[理學(xué)]材料現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)-資料下載頁
2024-10-16 21:16本頁面
【正文】 20倍，可調(diào) 節(jié)。 /衍射模式選擇。 如果把中間鏡的物平面和物鏡的像平面重合，則在熒光屏上得到一幅放大像，這就是 電子顯微鏡中的成像操作。 如果把中間鏡的物平面和物鏡的背焦面重合，則在熒光屏上得到一幅電子衍射花樣，這就是透射電子顯微鏡中的 電子衍射操作 物鏡背焦面 透射電子顯微鏡襯度原理 電鏡形成的圖像要為人眼所感知，其亮度必須有一定明暗差別，也稱襯度。 確切說像襯度就是像各部分強(qiáng)度 (或光密度 )相對(duì)于其平均強(qiáng)度 (背景 )的變化。 薄樣品成像時(shí)，未經(jīng)散射的電子是構(gòu)成背景的主要成份．而襯度決定于樣品各部分對(duì)電子的不同散射效果。 在透射電子像中．主要有兩種襯度形成機(jī)制：質(zhì)厚襯度和衍射襯度 質(zhì)厚襯度原理圖 樣品比較薄，只考慮雙光束：透射束和衍射束，忽略其它散射，吸收等。 掃描電子顯微鏡的主要性能 掃描電子顯微鏡的主要信號(hào)及其分辨率 掃描電子顯微鏡的分辨率就是二次電子的分辨率 橫向擴(kuò)展后作用體積就是成像單元 掃描電鏡像的襯度 掃描電鏡圖象的襯度是信號(hào)襯度，根據(jù)形成的依據(jù)，掃描電鏡的襯度可分為 形貌襯度和原子序數(shù)襯度。 四 電子探針顯微分析 原理 ： 用細(xì)聚焦電子束入射樣品表面，激發(fā)出樣品元素的特征 x射線。 分析特征 x射線的波長 (或特征能量 )即可知道樣品中所含元素的種類 (定性分析 )。 分析 x射線的強(qiáng)度，則可知道樣品中對(duì)應(yīng)元素含量的多少 (定量分析 )。 電子探針的信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)是 x射線譜儀 ，用來測(cè)定特征波長的譜儀叫做 波長分散譜儀(WDS)或波譜儀 。 用來測(cè)定 x射線特征能量的譜儀叫做 能量分散譜儀 (EDS)或能譜儀 AFM XPS STM IR TG DTA DSC
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