電子顯微分析ppt課件(2)-資料下載頁
2025-01-15 04:31本頁面
【正文】 0。 樣品 EPMA的主要信息Si片EPMA1600結構圖電子探針分析的基本工作方式 一 :是定點分析，即對樣品表面選定微區(qū)作定點的全譜掃描，進行定性或半定量分析，并對其所含元素的質量分數(shù)進行定量分析；二 :是線掃描分析，即電子束沿樣品表面選定的直線軌跡進行所含元素質量分數(shù)的定性或半定量分析；三 :是面掃描分析，即電子束在樣品表面作光柵式面掃描，以特定元素的 X射線的信號強度調制陰極射線管熒光屏的亮度，獲得該元素質量分數(shù)分布的掃描圖像 。 Al的面分布 Si的面分布（ 1）測定合金中的相成分 合金中的析出相往往很小，有時幾種相同時存在，因而用一般方法鑒別十分困難。例如不銹鋼在 1173 176。 K 以上長期加熱后析出很脆的 σ 相和 X相，其外形相似，金相法難以區(qū)別。但用電子探針測定 Cr和 Mo的成分，可以從 Cr/Mo的比值來區(qū)分 σ 相（ Cr/Mo為 ）和 X相（ Cr/Mo為 ）。 （ 2）測定夾雜物 大多數(shù)非金屬夾雜物對性能起不良的影響。用電子探針和掃描電鏡附件能很好地測出它們的成分，大小，形狀和分布，為我們選擇合理的生產工藝提供了依據。 （ 3）測定元素的偏析 晶界與晶內，樹枝晶中的枝干和枝間，母材與焊縫常造成元素的富集或貧乏現(xiàn)象，這種偏析有時對材料的性能帶來極大的危害，用電子探針通常很容易分析出各種元素偏析的情況。 （ 4）測定元素在氧化層中的分布 可用線分析方法，清楚地顯示出元素從氧化層表面至內部基體的分布情況。如果把電子探針成分分析和 X射線衍射像分析結合起來，這樣能把氧化層中各種相的形貌和結構對應起來。而用透射電鏡難于進行這方面的研究，因為氧化層場疏松難以制成金屬薄膜。用類似的方法還可測定元素在金屬滲層中的分布，為工藝的選擇和滲層組織的分析提供有益的信息。 第 8章思考復習題√？√何不同？？√？√？？？？？
教學課件相關推薦
鄂ICP備17016276號-1