質(zhì)子x射線(xiàn)熒光分析-wenkub
2023-05-21 22:58:06 本頁(yè)面
【正文】 d5/2 3d3/2 2P3/2 2P1/2 2S1/2 L線(xiàn)系 K線(xiàn)系 特征 X射線(xiàn)能級(jí)圖解 躍遷定則 : △ l =177。 Sven A. E. Johansson等人 [1]，于 1970年首次開(kāi)展這方面的工作，并為人們所重視，且日益廣泛的被大家采用。 [1] Nuclear Instruments and Methods in Physics Research， 84（ 1970） P141 ： 3. PIXE分析具有靈敏、快速、取樣少和無(wú)損 分析等特點(diǎn)。 1 △ j = 0,177。.)...e x p().(.... ??????xC為待測(cè)元素的相對(duì)含量 為待測(cè)樣品的密度 為樣品對(duì) X射線(xiàn)的質(zhì)量吸收系數(shù) ???39。 . PIXE分析的特點(diǎn)及應(yīng)用 2. 應(yīng)用 ? 環(huán)境污染的監(jiān)測(cè)； ? 生物和醫(yī)學(xué)樣品的分析； ? 考古研究； ? 超重元素的探測(cè)； 空氣監(jiān)測(cè) 水質(zhì)監(jiān)測(cè) 土壤監(jiān)測(cè) 組織切片 頭發(fā)樣品 血液樣品等 ? 質(zhì)子微束及質(zhì)子顯微鏡。 在分析中采用的電子束能量在 3050keV量級(jí)，由于電子束存在較強(qiáng)的韌致輻射的本底干擾，使得特征 X射線(xiàn)疊加在一個(gè)平滑的本底之上，因而 EIX的靈敏度受到極大的限制。 洗凈樣
環(huán)評(píng)公示相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1