【摘要】第八章掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析序?掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,簡(jiǎn)稱(chēng)SEM)是繼透射電鏡(TEM)之后發(fā)展起來(lái)的一種電子顯微鏡?掃描電子顯微鏡的成像原理和光學(xué)顯微鏡或透射電子顯微鏡不同,它是以電子束作為照明源,把聚焦得很細(xì)的電子束以光柵狀掃描方式照射到試樣上,產(chǎn)生各種與試
2025-01-25 16:16
【摘要】第八章掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析?內(nèi)容提要:?第一節(jié)電子束與固體樣品相互作用時(shí)產(chǎn)生的物理信號(hào)?第二節(jié)掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)和工作原理?第三節(jié)表面形貌襯度原理及其應(yīng)用?第四節(jié)原子序數(shù)襯度原理及其應(yīng)用?第五節(jié)電子探針X射線(xiàn)顯微分析引言?SEM
2025-04-20 22:11
【摘要】一、簡(jiǎn)介二、基本物理概念三、主要參數(shù)四、工作模式與襯度原理五、主要部件六、應(yīng)用舉例七、電子探針掃描電子顯微鏡與電子探針(ScanningElectronMicroscope簡(jiǎn)稱(chēng)SEMandElectronProbeMicro-analysis簡(jiǎn)稱(chēng)EPMA)一、簡(jiǎn)介SEM是利用
2025-05-16 18:13
【摘要】電子探針X射線(xiàn)顯微分析一、引言?電子探針X射線(xiàn)顯微分析(簡(jiǎn)稱(chēng)電子探針顯微分析)(ElectronProbeMicroanalysis,簡(jiǎn)稱(chēng)EPMA),它用一束聚焦得很細(xì)(50nm~1μm)的加速到5kV-30kV的電子束,轟擊用光學(xué)顯微鏡選定的待分析試樣上某個(gè)“點(diǎn)”(一般直徑為1-50um),利用試樣受到轟擊時(shí)發(fā)射的X射線(xiàn)的波
2025-05-09 01:47
【摘要】第五章掃描電子顯微鏡和電子探針?lè)治?掃描電子顯微鏡(ScanningelectronmicroscopeSEM)是以類(lèi)似電視攝影顯像的方式,通過(guò)細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描激發(fā)出的各種物理信號(hào)來(lái)調(diào)制成像的顯微分析技術(shù)。?SEM在60’s商品化,應(yīng)用范圍很廣;SEM成像原理與TEM完全不同,不用電磁透鏡放大成像;新式SEM的二次電子分辨率已達(dá)1n
2025-01-08 05:38
【摘要】電子衍射分析金蒸發(fā)膜的多晶衍射花樣Ni基高溫合金中M23C6碳化物的單晶衍射花樣Bragg定律:2dsin?=?電子衍射的衍射角很小,??1?電子衍射的相機(jī)常數(shù)R=Ltg2?,由于??1?,tg2??2sin?,由Bragg定律,可得:Rd=
2025-01-28 11:34
【摘要】電子背散射衍射ElectronBackscatterDiffraction(EBSD)掃描電鏡的一個(gè)主要附件,可以進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析對(duì)材料進(jìn)行微觀分析,要看其形態(tài)如何,晶粒大小、析出相、是等軸的還是條狀的,等等,可以用光學(xué)顯微鏡、SEM、TEM等來(lái)觀察;要研究其微區(qū)成分,可用SEM+EDS,用EPMA,用
2024-12-16 23:44
【摘要】?材料的固有性質(zhì)、材料的結(jié)構(gòu)與成分、材料的使用性能和材料的合成與加工構(gòu)成材料研究的四大要素。?任何一種材料的宏觀性能或行為,都是由其微觀組織結(jié)構(gòu)所決定的。第二章電子顯微分析緒論?現(xiàn)代材料科學(xué)的發(fā)展在很大程度上依賴(lài)于對(duì)材料性能和成分結(jié)構(gòu)及微觀組織關(guān)系的理解;對(duì)材料在微觀層次上的表征技術(shù),構(gòu)成了材料科學(xué)的一個(gè)重要組成部分
2025-03-31 05:59
【摘要】第十一章電子探針X射線(xiàn)顯微分析?概述?顯微分析特點(diǎn)?構(gòu)造與工作原理?樣品制備?分析方法一、概述?電子探針是電子探針X射線(xiàn)顯微分析儀的簡(jiǎn)稱(chēng),英文縮寫(xiě)為EPMA(ElectronprobeX-raymicroanalyser)。?電子探針儀是一種微區(qū)成分分析儀器,它利用
2025-01-09 22:41
【摘要】第七章電子顯微分析樣品入射電子Auger電子陰極發(fā)光背散射電子二次電子X(jué)射線(xiàn)透射電子1.透射電鏡的構(gòu)造2.透射電鏡的主要性能指標(biāo)3.透射電鏡的襯度形成原理4.透射電鏡研究用高分子樣品制備方法3.透射電鏡在高分子研究中的應(yīng)用Part1透
2025-05-21 12:34
【摘要】掃描電子顯微分析掃描電子顯微分析1.掃描電子顯微鏡的工作原理及特點(diǎn)掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆粒,成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是最主要的成像信號(hào)。由電子槍發(fā)射的能量為5~35keV的電子,以其交叉斑作為電子源,經(jīng)二級(jí)聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一定束流強(qiáng)度和束
2025-01-08 05:37
【摘要】??????????第第8章章掃描電子顯微分析掃描電子顯微分析掃描電鏡的工作原理、和性能構(gòu)造?1:SEM的主要結(jié)構(gòu)包括電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)的收集和圖像顯示系統(tǒng)、真空系統(tǒng)三部分。?2:掃描電鏡重要指標(biāo)是分辨率,是由特定樣品在特定工作狀
2025-01-24 04:31
【摘要】?電子顯微鏡中的電子光學(xué)問(wèn)題?透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)?電子衍射?金屬薄膜成像?復(fù)型?掃描電子顯微分析第二篇電子顯微分析術(shù)電子顯微鏡中的電子光學(xué)問(wèn)題光學(xué)顯微鏡的局限性電子性質(zhì)電子透鏡的像差成像透鏡及性質(zhì)?分辨本領(lǐng):?指光學(xué)儀器所能區(qū)分的兩
2025-01-24 07:00
【摘要】電子顯微分析與應(yīng)用?1.透射電子顯微分析?2.掃描電子顯微分析?3.微區(qū)元素分析?4.微區(qū)物相分析?5.應(yīng)用舉例答疑地點(diǎn):分析測(cè)試中心(校醫(yī)院斜對(duì)面)205答疑人:王超電話(huà):13775988566電子顯微分析與應(yīng)用電子顯微分析的概念利用經(jīng)過(guò)聚焦的高能電子照射樣
2025-05-10 18:11
【摘要】在18900倍下對(duì)PVC糊樹(shù)脂近行觀測(cè)應(yīng)用實(shí)例在26000倍下觀測(cè)碳酸鈣粉末掃描電鏡ScanningElectronMicroanalyzer掃描電鏡(SEM)SEM的基本原理★焦深大,圖像富有立體感,特別適合于表面形貌的研究★放大倍數(shù)范圍廣,從十幾倍到2萬(wàn)倍,幾乎覆蓋
2025-05-21 18:43