電子顯微鏡3-資料下載頁(yè)
2024-12-29 03:34本頁(yè)面
【正文】 指定點(diǎn)的化學(xué)成分。 30武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳4 成分分析 （ 2）電子顯微分析 第六章 X射線譜儀及微區(qū)成分分析如圖是用能譜儀得到的某鋼定點(diǎn)分析結(jié)果。能譜儀中的多道分析器可使樣品中所有元素的特征 X射線信號(hào)同時(shí)檢測(cè)和顯示。不像波譜儀那樣要做全部譜掃描，甚至還要更換分光晶體。 31武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳4 成分分析 （ 3）電子顯微分析 第六章 X射線譜儀及微區(qū)成分分析B 線分析 用于測(cè)定某種元素沿給定直線分布的情況。方法是將 X射線譜儀（波譜儀或能譜儀）固定在所要測(cè)量的某元素特征 X射線信號(hào)（波長(zhǎng)或能量）的位置上，把電子束沿著指定的方向做直線軌跡掃描，便可得到該元素沿直線特征 X射線強(qiáng)度的變化，從而反映了該元素沿直線的濃度分布情況。改變譜儀的位置，便可得到另一元素的 X射線強(qiáng)度分布。32武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳4 成分分析 （ 4）電子顯微分析 第六章 X射線譜儀及微區(qū)成分分析下圖為 50CrNiMo鋼中夾雜 Al2O3的線分析像。可見(jiàn)，在 Al2O3夾雜存在的地方， Al的 X射線峰較強(qiáng)。33武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳4 成分分析 （ 5）電子顯微分析 第六章 X射線譜儀及微區(qū)成分分析C 面分析 用于測(cè)定某種元素的面分布情況。方法是將 X射線譜儀固定在所要測(cè)量的某元素特征 X射線信號(hào)的位置上，電子束在樣品表面做光柵掃描，此時(shí)在熒光屏上便可看到該元素的面分布圖像。顯像管的亮度由試樣給出的 X射線強(qiáng)度調(diào)制。圖像中的亮區(qū)表示這種元素的含量較高。 34武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳4 成分分析 （ 6）電子顯微分析 第六章 X射線譜儀及微區(qū)成分分析下圖為 34CrNi3Mo鋼中 MnS夾雜物的能譜面分析圖像。 （ a） S的面分析像 (b) Mn的面分析像 35武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳4 成分分析 （ 7）電子顯微分析 第六章 X射線譜儀及微區(qū)成分分析2 定量分析 定量分析時(shí)，先測(cè)得試樣中 Y元素的特征 X射線強(qiáng)度 IY，再在同一條件下測(cè)出已知純?cè)?Y的標(biāo)準(zhǔn)試樣特征 X射線強(qiáng)度 IO。然后兩者分別扣除背底其它影響，得到相應(yīng)的強(qiáng)度值 IY和 IO，兩者相除得到 X射線強(qiáng)度之比 KY= IY / IO。 直接將測(cè)得的強(qiáng)度比 KY當(dāng)作試樣中元素 Y的重量濃度，其結(jié)果還有很大誤差，通常還需進(jìn)行三種效應(yīng)的修正。即原子序數(shù)效應(yīng)的修正，吸收效應(yīng)修正，熒光效應(yīng)修正。經(jīng)過(guò)修正，誤差可控制在 177。2%以?xún)?nèi)。 36武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳作 業(yè)1 電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)及各部分的主要作用。 2 波譜儀和能譜儀的檢測(cè)原理及比較。3 電子顯微鏡成分分析的主要類(lèi)型。37武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH
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