銀或碳膜做導(dǎo)電層，膜厚控制在 20nm左右。JSM超高分辨場發(fā)射掃描電鏡圖像可以偽彩處理 掃描電鏡在材料研究中的應(yīng)用1） .斷口分析
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