質(zhì)子x射線熒光分析-wenkub
2023-05-21 22:58:06 本頁面
【正文】 d5/2 3d3/2 2P3/2 2P1/2 2S1/2 L線系 K線系 特征 X射線能級圖解 躍遷定則 : △ l =177。 Sven A. E. Johansson等人 [1]，于 1970年首次開展這方面的工作，并為人們所重視，且日益廣泛的被大家采用。 [1] Nuclear Instruments and Methods in Physics Research， 84（ 1970） P141 ： 3. PIXE分析具有靈敏、快速、取樣少和無損 分析等特點。 1 △ j = 0,177。.)...e x p().(.... ??????xC為待測元素的相對含量 為待測樣品的密度 為樣品對 X射線的質(zhì)量吸收系數(shù) ???39。 . PIXE分析的特點及應(yīng)用 2. 應(yīng)用 ? 環(huán)境污染的監(jiān)測； ? 生物和醫(yī)學樣品的分析； ? 考古研究； ? 超重元素的探測； 空氣監(jiān)測 水質(zhì)監(jiān)測 土壤監(jiān)測 組織切片 頭發(fā)樣品 血液樣品等 ? 質(zhì)子微束及質(zhì)子顯微鏡。 在分析中采用的電子束能量在 3050keV量級，由于電子束存在較強的韌致輻射的本底干擾，使得特征 X射線疊加在一個平滑的本底之上，因而 EIX的靈敏度受到極大的限制。 洗凈樣
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