x射線衍射技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用-wenkub
2023-06-20 20:36:23 本頁面
【正文】 體存在。當(dāng)X射線照射到晶體物質(zhì)上,由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級,故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產(chǎn)生強X射線衍射, 衍射線在空間分布的方位和強度,與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)，不同的晶體物質(zhì)具有自己獨特的衍射花樣, 這就是X射線衍射的基本原理。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法, 已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。X射線衍射技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用 沈欽偉126406324 應(yīng)用化學(xué) 1引言 X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。 2X射線衍射基本原理 X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣,本質(zhì)上都屬于電磁波,只是彼此之間占據(jù)不同的波長范圍而已。 3 X射線衍射技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用 由X射線衍射原理可知,物質(zhì)的X射線衍射花樣與物質(zhì)內(nèi)部的晶體結(jié)構(gòu)有關(guān)。同時,根據(jù)X射線衍射試驗還可以進(jìn)行結(jié)晶物質(zhì)的定量分析、晶粒大小的測量和晶粒的取向分析。將待測樣品的衍射圖譜和各種已知單相標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的衍射圖譜對比, 從而確定物質(zhì)的相組成。無標(biāo)樣法和全譜擬合法雖然不需要配制一系列內(nèi)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)和繪制標(biāo)準(zhǔn)工作曲線,但需要煩瑣的數(shù)學(xué)計算,其實際應(yīng)用也受到了一定限制。測定點陣參數(shù)在研究固態(tài)相變、確定固溶體類型、測定固溶體溶解度曲線、測定熱膨脹系數(shù)等方面都得到了應(yīng)用?！?. 3微觀應(yīng)力的測定 微觀應(yīng)力是指由于形變、相變、多相物質(zhì)的膨脹等因素引起的存在于材料內(nèi)各晶粒之間或晶粒之中的微區(qū)應(yīng)力。與硬度變化規(guī)律相似, 半高寬也是隨著回火時間的延長和回火溫度的升高呈現(xiàn)單調(diào)下降的趨勢。(2)可以測量試樣上小面積和極薄層內(nèi)的宏觀應(yīng)力,如果與剝層方法相結(jié)合, 還可測量宏觀應(yīng)力在不同深度上的梯度變化。采用X射線衍射線線寬法( 謝樂法) 可以測定納米粒子的平均粒徑。結(jié)晶度的測定主要是根據(jù)結(jié)晶相的衍射圖譜面積與非晶相圖譜面積的比,在測定時必須把晶相、非晶相及背景不相干散射分離開來。范雄等采用X射線衍射技術(shù)測定了高聚物聚丙烯(PP)的結(jié)晶度, 利用函數(shù)分峰法分離出非晶峰和各個結(jié)晶峰, 計算出了不同熱處理條件下聚丙烯的結(jié)晶度,得出了聚丙烯結(jié)晶度與退火時間的規(guī)律。透射勞埃法只適用于厚度小且吸收系數(shù)小的樣品,背射勞埃法就無需特別制備樣品, 樣品厚度大小等也不受限制, 因而多用此
公司管理相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1