礦物材料現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)2x射線分析5-wenkub
2022-12-23 11:23:12 本頁面
【正文】 在該圓周上的同一點(diǎn) J上，不同面網(wǎng)的衍射線則分別聚焦于該圓周上不同的點(diǎn)上。 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 6 4 粉晶 X射線衍射儀方法（ 2） 第四章 . 衍射強(qiáng)度和衍射方法 衍射原理解釋 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 7 4 粉晶 X射線衍射儀方法（ 3） 第四章 . 衍射強(qiáng)度和衍射方法 與照相方法相比 ： 照相法 是在整個(gè)圓周記錄，因此每一對(duì)弧線對(duì)應(yīng)的角度是 4?， (0－ 360 176。 ) 而衍 射儀法 則只在半圓周上記錄，因此對(duì)應(yīng)的角度為 2? （ 0－ 180176。 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 10 4 粉晶 X射線衍射儀方法（ 6） 第四章 . 衍射強(qiáng)度和衍射方法 X射線粉末衍射儀中平板樣品的聚焦的進(jìn)一步解釋： 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 11 4 粉晶 X射線衍射儀方法（ 7） 第四章 . 衍射強(qiáng)度和衍射方法 在衍射儀探測(cè)衍射信號(hào)的時(shí)候，為了使聚焦園始終存在，探測(cè)器與入射線夾角為 2?，樣品與入射線夾角為 ?。 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 16 4 粉晶 X射線衍射儀方法（ 12） 第四章 . 衍射強(qiáng)度和衍射方法 測(cè)角儀 ：光路系統(tǒng) 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 17 4 粉晶 X射線衍射儀方法（ 13） 第四章 . 衍射強(qiáng)度和衍射方法 強(qiáng)度測(cè)量系統(tǒng)： 常用于 X射線檢測(cè)的 檢測(cè)器 有： GeigerMuller檢測(cè)器（ GC）、正比檢測(cè)器（ PC）和 NaI(Tl)閃爍檢測(cè)器（ SC）。 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 19 4 粉晶 X射線衍射儀方法（ 15） 第四章 . 衍射強(qiáng)度和衍射方法 衍射圖譜處理過程示例 (1)原始圖譜 (2)平滑以后 (3)去掉背景 (4)標(biāo)注峰位 (5)圖譜比較 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 20 4 衍射數(shù)據(jù)的獲得 （ 1）
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