【總結】第三章掃描電子顯微鏡LightvsElectronMicroscope?掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,簡稱SEM)是繼透射電鏡之后發(fā)展起來的一種電子顯微鏡?掃描電子顯微鏡的成像原理和光學顯微鏡或透射電子顯微鏡不同,它是以類似電視攝影的方式,利用細聚焦電子束在樣品表面掃描時激發(fā)出來的各種物理
2025-01-15 04:37
【總結】第五章掃描電子顯微鏡和電子探針分析2?掃描電子顯微鏡(ScanningelectronmicroscopeSEM)是以類似電視攝影顯像的方式,通過細聚焦電子束在樣品表面掃描激發(fā)出的各種物理信號來調制成像的顯微分析技術。?SEM在60’s商品化,應用范圍很廣;SEM成像原理與TEM完全不同,不用電磁透鏡放大成像;新式SEM的二次電子
2025-05-04 06:57
【總結】掃描電子顯微鏡基礎黃銳.ScanningElectronMicroscopeOutline?掃描電鏡?光學顯微鏡與掃描電鏡—OM&SEM?掃描電鏡的特點—FeaturesofSEM?掃描電鏡的原理—MechanismofSEM
2025-05-01 18:11
【總結】2022/9/71電子顯微分析技術2022/9/722022/9/73顯微鏡由兩個會聚透鏡組成,光路圖如圖所示。物體AB經物鏡成放大倒立的實像A1B1,A1B1位于目鏡的物方焦距的內側,經目鏡后成放大的虛像A2B2于明視距離處。顯微技術的相關概念?放大倍數:M=成像大小/實物大小SECTION:物
2025-08-16 02:14
【總結】電子顯微與掃描探針相關技術楊合情陜西師范大學材料科學與工程學院陳敬中主編現(xiàn)代晶體化學:理論與方法高等教育出版社2021-5-1黃惠忠等
2025-10-07 21:19
【總結】實用電子顯微鏡技術測試中心陳義芳2021年緒論電子顯微鏡技術發(fā)展簡史第一節(jié)電子顯微鏡發(fā)展簡史第二節(jié)電子顯微鏡技術的發(fā)展與應用第三節(jié)其他顯微技術的發(fā)展第一節(jié)電子顯微鏡發(fā)展簡史電子顯微鏡通常分為透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡兩種類型。利用電子顯微鏡可對樣品內部結構及樣品表面形貌進
2025-05-13 21:48
【總結】掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscopySEM)材化0801孟巖李民王洪志張俊掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscopySEM)1942年第一臺掃描電子
2025-05-01 18:02
【總結】透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscope簡稱TEM)吳志國蘭州大學等離子體與金屬材料研究所現(xiàn)代材料物理研究方法第十一講2透射電子顯微鏡在形貌分析上的應用?基本知識?透射電鏡原理?透射電鏡的結構?電子衍射原理?高分辨透射電鏡?樣品制備
2025-01-04 21:10
【總結】?掃描電鏡襯度的形成:主要利用樣品表面微區(qū)特征,如形貌、原子序數、化學成分、晶體結構或位向等的差異,在電子束作用下產生不同強度的物理信號,使陰極射線管熒光屏上不同的區(qū)域呈現(xiàn)出不同的亮度,獲得具有一定襯度的圖象。第六節(jié)掃描電鏡襯度像?形貌襯度的形成:二次電子產額強烈依賴于入射束與試樣表面法線間的夾角?。如
2024-12-08 11:08
【總結】電子背散射衍射ElectronBackscatterDiffraction(EBSD)掃描電鏡的一個主要附件,可以進行結構分析對材料進行微觀分析,要看其形態(tài)如何,晶粒大小、析出相、是等軸的還是條狀的,等等,可以用光學顯微鏡、SEM、TEM等來觀察;要研究其微區(qū)成分,可用SEM+EDS,用EPMA,用
2024-12-07 23:44
【總結】材料電子顯微學ElectronMicroscopyinMaterials1本課程適用于材料科學、物理學、化學工程、機械工程等學科的本科生。本課程講述電子顯微鏡及其在材料科學中的應用,主要包括電子顯微學的主要原理,電子衍射結構分析,電子衍襯圖象解釋,以及電子顯微分析技術的最新進展。課程簡介2基本
2025-01-01 15:42
【總結】電子衍射分析金蒸發(fā)膜的多晶衍射花樣Ni基高溫合金中M23C6碳化物的單晶衍射花樣Bragg定律:2dsin?=?電子衍射的衍射角很小,??1?電子衍射的相機常數R=Ltg2?,由于??1?,tg2??2sin?,由Bragg定律,可得:Rd=
2025-01-19 11:34
【總結】透射電鏡(TEM)王海波主要內容?TEM發(fā)展概述?TEM的結構和成像原理?TEM的樣品制備?TEM的應用光學顯微鏡的極限???sinNh??德國理論光學家EAbbe于1918年指出限制光鏡分辨率的原理是光的衍射行為,并提出顯微鏡分辨率與照明波長的關系式:
2025-05-12 12:10
【總結】透射電子顯微鏡-TEMTransmissionelectronmicroscope內容?簡介?結構原理?樣品制備?透射電子顯微像?選區(qū)電子衍射分析TEM簡介?1898年.Thomson發(fā)現(xiàn)電子?1924年deBroglie提出物質粒子波動性假說和1927年實驗的證實。?
2025-05-12 02:49
【總結】第五章掃描電子顯微術(SEM)SEM的特點?樣品制備較簡單,甚至可以不作任何處理。并且樣品可以很大,如直徑可達10cm以上。?能在很大的放大倍數范圍工作,從幾倍到幾十萬倍,相當于從放大鏡到透射電鏡的放大范圍。以致使用者可以首先概觀整個樣品,然后迅速轉換到觀察某些選擇的結構的細節(jié),這給觀察帶來很大的方便
2025-01-08 03:51