礦物材料現(xiàn)代測試技術(shù)4電子顯微鏡4-資料下載頁
2024-10-16 19:47本頁面
【正文】 要求 波譜儀在檢測時(shí)要求樣品表面平整。能譜儀對樣品表面沒有特殊要求，適合于粗糙表面的分析。 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 30 4 成分分析 （ 1） 電子顯微分析 第六章 X射線譜儀及微區(qū)成分分析 1 定性分析 A 點(diǎn)分析 用于測定樣品上某個(gè)指定點(diǎn)的化學(xué)成分。 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 31 4 成分分析 （ 2） 電子顯微分析 第六章 X射線譜儀及微區(qū)成分分析 如圖是用能譜儀得到的某鋼定點(diǎn)分析結(jié)果。能譜儀中的多道分析器可使樣品中所有元素的特征 X射線信號同時(shí)檢測和顯示。不像波譜儀那樣要做全部譜掃描，甚至還要更換分光晶體。 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 32 4 成分分析 （ 3） 電子顯微分析 第六章 X射線譜儀及微區(qū)成分分析 B 線分析 用于測定某種元素沿給定直線分布的情況。方法是將 X射線譜儀（波譜儀或能譜儀）固定在所要測量的某元素特征 X射線信號（波長或能量）的位置上，把電子束沿著指定的方向做直線軌跡掃描，便可得到該元素沿直線特征 X射線強(qiáng)度的變化，從而反映了該元素沿直線的濃度分布情況。改變譜儀的位置，便可得到另一元素的 X射線強(qiáng)度分布。 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 33 4 成分分析 （ 4） 電子顯微分析 第六章 X射線譜儀及微區(qū)成分分析 下圖為 50CrNiMo鋼中夾雜 Al2O3的線分析像?？梢?，在 Al2O3夾雜存在的地方， Al的 X射線峰較強(qiáng)。 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 34 4 成分分析 （ 5） 電子顯微分析 第六章 X射線譜儀及微區(qū)成分分析 C 面分析 用于測定某種元素的面分布情況。方法是將 X射線譜儀固定在所要測量的某元素特征 X射線信號的位置上，電子束在樣品表面做光柵掃描，此時(shí)在熒光屏上便可看到該元素的面分布圖像。顯像管的亮度由試樣給出的 X射線強(qiáng)度調(diào)制。圖像中的亮區(qū)表示這種元素的含量較高。 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 35 4 成分分析 （ 6） 電子顯微分析 第六章 X射線譜儀及微區(qū)成分分析 下圖為 34CrNi3Mo鋼中 MnS夾雜物的能譜面分析圖像。 （ a） S的面分析像 (b) Mn的面分析像 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 36 4 成分分析 （ 7） 電子顯微分析 第六章 X射線譜儀及微區(qū)成分分析 2 定量分析 定量分析時(shí)，先測得試樣中 Y元素的特征 X射線強(qiáng)度 IY，再在同一條件下測出已知純元素 Y的標(biāo)準(zhǔn)試樣特征 X射線強(qiáng)度 IO。然后兩者分別扣除背底其它影響，得到相應(yīng)的強(qiáng)度值 IY和 IO，兩者相除得到 X射線強(qiáng)度之比 KY= IY / IO。 直接將測得的強(qiáng)度比 KY當(dāng)作試樣中元素 Y的重量濃度，其結(jié)果還有很大誤差，通常還需進(jìn)行三種效應(yīng)的修正。即原子序數(shù)效應(yīng)的修正，吸收效應(yīng)修正，熒光效應(yīng)修正。經(jīng)過修正，誤差可控制在 177。 2%以內(nèi)。 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 37 作 業(yè) 1 電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)及各部 分的主要作用。 2 波譜儀和能譜儀的檢測原 理及比較。 3 電子顯微鏡成分分析的主 要類型。
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