【摘要】??????????第第8章章掃描電子顯微分析掃描電子顯微分析掃描電鏡的工作原理、和性能構(gòu)造?1:SEM的主要結(jié)構(gòu)包括電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)的收集和圖像顯示系統(tǒng)、真空系統(tǒng)三部分。?2:掃描電鏡重要指標(biāo)是分辨率,是由特定樣品在特定工作狀
2025-01-24 04:31
【摘要】第二十三章掃描電子顯微分析與電子探針第一節(jié)掃描電子顯微鏡工作原理及構(gòu)造?一、工作原理圖22-1掃描電子顯微鏡原理示意圖二、構(gòu)造與主要性能?掃描電子顯微鏡由電子光學(xué)系統(tǒng)(鏡筒)、偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)、信號(hào)檢測(cè)放大系統(tǒng)、圖像顯示和記錄系統(tǒng)、電源系統(tǒng)和
2025-05-12 08:20
【摘要】?電子顯微鏡中的電子光學(xué)問題?透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)?電子衍射?金屬薄膜成像?復(fù)型?掃描電子顯微分析第二篇電子顯微分析術(shù)電子顯微鏡中的電子光學(xué)問題光學(xué)顯微鏡的局限性電子性質(zhì)電子透鏡的像差成像透鏡及性質(zhì)?分辨本領(lǐng):?指光學(xué)儀器所能區(qū)分的兩
2025-01-24 07:00
【摘要】電子顯微分析與應(yīng)用?1.透射電子顯微分析?2.掃描電子顯微分析?3.微區(qū)元素分析?4.微區(qū)物相分析?5.應(yīng)用舉例答疑地點(diǎn):分析測(cè)試中心(校醫(yī)院斜對(duì)面)205答疑人:王超電話:13775988566電子顯微分析與應(yīng)用電子顯微分析的概念利用經(jīng)過聚焦的高能電子照射樣
2025-05-10 18:11
【摘要】在18900倍下對(duì)PVC糊樹脂近行觀測(cè)應(yīng)用實(shí)例在26000倍下觀測(cè)碳酸鈣粉末掃描電鏡ScanningElectronMicroanalyzer掃描電鏡(SEM)SEM的基本原理★焦深大,圖像富有立體感,特別適合于表面形貌的研究★放大倍數(shù)范圍廣,從十幾倍到2萬倍,幾乎覆蓋
2025-05-21 18:43
【摘要】第三節(jié)透射電子顯微分析一、透射電子顯微鏡透射電鏡主要由光學(xué)成像系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和電氣系統(tǒng)三部分組成。(1)光學(xué)成像系統(tǒng)?照明部分是產(chǎn)生具有一定能量、足夠亮度和適當(dāng)小孔徑角的穩(wěn)定電子束的裝置,包括:電子槍聚光鏡(2)成像放大系統(tǒng)–物鏡–中間鏡–投影鏡(3)
2025-05-07 00:21
【摘要】Dept.ofMSE,CQU1第十章掃描電子顯微分析材料現(xiàn)代測(cè)試方法掃描電子顯微分析Dept.ofMSE,CQU2本章主要內(nèi)容概述掃描電鏡的特點(diǎn)和工作原理掃描電鏡的主要性能
2025-01-24 06:53
【摘要】1第九章透射電子顯微分析第一節(jié)透射電子顯微鏡工作原理及構(gòu)造第二節(jié)樣品制備第三節(jié)透射電鏡基本成像操作及像襯度第四節(jié)TEM的典型應(yīng)用及其它功能簡(jiǎn)介2顯微鏡的發(fā)展17世紀(jì)中期制做的復(fù)式顯微鏡19世紀(jì)中期的顯微鏡20世紀(jì)初期的顯微鏡帶自動(dòng)照相機(jī)的光學(xué)顯微鏡裝有場(chǎng)發(fā)射
2025-01-13 21:08
【摘要】第二章電子顯微分析ElectronMicro-Analysisv研究對(duì)象?微結(jié)構(gòu)與顯微成分?微結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)系?微結(jié)構(gòu)形成的條件與過程機(jī)理v材料的性能由微結(jié)構(gòu)所決定,人們可通過控制材料的微結(jié)構(gòu),使其形成預(yù)定的結(jié)構(gòu),從而具有所希望的性能。vv電子顯微分析是利用聚焦電子束與式樣物質(zhì)相互作用產(chǎn)生各種物理信號(hào),分
2025-02-21 14:32
【摘要】附:掃描電子顯微分析方法及其工程應(yīng)用掃描電子顯微圖象分析(SEM,黃銅管金相樣品二次電子象)微區(qū)成分能譜分析(EDS-銅基體)微區(qū)成分能譜分析(EDS-銅合金管表面的點(diǎn)腐蝕)AlKPk●EDS,Al-Si合金中的Alk的線分布和面分布掃描電鏡成象原理和方法滴狀作用體積
2025-01-08 05:38
【摘要】第八章掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析序?掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,簡(jiǎn)稱SEM)是繼透射電鏡(TEM)之后發(fā)展起來的一種電子顯微鏡?掃描電子顯微鏡的成像原理和光學(xué)顯微鏡或透射電子顯微鏡不同,它是以電子束作為照明源,把聚焦得很細(xì)的電子束以光柵狀掃描方式照射到試樣上,產(chǎn)生各種與試
2025-01-25 16:16
【摘要】第八章掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析?內(nèi)容提要:?第一節(jié)電子束與固體樣品相互作用時(shí)產(chǎn)生的物理信號(hào)?第二節(jié)掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)和工作原理?第三節(jié)表面形貌襯度原理及其應(yīng)用?第四節(jié)原子序數(shù)襯度原理及其應(yīng)用?第五節(jié)電子探針X射線顯微分析引言?SEM
2025-04-20 22:11
【摘要】第五章掃描電子顯微術(shù)(SEM)SEM的特點(diǎn)?樣品制備較簡(jiǎn)單,甚至可以不作任何處理。并且樣品可以很大,如直徑可達(dá)10cm以上。?能在很大的放大倍數(shù)范圍工作,從幾倍到幾十萬倍,相當(dāng)于從放大鏡到透射電鏡的放大范圍。以致使用者可以首先概觀整個(gè)樣品,然后迅速轉(zhuǎn)換到觀察某些選擇的結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié),這給觀察帶來很大的方便
2025-01-17 03:51
【摘要】第二章電子顯微分析一、教學(xué)目的理解掌握電子光學(xué)基礎(chǔ)、電子與固體物質(zhì)的相互作用、襯度理論等電子顯微分析的基本理論,掌握透射電鏡分析、掃描電鏡分析、電子探針分析的應(yīng)用和特點(diǎn),掌握用各種襯度理論解釋電子顯微像,掌握電子顯微分析樣品的制備方法,了解透射電鏡、掃描電鏡、電子探針的結(jié)構(gòu)。二、重點(diǎn)、難點(diǎn)重點(diǎn):電子與物質(zhì)的相互作用、襯度理論、電子探針X
2025-01-17 09:29