材料現(xiàn)代測試分析技術(shù)-文庫吧資料
2025-05-05 12:11本頁面
【正文】 的散射 . 瑞利和拉曼散射的能級圖 散射譜線 處于基態(tài)的分子與光子發(fā)生非彈性碰撞，獲得能量到激發(fā)態(tài)可得到斯托克斯線；反之，若分子處于激發(fā)態(tài)，與光子發(fā)生非彈性碰撞就會釋放能量而回到基態(tài)，得到反斯托克斯線 . 拉曼散射線與入射線波長稍有不同 ,若光子把一部分能量給樣品分子，得到的散射光能量減少，其波長增大，這樣的散射線稱為斯托克斯線；反之若光子從樣品分子中獲得能量，在小于入射光波長處接收到散射光線，則稱為反斯托克斯線 . 在光譜上斯托克斯線和反斯托克斯線出現(xiàn)在入射光譜線附近 ,稱為 拉曼散射譜 .斯托克斯線或反斯托克斯線與入射光頻率之差稱為 拉曼位移 . 拉曼散射產(chǎn)生的 實質(zhì) 在于入射光子與分子作用時分子的振動能級或轉(zhuǎn)動能級 躍遷 .拉曼位移的大小和分子的躍遷能級差一樣 . 拉曼散射譜譜線的多少、強(qiáng)度與波長等均與分子的能級結(jié)構(gòu)、性質(zhì)等密切相關(guān) . 拉曼散射譜是含有物質(zhì)特征信息的光譜 . 拉曼位移的大小與入射光的頻率無關(guān) ,只與分子的能級結(jié)構(gòu)相關(guān) ,其范圍為 4000~25cm1 ,因此入射光的能量應(yīng)大于分子振動躍遷所需能量，小于電子能級躍遷能量． 廣泛應(yīng)用于有機(jī)、無機(jī)、高分子、生物、環(huán)保等領(lǐng)域 線型聚乙烯的拉曼光譜 四、光譜的分類 按輻射與物質(zhì)相互作用性質(zhì) 吸收光譜 發(fā)射光譜 散射光譜 原子光譜 分子光譜 按發(fā)生作用 的物質(zhì)微粒 紅外光譜 紫外光譜 可見光譜 X射線譜 …….. 按譜域 按強(qiáng)度對波長的分布特點 連續(xù)光譜 線光譜 帶光譜 鈉蒸氣吸收光譜 氫原子發(fā)射光譜 苯蒸氣吸收光譜 氰分子發(fā)射光譜 光譜分類名稱 作用物質(zhì) 能級躍遷類型 吸收或發(fā)射 輻射種類 備注 吸 收 光 譜 穆斯堡爾譜 原子核 原子核能級 γ 射線 X射線吸收譜 原子 (內(nèi)層電子 ) 電子能級躍遷 (低能級到高能級 ) X射線 Z10的重元素 , 自由 (氣態(tài) )原子 原子吸收光譜 原子 (外層電子 ) 價電子能級躍遷 (低能級到高能級 ) 紫外線、可見光 自由 (氣態(tài) )原子 紫外、可見吸收光譜 分子 (外層電子 ) 分子電子能級躍遷 (低能級到高能級 ) 紫外線、可見光 紅外吸收光譜 分子 分子振動能級躍遷 (低能級到高能級 ) 紅外線 順磁共振波譜 原子 (未成對電子 ) 電子自旋能級（磁能級）躍遷 微波 核磁共振波譜 原子核 原子核磁能級躍遷 射頻 發(fā) 射 光 譜 X射線熒光光譜 原子中電子 電子能級躍遷 熒光 光致發(fā)光 原子發(fā)射光譜 原子 (外層電子 ) 價電子能級躍遷 (高能級到低能級 ) 紫外線、可見光 自由原子 原子熒光光譜 原子 (外層電子 ) 價電子能級躍遷 (高能級到低能級 ) 紫外線、可見光(原子熒光 ) 光致發(fā)光， 自由原子 分子熒光光譜 分子 分子能級 紫外線、可見光(分子熒光 ) 光致發(fā)光 分子磷光光譜 分子 分子能級 紫外線、可見光(分子磷光 ) 光致發(fā)光 吸收與發(fā)射光譜分類 五、光譜分析方法的大致應(yīng)用 分析方法 (縮寫 ) 樣品 基本分析項目與應(yīng)用 應(yīng)用特點 原子發(fā)射光譜分析 (AES) 固體與液體樣品 ,分析時被蒸發(fā)、解離為氣態(tài)原子 元素定性、半定量與定量分析(可測所有金屬和譜線處于真空紫外區(qū)的 C、 S、 P等非金屬共七、八十種元素 .對于無機(jī)物分析 ,是最好的定性、半定量分析方法 ) 靈敏度高 ,準(zhǔn)確度較高 。 受激后輻射發(fā)射 ——二次光子、熒光、磷光 物質(zhì)粒子發(fā)射輻射的強(qiáng)度 (能量 )對 ν或 λ的分布稱為 發(fā)射光譜 。 12 EEEhv ??????輻射的發(fā)射 是指物質(zhì)吸收能量后產(chǎn)生電磁輻射的現(xiàn)象。 輻射吸收的實質(zhì)在于輻射使物質(zhì)粒子發(fā)生由低能級（一般為基態(tài)）向高能級（激發(fā)態(tài)）的能級躍遷。 光譜分析方法的技術(shù)基礎(chǔ)是電磁輻射與材料相互作用而產(chǎn)生的 輻射的吸收、發(fā)射、散射等 。 單晶電子衍射花樣 優(yōu)于 。 約 177。 ~3。 ~180。 電子衍射的分類： 按入射電子能量的大小 按電子束是否穿透樣品 高能電子衍射 低能電子衍射 透射式電子衍射 反射式電子衍射 高能電子衍射分析（ HEED） 入射電子能量 10~200keV 透射電子顯微鏡（ TEM） —— 可實現(xiàn)樣品選定區(qū)域的電子衍射分析 實現(xiàn) 微區(qū)樣品結(jié)構(gòu)分析與形貌觀察
物理相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1