材料分析測(cè)試技術(shù)ppt課件(編輯修改稿)
2025-06-01 18:53 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 （分子）熒光光譜 GC gas chromatrometry 氣相色譜法 HEED high energy electron diffraction 高能電子衍射 INS ion neutralization spectroscopy 離子中和譜 IR infrared absorption spectrum 紅外分子吸收光譜 ISS ion scattering spectroscopy 離子散射譜 LC liquid chromatography 液相色譜法 LEED low enery electron diffraction 低能電子衍射 MS mass spectroscopy 質(zhì)譜 NMR nuclear magic resonance spectroscopy 核磁共振波譜 PS photoelectron spectroscopy 光電子譜 RHEED reflection high energy electron diffraction 反射式高能電子衍射 SAM scanning Auger microprobe 掃描俄歇探針 SEAM scanning acoustic microscope 掃描電子聲學(xué)顯微鏡 SEM scanning electron microscope 掃描電子顯微鏡 SIMS secondary ion mass spectroscopy 二次離子質(zhì)譜 SNMS secondary neutral mass spectroscopy 二次中子離子譜 STM scanning tunneling microscope 掃描隧道顯微鏡 STS scanning tunneling spectrograph 掃描隧道譜 TA thermal analysis 熱分析 TEM transmission electron microscope 透射電子顯微鏡 TG thermogravimetry 熱重法 TMA thermomechanical analysis 熱機(jī)械分析法 TOFSIMS timeofflight SIMS 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜 UPS ultravioletphotoelectron spectroscopy 紫外光電子能譜 ultraviolet amp。 visible absorption spectrum 紫外、可見(jiàn)（分子）吸收光譜 WDS wave dispersive spectroscopy 波長(zhǎng)色散譜（波譜） WDXFS wave dispersive XFS X射線熒光 XAES Xrey AES X射線引發(fā)俄歇能譜 XD Xray diffraction X射線衍射 XPS Xray photoelectron spectroscopy X射線光電子能譜 XFS Xray fluorescence spectrometry X射線熒光光譜 XPF Xray fluorescence X射線熒光 續(xù)附錄 1. 附表 1 近代顯微鏡的分類 光 源 （激發(fā)源） 照射方式 物理效應(yīng) 主要成像信息 顯微鏡名稱 符號(hào) 光 束 靜 止 掃 描 反射或吸收 光聲效應(yīng) 光 子 聲 子 光學(xué)顯微鏡 光聲顯微鏡 OM SPAM 電子束 靜 止 透射或衍射 透射或衍射 透射和衍射電子 透射和衍射電子 普通透射電鏡 高壓透射電鏡 OTEM HVEM 掃 描 透射或衍射 散射和原子電離 熱彈性效應(yīng) 透射和衍射電子 二次電子 聲波 掃描透射電鏡 表面掃描電鏡 掃描電子聲學(xué)顯微鏡 STEM SEM SEAM 離子束 掃 描 濺 射 二次離子 二次離子顯微鏡 SLMSM 聲 束 掃 描 反射和透射 聲光效應(yīng) 聲 波 光 子 掃描聲學(xué)顯微鏡 掃描聲光顯微鏡 SAM SLAM 電 場(chǎng) 靜 止 掃 描 場(chǎng)蒸發(fā)效應(yīng) 隧道效應(yīng) 正離子 隧道電流 場(chǎng)離子顯微鏡 掃描隧道顯微鏡
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