測(cè)試與分析ppt課件-文庫吧資料
2025-05-10 04:17本頁面
【正文】 但用 X射線衍射技術(shù)所測(cè)定的結(jié)果比用透射電鏡衍射技術(shù)測(cè)定的結(jié)果更精確。目前，電子衍射一般都在透射電鏡中進(jìn)行。 SEM ?parison 顯微鏡類型 照明源 照射方式 成像信息 OM 可見光 光束在試樣上以靜 止方式投射 反射光 /投射光 SEM 電子束 電子束在試樣上作 光柵狀掃描 反射電子 ● Pictures of SEM 注射針頭的掃描電鏡照片 Pictures of SEM 果蠅： 不同倍率的掃描電鏡照片 Features of SEM 高分辨率 Features of SEM 強(qiáng)立體感 （ 1）基本原理 金屬和其他晶體物質(zhì)都是由在三維空間內(nèi)周期性的有規(guī)則排列的許多質(zhì)點(diǎn)（即原子、離子或原子集團(tuán)）所組成，這些質(zhì)點(diǎn)對(duì)具有適當(dāng)波長(zhǎng)的輻射波（如 X射線，電子束或中子束）的彈性相干散射，將會(huì)產(chǎn)生衍射現(xiàn)象。 1942： 劍橋大學(xué)的 馬倫 首次制成世界第一臺(tái)掃描電鏡。 有：二次電子、背散射電子、陰極發(fā)光、特征 X 射線、俄歇過程和俄歇電子、吸收電子、透射電子等。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，必須制備更薄的超薄切片（通常為 50～ 100nm）。 （ 1）透射式電子顯微鏡 透射電鏡（ transmission electron microscope） 是以電子束透過樣品經(jīng)過聚焦與放大后所產(chǎn)生的物像， 投射到熒光屏上或照相底片上進(jìn)行觀察。目前 TEM的分辨力可達(dá) 。 1965 第一部商用 SEM出現(xiàn) (Cambridge) 1966 JEOL 發(fā)表第一部商用 SEM(JSM1)在光學(xué)顯微鏡下無法看清小于 ，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)（ submicroscopicstructures） ,看清這些結(jié)構(gòu)，就必須選擇波長(zhǎng)更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。Aring。Aring。 1940～41 RCA 公司推出 美國(guó) 第一部穿透式電子顯微鏡 (解像力 50 nm) 。 1938～39 穿透式電子顯微鏡正式上市（ 西門子 公司 , 50KV~100KV, 解像力 20~30amp。 193
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