材料分析測(cè)試技術(shù)ppt課件-文庫(kù)吧資料
2025-05-11 18:53本頁(yè)面
【正文】 ） 檢測(cè)信號(hào) （出射束） 備注 光 電子 能譜 X射線光電子能譜 XPS 或ESCA X 光子（ 單色 ） 樣品光電離 光電子 樣品芯 （ 內(nèi)層 ）能級(jí)光電子譜 紫外光電子能譜 UPS 或PES 紫外光電子 （ 單色 ） 樣品光電離 光電子 樣品價(jià)態(tài)層能級(jí)光電子譜 俄歇電子能譜 X射線引發(fā)俄歇能譜 XAES X光子 X光子引發(fā)樣品俄歇效應(yīng) 俄歇電子 俄歇電子動(dòng)能只能與樣品元素組成有關(guān) ， 不隨入射光子 （ 或粒子 ）的能量而改變 ，故入射束不需單色 電子引發(fā)俄歇能譜 EAES或AES 電子（束） 電子束引發(fā)樣品俄歇效應(yīng) 俄歇電子 離子中和譜 INS 離子（束） 離子 （ 束 ） 轟擊樣品 ， 產(chǎn)生俄歇電子 俄歇電子 INS給出固體價(jià)態(tài)密度信息 ， 用于固體表面分析 ，比 UPS靈敏度高 電子（轟擊）能量損失譜 ELS或EELS 電子（束）（單色） 樣品對(duì)電子的非彈性散射 非 彈 性 散射 電 子（ 特 征 能量 ） 給出固體費(fèi)米能級(jí)以上空帶密度的信息 ， 而 XPS、AES等給出的是費(fèi)米能級(jí)以下填充態(tài)密度信息 附表 分析方法 AES XPS UPS 元素定性分析 適于除 H、 He以外的所有元素 適于除 H、 He以外的所有元素 不適于元素定性分析 元素定量分析 一般用與 Z（ 原子序數(shù) ） ﹤ 33的元素 。 熱膨脹分析對(duì)試樣有何要求？ 附錄 1 分析方法符號(hào)與所縮略語(yǔ) AAS atomic a AAS atomic absorption spectrometry 原子吸收光譜 AES atomic emission spectrometry 原子發(fā)射光譜 AES Auger electron spectroscopy 俄歇電子譜 AFM atomic force microscope 原子力顯微鏡 AFS atomic fluorescence spectrometry 原子熒光光譜 AP－ FIM atomprobefield emission microscope 原子探針－場(chǎng)離子顯微鏡 CL cathodoluminescence 陰極熒光 DMA dynamic mechanical analysis 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械法 DSC differential scanning calorimetry 差示掃描量熱法 DTA differential thermal analysis 差熱分析 EAES electron AES 電子引發(fā)俄歇能譜 EDS energy dispersive spectroscopy 能量色散譜（能譜） EDXFS energy dispersive XFS X射線熒光能譜 EELS electron energy loss spectroscopy 電子能量損失譜 EPMA
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