礦物材料現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)2x射線分析5-文庫(kù)吧資料
2024-12-14 11:23本頁(yè)面
【正文】 等軸晶系、中級(jí)晶族（四方、斜方、六方）一般可以經(jīng)過(guò) 計(jì)算的方法 ，根據(jù)粉末衍射的數(shù)據(jù)可以求出各衍射線的指數(shù)； 低級(jí)晶族（單斜、三斜）則一般無(wú)法計(jì)算出，必須從單晶結(jié)構(gòu)分析得出。 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 19 4 粉晶 X射線衍射儀方法（ 15） 第四章 . 衍射強(qiáng)度和衍射方法 衍射圖譜處理過(guò)程示例 (1)原始圖譜 (2)平滑以后 (3)去掉背景 (4)標(biāo)注峰位 (5)圖譜比較 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 20 4 衍射數(shù)據(jù)的獲得 （ 1） 第四章 . 衍射強(qiáng)度和衍射方法 衍射數(shù)據(jù) : 面網(wǎng)間距 (d)，衍射強(qiáng)度 (I) 但由于無(wú)法真正獲得絕對(duì)的衍射強(qiáng)度數(shù)據(jù)，因?yàn)椴煌木w尺寸、不同的光源特征、不同的儀器種類，所獲得的實(shí)測(cè)衍射強(qiáng)度是完全不可比較的，因此在記錄衍射強(qiáng)度的時(shí)候，按相對(duì)強(qiáng)度記錄（ I/Io)。 角度校正，測(cè)角儀轉(zhuǎn)動(dòng)等。 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 16 4 粉晶 X射線衍射儀方法（ 12） 第四章 . 衍射強(qiáng)度和衍射方法 測(cè)角儀 ：光路系統(tǒng) 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 17 4 粉晶 X射線衍射儀方法（ 13） 第四章 . 衍射強(qiáng)度和衍射方法 強(qiáng)度測(cè)量系統(tǒng)： 常用于 X射線檢測(cè)的 檢測(cè)器 有： GeigerMuller檢測(cè)器（ GC）、正比檢測(cè)器（ PC）和 NaI(Tl)閃爍檢測(cè)器（ SC）。 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 13 4 粉晶 X射線衍射儀方法（ 9） 第四章 . 衍射強(qiáng)度和衍射方法 粉晶 X射線衍射儀的構(gòu)成方塊圖 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 14 4 粉晶 X射線衍射儀方法（ 10） 第四章 . 衍射強(qiáng)度和衍射方法 粉晶 X射線衍射儀外觀 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 15 4 粉晶 X射線衍射儀方法（ 11） 第四章 . 衍射強(qiáng)度和衍射方
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