【總結(jié)】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1ModernTestingTechnique(Mainlyinmineralmaterialanalysis)礦物材料現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)資環(huán)學(xué)院管俊芳武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2Purpose:Learnhowtomeasureordetermine
2024-10-16 19:47
【總結(jié)】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1第四部分紅外光譜分析激光拉曼光譜分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2第一章紅外光譜紅外-拉曼1概述2紅外光區(qū)的劃分3紅外吸收產(chǎn)生的原理4紅外分析方法5典型紅外圖譜武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳31概述(1)紅
2025-01-03 03:23
【總結(jié)】多晶體X射線衍射分析方法德拜照相法?粉末多晶中不同的晶面族只要滿足衍射條件都將形成各自的反射圓錐。?如何記錄下這些衍射花樣呢?一種方法是用平板底片被X射線衍射線照射感光,從而記錄底片與反射圓錐的交線。如果將底片與入射束垂直放置,那么在底片上將得到一個(gè)個(gè)同心圓環(huán),這就是針孔照相法。?但是受底片大小的限制,一張底片不能記錄下所有的衍射
2024-12-08 10:06
【總結(jié)】本部分的主要目的:介紹透射電鏡分析、掃描電鏡分析、表面成分分析及相關(guān)技術(shù)的基本原理,了解透射電鏡樣品制備和分析的基本操作和步驟,掌握掃描電鏡在材料研究中的應(yīng)用技術(shù)。在介紹基本原理的基礎(chǔ)上,側(cè)重分析技術(shù)的應(yīng)用!講課18學(xué)時(shí),實(shí)驗(yàn):4學(xué)時(shí),考試2學(xué)時(shí)。電子顯微分析技術(shù)主要要求:1)掌握透射電鏡分析、
2025-02-21 10:03
【總結(jié)】1X射線衍射分析技術(shù)X射線2第一節(jié)X射線衍射分析基礎(chǔ)?X射線的發(fā)現(xiàn)?1895年11月8日,德國(guó)物理學(xué)家倫琴在研究真空管高壓放電現(xiàn)象是偶然發(fā)現(xiàn)的?X射線又稱(chēng)倫琴射線?倫琴獲得1901諾貝爾物理學(xué)獎(jiǎng)3X衍射分析歷史?1895年倫琴發(fā)現(xiàn)具有特別強(qiáng)的穿透力的X射線?
2025-05-10 16:46
【總結(jié)】1第7章X射線衍射2主要內(nèi)容:?X射線概述?X射線衍射原理?X射線衍射分析方法?X射線衍射在高聚物中的應(yīng)用3X射線概述?當(dāng)高速電子沖擊到陽(yáng)極靶上時(shí)就產(chǎn)生X射線。X射線和光波相同,是一種電磁波,它顯示波粒二象性,但波長(zhǎng)較光波更短一些。X射線的波長(zhǎng)范圍在~100?。
2025-01-14 07:49
【總結(jié)】六多晶體衍射技術(shù)的進(jìn)展X射線源的進(jìn)展一、實(shí)驗(yàn)室X射線源1、高功率:轉(zhuǎn)靶X射線發(fā)生器常用:18kW(12kW),60kV300mA最高:90kW,150kW,(常規(guī):、60kV、80mA)高頻高壓發(fā)生器:穩(wěn)定度高、體積小2、高亮度:微小焦點(diǎn)、節(jié)能,亮度大于轉(zhuǎn)靶Oxford,
2025-05-07 18:15
【總結(jié)】X射線多晶衍射分析技術(shù)福州大學(xué)測(cè)試中心黃清明Email:材料:你們最關(guān)心的是什么?性能:你認(rèn)為與哪些因素有關(guān)?結(jié)構(gòu):有哪些檢測(cè)分析技術(shù)?緒論第1章晶體學(xué)基礎(chǔ)?晶體特性?晶體的結(jié)構(gòu)與空間點(diǎn)陣?均勻性:晶體內(nèi)部各個(gè)部分的宏觀性質(zhì)是相同的。
2025-05-11 01:17
【總結(jié)】材料現(xiàn)代測(cè)試分析技術(shù)第一章材料現(xiàn)代測(cè)試分析技術(shù)概述第一節(jié)一般原理材料現(xiàn)代測(cè)試分析技術(shù)是關(guān)于材料成分、結(jié)構(gòu)、微觀形貌與缺陷等的現(xiàn)代分析、測(cè)試技術(shù)及其有關(guān)理論基礎(chǔ)的科學(xué)。?不僅包括材料(整體的)成分、結(jié)構(gòu)分析,也包括材料表面與界面分析、微區(qū)分析、形貌分析等諸多內(nèi)容。
2025-04-29 12:11
【總結(jié)】X射線衍射晶體學(xué)晶體和非晶體晶體是質(zhì)點(diǎn)(原子、離子或分子)在空間按一定規(guī)律周期性重復(fù)排列構(gòu)成的固體物質(zhì)。非晶體是指組成物質(zhì)的分子(或原子、離子)不呈空間有規(guī)則周期性排列的固體。它沒(méi)有一定規(guī)則的外形,如玻璃、松香、石蠟等。它的物理性質(zhì)在各個(gè)方向上是相同的,叫“各向同性”。它沒(méi)有固定的熔點(diǎn)。所以有人把非晶體叫做“過(guò)冷液體”或“流動(dòng)性
2025-08-05 09:22
【總結(jié)】現(xiàn)代測(cè)試分析技術(shù)在礦物材料中的應(yīng)用研究摘 要通過(guò)對(duì)礦物材料的成分、結(jié)構(gòu)和理化性能的測(cè)定,介紹了EPMA、AAS、XPS、SEM、TEM、XRD等多種現(xiàn)代測(cè)試分析儀器及其技術(shù)特點(diǎn)和應(yīng)用范圍。文章指出,新的現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)的出現(xiàn)和技術(shù)進(jìn)步推動(dòng)著礦物材料科學(xué)研究向更深、更廣的領(lǐng)域邁進(jìn),以后應(yīng)進(jìn)一步擴(kuò)大現(xiàn)代測(cè)試分析技術(shù)在各個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用,提高其
2025-08-05 09:43
【總結(jié)】第十一章電子探針X射線顯微分析?概述?顯微分析特點(diǎn)?構(gòu)造與工作原理?樣品制備?分析方法一、概述?電子探針是電子探針X射線顯微分析儀的簡(jiǎn)稱(chēng),英文縮寫(xiě)為EPMA(ElectronprobeX-raymicroanalyser)。?電子探針儀是一種微區(qū)成分分析儀器,它利用
2025-01-03 22:41
【總結(jié)】教案第五周,2學(xué)時(shí)?教學(xué)內(nèi)容:第四章多晶體的物相分析?教學(xué)目標(biāo):理解X射線物相分析概念,掌握X射線物相定性分析原理和技術(shù)。?重點(diǎn):X射線物相定性分析技術(shù)?難點(diǎn):定性分析原理?方法:講授、討論、實(shí)例?準(zhǔn)備:多媒體?過(guò)程:后附課件材料近代分析測(cè)試方法第四章多
2025-01-12 07:54
【總結(jié)】第一部分材料X射線衍射分析一、粉末法的基本原理在X射線衍射分析的三個(gè)主要方法中我們最常用的是粉末法。這種方法最早是由德國(guó)的德拜和謝樂(lè)于1916年提出來(lái)的。粉末法故名思義,它樣品是“粉末”,即樣品是由細(xì)小的多晶質(zhì)物質(zhì)組成。理想的情況下,在樣品中有無(wú)數(shù)個(gè)小晶粒(一般晶粒大小為1μ,而X射線照射的體積約為1mm3,在這個(gè)體積內(nèi)
2025-01-14 05:01
【總結(jié)】作業(yè)1、層狀粘土礦物結(jié)構(gòu)特點(diǎn)和物理性能特點(diǎn)2、說(shuō)明鋁在硅酸鹽中的兩種存在形式。3、硅酸鹽的主要絡(luò)陰離子類(lèi)型第九章礦物材料目錄1、概述2、礦物材料應(yīng)用3、礦物材料論述礦物材料概念以天然礦物(主要是非金屬礦物)和巖石為主要原料,以利用其技術(shù)物理性
2025-05-01 22:14