【總結(jié)】X射線衍射晶體學(xué)晶體和非晶體晶體是質(zhì)點(diǎn)(原子、離子或分子)在空間按一定規(guī)律周期性重復(fù)排列構(gòu)成的固體物質(zhì)。非晶體是指組成物質(zhì)的分子(或原子、離子)不呈空間有規(guī)則周期性排列的固體。它沒有一定規(guī)則的外形,如玻璃、松香、石蠟等。它的物理性質(zhì)在各個(gè)方向上是相同的,叫“各向同性”。它沒有固定的熔點(diǎn)。所以有人把非晶體叫做“過冷液體”或“流動(dòng)性
2025-08-05 09:22
【總結(jié)】現(xiàn)代測(cè)試分析技術(shù)在礦物材料中的應(yīng)用研究摘 要通過對(duì)礦物材料的成分、結(jié)構(gòu)和理化性能的測(cè)定,介紹了EPMA、AAS、XPS、SEM、TEM、XRD等多種現(xiàn)代測(cè)試分析儀器及其技術(shù)特點(diǎn)和應(yīng)用范圍。文章指出,新的現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)的出現(xiàn)和技術(shù)進(jìn)步推動(dòng)著礦物材料科學(xué)研究向更深、更廣的領(lǐng)域邁進(jìn),以后應(yīng)進(jìn)一步擴(kuò)大現(xiàn)代測(cè)試分析技術(shù)在各個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用,提高其
2025-08-05 09:43
【總結(jié)】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1第三部分電子顯微分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2第二章電子顯微鏡成像原理電子顯微分析1儀器構(gòu)型2成像武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳31儀器構(gòu)型(1)電子顯微分析第二章電子顯微鏡成像原理武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳
2025-01-20 09:46
【總結(jié)】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1第一部分Xraydiffraction(XRD)X射線衍射分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2第一章.X射線的性質(zhì)1概述2X射線的性質(zhì)3X射線的產(chǎn)生4X射線與物質(zhì)的相互作用5物質(zhì)對(duì)
2024-10-16 19:47
【總結(jié)】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1第一部分X射線衍射分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2第二章.晶體結(jié)構(gòu)概述(與X射線分析相關(guān)的)1晶體結(jié)構(gòu)基本特點(diǎn)2空間格子3面網(wǎng)及面網(wǎng)的表示4面網(wǎng)間距5
2024-10-16 19:48
【總結(jié)】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1第三部分電子顯微分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2第一章電子顯微鏡基本原理電子顯微分析1電子顯微鏡的發(fā)展簡(jiǎn)史2電子波的波長(zhǎng)3電磁透鏡4電磁透鏡的缺陷5電
2024-10-18 18:15
【總結(jié)】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1第三部分電子顯微分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2第五章電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)電子顯微分析電子顯微鏡一般由電子光學(xué)系統(tǒng),信號(hào)收集及顯示系統(tǒng),真空系統(tǒng)及電源系統(tǒng)組成。武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳31電子光學(xué)系統(tǒng)(1)電子顯微分析第
【總結(jié)】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1第三部分電子顯微分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2第四章電子顯微鏡的主要圖象電子顯微分析1二次電子產(chǎn)額及二次電子像2背散射電子像3吸收電子像4X射線成分像5俄歇電子像6透射電子像武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳3
2025-01-16 00:44
【總結(jié)】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1第一部分X射線衍射分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2第三章.晶體對(duì)X射線的衍射1衍射的概念2勞埃方程式3布拉格方程式4兩種方程式的統(tǒng)一5布拉格方程式的意義6布拉格方程式和衍射方向
【總結(jié)】X射線衍射“衍射”:散射波的干涉材料現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)重點(diǎn):?X射線本質(zhì)、條件,X射線光譜?特征x射線?x射線與物質(zhì)相互作用?X射線衍射方向:勞埃方程式和布拉格方程式。?衍射矢量方程和愛瓦爾德圖解?X射線衍射束的強(qiáng)度:結(jié)構(gòu)因子Fhkl?X射線衍射方法:X射線衍射儀
2024-10-16 21:16
【總結(jié)】現(xiàn)代分析測(cè)試技術(shù)主講:何品剛現(xiàn)代分析測(cè)試技術(shù)第一章現(xiàn)代分析測(cè)試技術(shù)概述現(xiàn)代分析測(cè)試技術(shù)概述分析測(cè)試技術(shù)獲取物質(zhì)的組成、含量、結(jié)構(gòu)、形態(tài)、形貌以及變化過程的技術(shù)和方法。分析測(cè)試技術(shù)和分析化學(xué)密不可分,隨第一臺(tái)天平儀器的問世,測(cè)試技術(shù)經(jīng)過幾百年的發(fā)展,目前已成為各行各業(yè)必不可少的技術(shù)。
2025-01-17 18:06
【總結(jié)】本設(shè)備適用范圍?:無機(jī)物包括金屬、半導(dǎo)體、磁性材料、陶瓷、玻璃、粉劑的觀察,有機(jī)物方面包括薄膜、高分子、纖維的觀察,還有一些特殊界面如摩擦表面、腐蝕面的觀察。?:材料表面光潔度測(cè)定、磁場(chǎng)、摩擦力等特性的測(cè)試。AFM的優(yōu)點(diǎn):?分辨率更高。?樣品處理很方便,無須噴金使其導(dǎo)電。?實(shí)驗(yàn)條件要求不高,常溫常壓
2025-08-04 17:08
【總結(jié)】?掃描電鏡主要性能及基本結(jié)構(gòu)?掃描電鏡基本工作方式?掃描電鏡最新進(jìn)展掃描電子顯微術(shù)在樣品表面掃描振幅ASAC在陰極射線管上掃描振幅M=AC/AS分辨率D0D0=兩亮區(qū)之間的最小暗間隙寬度/放大倍數(shù)?放大倍數(shù):取決于入射電子束在樣品上的掃描振幅;
2025-05-10 10:09
【總結(jié)】電子顯微分析四川大學(xué)分析測(cè)試中心王輝2021年9月聯(lián)系方式?辦公室:85412850?手機(jī):13982021852?E_mail:參考資料:?電子顯微鏡圖象分析原理與應(yīng)用,黃孝瑛著,宇航出版社1989?電子顯微鏡的原理和設(shè)計(jì),西門
2025-05-09 06:30
【總結(jié)】?透射電鏡基本結(jié)構(gòu)及主要性能?透射電鏡基本工作方式?TEM技術(shù)最新進(jìn)展透射電子顯微術(shù)JEM-2500SE?照明系統(tǒng):電子槍、聚光鏡、束平移偏轉(zhuǎn)線圈、聚光鏡光闌;?樣品室:雙傾臺(tái)、旋轉(zhuǎn)臺(tái)、拉伸臺(tái)、加熱臺(tái)、冷卻臺(tái);?成像系統(tǒng):物鏡、