現(xiàn)代分析測試技術ppt課件-資料下載頁
2025-01-17 18:06本頁面
【正文】 器 Rayleigh Limit Reached + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + Evaporation + + Charged Droplets 試樣離子 準分子離子 Analyte Ions Solvent Ion Clusters Salts/Ion pairs Neutrals + + + + + + + + 其他離子 電噴霧電離 現(xiàn)代分析測試技術概述 分辨本領 1) 人的眼睛僅能分辨 2) 光學顯微鏡，人們可觀察到象細菌那樣小的物體 (200nm)。 3) 用光學顯微鏡來揭示更小粒子的顯微組織結構是不可能的，受光學顯微鏡分辨本領 (或分辨率 )的限制。 現(xiàn)代分析測試技術概述 透射電子顯微 (TEM) d= l /? d為顯微鏡的分辨本領； l為 光的波長；?為透鏡的孔徑 ， 最大值為 。 因此 ， d= 1/ 當光的波長為 400nm, 則 d=200nm。 限制顯微鏡的分辨本領的因素： 這主要是由于光波的衍射現(xiàn)象 。 1924年法國物理學家德 .布羅意 (De Broglie)提出一個假設：運動的微觀粒子 (如電子、中子、離子等 )與光的性質之間存在著深刻的類似性，即微觀粒子的運動服從波 粒兩象性的規(guī)律。兩年后通過電子衍射證實了這個假設。 電子射線的波長 l與其加速電壓 V的關系為： l ＝ （ 150/V)1/2 (197。) 電子顯微鏡的分辨本領 不同加速電壓下的電子波長 加速電壓 /kV 20 30 50 100 200 500 1000 電子波長 （ nm） 6 7 54 37 25 14 07 d0 = 103/102 = nm (100KV) 現(xiàn)代分析測試技術概述 現(xiàn)代分析測試技術概述 TEM of MWCNTs HRTEM imagesof MWCNTs 現(xiàn)代分析測試技術概述 現(xiàn)代分析測試技術概述 現(xiàn)代分析測試技術概述 掃描電子顯微 (SEM) 掃描電鏡的成像原理 ， 和透 射電鏡大不相同 ， 它不用什么透鏡來進行放大成像 ， 而是象閉路電視系統(tǒng)那樣 ， 用電子束在樣品表面逐點逐行掃描成像 。 由三極電子槍發(fā)射出來的電子束 ，在樣品表面按順序逐行進行掃描 ， 激發(fā)樣品產(chǎn)生各種物理信號 ， 如二次電子 、 X射線等 。 這些物理信號的強度隨樣品表 面特征而變 。 它們分別被相應的收集器接受 ， 經(jīng)放大器按順序 、 成比例地放大后 ， 送到顯像管 。 因此 ， 在熒光屏上就可顯示樣品表面起伏的二維圖像 。 掃描電鏡 儀 JSM－ 7000F 場發(fā)射掃描電鏡 ： (30kV)/(1kV) ： ： 10500K 5nA， WD10mm,15kV時分辨率 ： 1012到 2X107A JSM－ 6380LV掃描電鏡 ： 低真空模式： 1 to 270Pa，高、低真空切換 X:80mm Y:40mm T:10 to +90degree R:360degree to 30Kv束流 1pA— 1uA 現(xiàn)代分析測試技術概述 SEM的應用 現(xiàn)代分析測試技術概述 現(xiàn)代分析測試技術概述 現(xiàn)代分析測試技術概述 現(xiàn)代分析測試技術概述 原子力顯微鏡 (AFM) 原子力顯微鏡的基本原理是：將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將對應于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運動。利用光學檢測法或隧道電流檢測法，可測得微懸臂對應于掃描各點的位置變化，從而可以獲得樣品表面形貌的信息。 原子力顯微鏡的應用 現(xiàn)代分析測試技術概述 現(xiàn)代分析測試技術概述 DNA納米操縱 現(xiàn)代分析測試技術概述
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