掃描探針顯微鏡作業(yè)指導(dǎo)書-文庫吧資料
2025-06-13 15:00本頁面
【正文】 探針：氮化硅探針或 鉑 ― 銥 探針 、分析步驟 4. 1 檢測(cè)儀器 儀器名稱：掃描探針顯微鏡 型號(hào)： Nanoscope E 儀器指標(biāo) x,y 方向最大掃描范圍 100um,z 方向最大掃描范圍 5um 分辨率： z 方向 , x,y 方向 1nm 儀器 環(huán)境要求 室內(nèi)溫度： 20℃ ～ 25℃，溫度變化177。一束激光照射到微懸臂的背面，將激光反射到一個(gè)光電監(jiān)測(cè)器，監(jiān)測(cè)器不同象限接收到的激光強(qiáng)度差值同微懸臂的形變量會(huì)形成一定比例關(guān)系，反饋系統(tǒng)根據(jù)檢測(cè)器電壓的變化不 斷調(diào)整針尖或樣品 Z 軸方向的位置，可以保持針尖－樣品間作用力恒定不變。 上海交通大學(xué)分析測(cè)試中心 控制代號(hào) IACSJTU－ 300－ 11 版本號(hào) 第 3 版 Scanning Probe Microscope 掃描探針顯微鏡作業(yè)指導(dǎo)書 頒布日期 20xx 年 12 月 31 日 頁碼 第 2 頁 共 5 頁 原子力顯微鏡 (AFM) 基本原理 使用一個(gè)一端固定而另一端裝有納米級(jí)大小的針尖的彈性微懸臂來檢測(cè)樣品的表面形貌。這種現(xiàn) 象即是隧道效應(yīng)。 掃描隧道顯微鏡 （ STM）基本原理 利用量子理論中的隧道效應(yīng) 。 上海交通大學(xué)分析測(cè)試中心 控制代號(hào) IACSJTU－ 300－ 11
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