【摘要】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1第一部分X射線(xiàn)衍射分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2第四章.衍射強(qiáng)度和衍射方法4粉晶X射線(xiàn)衍射儀方法5衍射數(shù)據(jù)的獲得6衍射線(xiàn)條的指標(biāo)化武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳33粉晶X射線(xiàn)照相方法第四章.衍射強(qiáng)度和衍射方法武漢理工大學(xué)資
2024-12-11 11:23
【摘要】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1第一部分X射線(xiàn)衍射分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2第二章.晶體結(jié)構(gòu)概述(與X射線(xiàn)分析相關(guān)的)1晶體結(jié)構(gòu)基本特點(diǎn)2空間格子3面網(wǎng)及面網(wǎng)的表示4面網(wǎng)間距5
2024-10-21 18:15
【摘要】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1第一部分X射線(xiàn)衍射分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2第五章.X射線(xiàn)結(jié)果分析1衍射結(jié)果2精確測(cè)定晶胞參數(shù)3物相鑒定武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳31衍射結(jié)果(1)對(duì)于照相方法:一張德拜照片測(cè)量計(jì)算出的面網(wǎng)間距、強(qiáng)度衍射方法:張衍射圖
【摘要】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1第一部分X射線(xiàn)衍射分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2第三章.晶體對(duì)X射線(xiàn)的衍射1衍射的概念2勞埃方程式3布拉格方程式4兩種方程式的統(tǒng)一5布拉格方程式的意義6布拉格方程式和衍射方向
2025-01-23 09:45
【摘要】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1第一部分Xraydiffraction(XRD)X射線(xiàn)衍射分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2第一章.X射線(xiàn)的性質(zhì)1概述2X射線(xiàn)的性質(zhì)3X射線(xiàn)的產(chǎn)生4X射線(xiàn)與物質(zhì)的相互作用5物質(zhì)對(duì)
2024-10-19 19:47
【摘要】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1第一部分X射線(xiàn)衍射分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2第四章.衍射強(qiáng)度和衍射方法1衍射的強(qiáng)度2單晶X射線(xiàn)衍射方法3粉晶X射線(xiàn)衍射方法武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳31衍射的強(qiáng)度(1)第四章.衍射強(qiáng)度和衍射方法
【摘要】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1第一部分X射線(xiàn)衍射分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2第六章.X射線(xiàn)衍射結(jié)果應(yīng)用舉例1Kα、Kβ及Kα1、Kα2的鑒別2定量分析3納米物質(zhì)平均粒度分析4粘土礦物分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳31Kα、Kβ及Kα1、Kα2的鑒別
2024-10-19 19:48
2025-01-23 09:46
【摘要】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1第二部分xrayFluorescenceSpectroscope(XRF)X熒光成分分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2?某些物質(zhì)被一定波長(zhǎng)的光照射時(shí),會(huì)在一定時(shí)間內(nèi)發(fā)射出波長(zhǎng)比入射光長(zhǎng)的光,如果這個(gè)時(shí)間比較短,這種光就稱(chēng)為熒光。熒光由一種能發(fā)熒光的礦物??螢石(fluosr
2024-10-19 02:42
【摘要】第二章X射線(xiàn)衍射1.1895年倫琴發(fā)現(xiàn)X射線(xiàn)后,認(rèn)為是一種波,但無(wú)法證明。2.當(dāng)時(shí)晶體學(xué)家對(duì)晶體構(gòu)造(周期性)也沒(méi)有得到證明。1912年勞厄?qū)射線(xiàn)用于CuSO4晶體衍射同時(shí)證明了這兩個(gè)問(wèn)題,從此誕生了X射線(xiàn)晶體衍射學(xué)勞厄用X射線(xiàn)衍射同時(shí)證明了這兩個(gè)問(wèn)題:光柵常數(shù)(a+b)只要與點(diǎn)光源的
2025-03-25 04:16
【摘要】武漢理工大學(xué)資源學(xué)院管俊芳1參考題目(1)1.現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)在選礦中的應(yīng)用。2.紅外光譜在選礦中的應(yīng)用。3.現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)在鐵礦中的應(yīng)用。4.現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)在粘土礦物研究中的應(yīng)用。5.現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)在硅灰石加工中的應(yīng)用。6.現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)在云母加工中的應(yīng)用。7.現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)在礦物填料中的應(yīng)用。
【摘要】本章內(nèi)容:1、表面分析能譜的基本原理2、XPS的譜線(xiàn)識(shí)別、譜峰的位移3、XPS的實(shí)驗(yàn)方法及其應(yīng)用第十二章X射線(xiàn)光電子能譜X-rayPhotoelectronSpectroscopy光電子能譜同其他各種表面分析手段一樣,首先經(jīng)物理學(xué)家之手開(kāi)創(chuàng),并隨著它不斷完善,在化學(xué)、金屬學(xué)及表面科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)得到了廣泛的應(yīng)
2024-12-11 10:57
【摘要】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1ModernTestingTechnique(Mainlyinmineralmaterialanalysis)礦物材料現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)資環(huán)學(xué)院管俊芳武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2Purpose:Learnhowtomeasureordetermine