【總結(jié)】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1第三部分電子顯微分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2第五章電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)電子顯微分析電子顯微鏡一般由電子光學(xué)系統(tǒng),信號(hào)收集及顯示系統(tǒng),真空系統(tǒng)及電源系統(tǒng)組成。武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳31電子光學(xué)系統(tǒng)(1)電子顯微分析第
2024-10-16 19:47
【總結(jié)】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1第三部分電子顯微分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2第四章電子顯微鏡的主要圖象電子顯微分析1二次電子產(chǎn)額及二次電子像2背散射電子像3吸收電子像4X射線(xiàn)成分像5俄歇電子像6透射電子像武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳3
2025-01-16 00:44
【總結(jié)】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1第一部分X射線(xiàn)衍射分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2第三章.晶體對(duì)X射線(xiàn)的衍射1衍射的概念2勞埃方程式3布拉格方程式4兩種方程式的統(tǒng)一5布拉格方程式的意義6布拉格方程式和衍射方向
2025-01-20 09:46
【總結(jié)】X射線(xiàn)衍射“衍射”:散射波的干涉材料現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)重點(diǎn):?X射線(xiàn)本質(zhì)、條件,X射線(xiàn)光譜?特征x射線(xiàn)?x射線(xiàn)與物質(zhì)相互作用?X射線(xiàn)衍射方向:勞埃方程式和布拉格方程式。?衍射矢量方程和愛(ài)瓦爾德圖解?X射線(xiàn)衍射束的強(qiáng)度:結(jié)構(gòu)因子Fhkl?X射線(xiàn)衍射方法:X射線(xiàn)衍射儀
2024-10-16 21:16
【總結(jié)】現(xiàn)代分析測(cè)試技術(shù)主講:何品剛現(xiàn)代分析測(cè)試技術(shù)第一章現(xiàn)代分析測(cè)試技術(shù)概述現(xiàn)代分析測(cè)試技術(shù)概述分析測(cè)試技術(shù)獲取物質(zhì)的組成、含量、結(jié)構(gòu)、形態(tài)、形貌以及變化過(guò)程的技術(shù)和方法。分析測(cè)試技術(shù)和分析化學(xué)密不可分,隨第一臺(tái)天平儀器的問(wèn)世,測(cè)試技術(shù)經(jīng)過(guò)幾百年的發(fā)展,目前已成為各行各業(yè)必不可少的技術(shù)。
2025-01-17 18:06
【總結(jié)】本設(shè)備適用范圍?:無(wú)機(jī)物包括金屬、半導(dǎo)體、磁性材料、陶瓷、玻璃、粉劑的觀察,有機(jī)物方面包括薄膜、高分子、纖維的觀察,還有一些特殊界面如摩擦表面、腐蝕面的觀察。?:材料表面光潔度測(cè)定、磁場(chǎng)、摩擦力等特性的測(cè)試。AFM的優(yōu)點(diǎn):?分辨率更高。?樣品處理很方便,無(wú)須噴金使其導(dǎo)電。?實(shí)驗(yàn)條件要求不高,常溫常壓
2024-08-13 17:08
【總結(jié)】?掃描電鏡主要性能及基本結(jié)構(gòu)?掃描電鏡基本工作方式?掃描電鏡最新進(jìn)展掃描電子顯微術(shù)在樣品表面掃描振幅ASAC在陰極射線(xiàn)管上掃描振幅M=AC/AS分辨率D0D0=兩亮區(qū)之間的最小暗間隙寬度/放大倍數(shù)?放大倍數(shù):取決于入射電子束在樣品上的掃描振幅;
2025-05-10 10:09
【總結(jié)】電子顯微分析四川大學(xué)分析測(cè)試中心王輝2021年9月聯(lián)系方式?辦公室:85412850?手機(jī):13982021852?E_mail:參考資料:?電子顯微鏡圖象分析原理與應(yīng)用,黃孝瑛著,宇航出版社1989?電子顯微鏡的原理和設(shè)計(jì),西門(mén)
2025-05-09 06:30
【總結(jié)】?透射電鏡基本結(jié)構(gòu)及主要性能?透射電鏡基本工作方式?TEM技術(shù)最新進(jìn)展透射電子顯微術(shù)JEM-2500SE?照明系統(tǒng):電子槍、聚光鏡、束平移偏轉(zhuǎn)線(xiàn)圈、聚光鏡光闌;?樣品室:雙傾臺(tái)、旋轉(zhuǎn)臺(tái)、拉伸臺(tái)、加熱臺(tái)、冷卻臺(tái);?成像系統(tǒng):物鏡、
【總結(jié)】現(xiàn)代熱工測(cè)試技術(shù)復(fù)習(xí)題一.單選題1.有一熱電阻為一次元件的測(cè)溫儀表.其示值比實(shí)際值偏低或指示不穩(wěn)定,可能原因()A.接線(xiàn)盒的接線(xiàn)端處有塵土或鐵屑B.電阻元件電阻絲斷C.電阻元件的連接導(dǎo)線(xiàn)短路()
2024-08-14 09:48
2024-12-23 12:29
【總結(jié)】1紫外光譜法紅外光譜法分子熒光光譜法分子磷光光譜法核磁共振波譜法分子光譜分析法拉曼光譜法分子吸收
【總結(jié)】教案第十四周,3學(xué)時(shí)?教學(xué)內(nèi)容:第十四章熱分析技術(shù)?教學(xué)目標(biāo):了解差熱分析和熱重分析TGA,掌握示差掃描量熱法,了解熱分析技術(shù)在高聚物研究中的應(yīng)用。?重點(diǎn):示差掃描量熱法?難點(diǎn):熱重分析?方法:講授、討論、實(shí)例?準(zhǔn)備:多媒體?過(guò)程:后附課件材料近代分析測(cè)試方法
2025-01-17 07:10
2025-05-05 18:53
【總結(jié)】試卷編號(hào):(A)卷課程編號(hào):H57010004課程名稱(chēng):材料現(xiàn)代測(cè)試分析技術(shù)考試形式:閉卷適用班級(jí):姓名:學(xué)號(hào):
2024-08-14 08:28