【正文】 壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D / 0第 10 頁(yè)共 40 頁(yè) b）CSⅡ試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合圖5和表5的規(guī)定。 采用CSⅠ試塊，其形狀和尺寸應(yīng)符合圖4和表4的規(guī)定。單晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用2MHz～5MHz，探頭晶片一般為Ф14～Ф25mm。 雙晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用5MHz。(5)用充水探頭探測(cè)鋼板時(shí)應(yīng)考慮到介面波與鋼板底面重合，即重合波探傷發(fā)，因此超聲充水探頭層高度的調(diào)節(jié)甚為重要，并應(yīng)有自動(dòng)控制水層高度的裝置，這樣介面波與底面波才能有效重合，其計(jì)算公式如下：h=CL水/CL鋼δ h 層高度，δ 鋼板厚度，CL水水中縱波聲速，CL鋼鋼中縱波聲速若探測(cè)厚度較小的鋼板，考慮到探頭盲區(qū)影響，可提高水層高度h，因此用下式計(jì)算：h=CL水/CL鋼nδ n:（即一次、二次、三次、四次重合法） 本條適用于碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。(3)儀器的探頭的組合靈敏度應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。(1)操作者應(yīng)具有一定縱波探傷經(jīng)驗(yàn)的人擔(dān)任。，可采用橫波檢測(cè)。（板厚大于100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)，缺陷的指示長(zhǎng)度大于或等于50mm時(shí)，應(yīng)評(píng)為Ⅴ級(jí)。如鋼板面積小于1m1m，可按比例折算。 表3 鋼板質(zhì)量分級(jí)等級(jí)單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度mm單個(gè)缺陷指示面積cm2在任一1m1m檢測(cè)面積內(nèi)存在的缺陷面積百分比 ％以下單個(gè)缺陷指示面積不計(jì) cm2I8025≤39II10050≤515III120100≤1025Ⅳ150100≤1025Ⅴ超 過(guò) Ⅳ 級(jí) 者注：Ⅳ級(jí)鋼板主要用于與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的制造安裝。 b)多個(gè)缺陷相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰較小缺陷的指示長(zhǎng)度（取其較大值）時(shí)，以各缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷指示面積。若單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度小于40mm時(shí)，可不作記錄。 e)當(dāng)板厚較薄，確需采用第二次缺陷波和第二次底波來(lái)評(píng)定缺陷時(shí)，基準(zhǔn)靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的第二次反射波來(lái)校準(zhǔn)。 d) c)中缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭（單直探頭或雙直探頭）使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50％。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。 b)用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25％或使缺陷第一次反射波壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D / 0第 8 頁(yè)共 40 頁(yè)高與底面第一次反射波高之比為50％。在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（當(dāng)板厚超過(guò)100mm，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)應(yīng)作100％掃查，掃查示意圖見圖3； b)根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查 圖3 探頭掃查示意圖，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷： a)缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的50％，即F1≥50％； b)當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高未達(dá)到滿刻度，此時(shí)，缺陷第一次反射波（F1）波高與底面第一次反射波（B1）波高之比大于或等于50％，即B1100％，而F1/B1≥50%； c)底面第一次反射波（B1）波高低于滿刻度的50％，即B150％。耦合方式可采用直接接觸法。 可選鋼板的任一軋制表面進(jìn)行檢測(cè)。，應(yīng)將CBⅡ試塊φ5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50％壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D / 0第 7 頁(yè)共 40 頁(yè)作為基準(zhǔn)靈敏度。經(jīng)合同雙方同意，也可采用雙晶直探頭進(jìn)行檢測(cè)。，CB II標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)符合圖2和表2的規(guī)定。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D / 0第 5 頁(yè)共 40 頁(yè) 表1 板材超聲檢測(cè)探頭選用板厚，（mm）采用探頭公稱頻率，MHZ探頭晶片尺寸6～20雙晶直探頭5晶片面積不小于150mm220～40單晶直探頭5φ14～φ20mm40～250單晶直探頭φ20～φ25mm（規(guī)范性附錄）的要求。 奧氏體鋼板材、鎳及鎳合金板材以及雙相不銹鋼板材的超聲檢測(cè)也可參照?qǐng)?zhí)行。返修后，應(yīng)按原探傷驗(yàn)收條件進(jìn)復(fù)探驗(yàn)收。：工件名稱、編號(hào)、探傷部位、檢驗(yàn)范圍、探傷比例、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)、缺陷情況、返修情況、探傷結(jié)論、檢驗(yàn)人員、審核人員等。、完整，并經(jīng)相應(yīng)責(zé)任人員簽字認(rèn)可。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測(cè)，試塊的厚度應(yīng)由其最大厚度來(lái)確定。，并應(yīng)經(jīng)計(jì)量部門檢定合格。 c)焊接接頭用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CSKIA、CSKⅡA、CSKⅢA、CSKⅣA。標(biāo)準(zhǔn)試塊有： a)鋼板用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CBⅠ、CBⅡ。、復(fù)核的有關(guān)注意事項(xiàng) 校準(zhǔn)、復(fù)核和對(duì)儀器進(jìn)行線性檢測(cè)時(shí)，任何影響儀器線性的控制器（如抑制或?yàn)V波開關(guān)等）都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。一般對(duì)距離－波幅曲線的校核不應(yīng)少于3點(diǎn)。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描線讀數(shù)的10％，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。 遇有下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核： a) 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生變化時(shí)； b)檢測(cè)人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)； c)連續(xù)工作4h以上時(shí)； d)工作結(jié)束時(shí)?！碧筋^系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。 新購(gòu)探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說(shuō)明書，新探頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測(cè)定。 校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定的和最大的反射信號(hào)。 c)曲面補(bǔ)償。 b)衰減補(bǔ)償。 a)耦合補(bǔ)償。 掃查靈敏度應(yīng)高于基準(zhǔn)靈敏度。 為確保檢測(cè)時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。所有影響超聲檢測(cè)的銹蝕、飛濺和污物等都應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求。，應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。（在基準(zhǔn)靈敏度下）：對(duì)于頻率為5MHz的探頭，寬度不大于10mm；，寬度不大于15mm。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D / 0第 2 頁(yè)共 40 頁(yè)177。，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。其余指標(biāo)應(yīng)符合JB/T10061的規(guī)定。1 dB以內(nèi)，最大累計(jì)誤差不超過(guò)1dB。～10MHz，儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示。2. 規(guī)范性引用文件固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程—2011 鋼制壓力容器JB/—2005 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 第一部分：通用要求 JB/—2005 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 第三部分：超聲檢測(cè)JB/T7913 1995 超聲波檢測(cè)用鋼制對(duì)比試塊的制作與校驗(yàn)方法JB/T9214 1999 A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能 測(cè)試方法JB/T10061 1999 A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件JB/T10062 1999 超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法JB/T10063 1999 超聲探傷用1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件3. 一般要求超聲檢測(cè)人員應(yīng)按照《特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則》的要求取得UTI級(jí)以上資格的人員，只能從事初探工作，取得Ⅱ級(jí)資格的人員方能復(fù)探和出超聲檢測(cè)報(bào)告，編制超聲波檢測(cè)工藝。磁粉探傷試驗(yàn)報(bào)告壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC25—D/02012題 目磁粉檢測(cè)工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D/ 0第 6 頁(yè)共 6 頁(yè)工 件工件后處理表面預(yù)處理施加滲透劑清洗工件干燥施加顯象劑觀察判別記 錄檢查后清洗報(bào) 告監(jiān)檢后存檔結(jié) 論有關(guān)參數(shù)產(chǎn)品、部件探傷委托書PTMTMT、PT操作流程圖表面預(yù)處理磁化電流磁化方法對(duì)工件磁化施加磁粉觀察判別記 錄報(bào) 告壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D / 0第 1 頁(yè)共 40 頁(yè)1. 范圍本規(guī)程規(guī)定了采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀檢測(cè)工件缺陷的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)要求。當(dāng)各類缺陷的級(jí)別相同時(shí)，則降低一級(jí)作為綜合評(píng)級(jí)的級(jí)別。 受壓加工部件和材料磁粉檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)，見表2壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC25—D/02012題 目磁粉檢測(cè)工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D/ 0第 5 頁(yè)共 6 頁(yè)表2等級(jí)線性缺陷磁痕圓形缺陷磁痕（評(píng)定框尺寸為2500mm2，其中一條矩形邊長(zhǎng)最大為150mm）I不允許d≤,且在評(píng)定框內(nèi)不大于1個(gè)II不允許d≤,且在評(píng)定框內(nèi)不大于2個(gè)IIIL≤d≤,且在評(píng)定框內(nèi)不大于4個(gè)Ⅳ注：L表示線性缺陷磁痕長(zhǎng)度，mm；d表示圓形缺陷磁痕長(zhǎng)徑mm在圓形缺陷評(píng)定區(qū)內(nèi)同時(shí)存在多種缺陷時(shí)，應(yīng)進(jìn)行綜合評(píng)級(jí)。 退磁方法 退磁方法參照J(rèn)B/ 條執(zhí)行15. 磁粉檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)a)不允許存在任何裂紋和白點(diǎn)；b)緊固件和軸類零件不允許任何橫向缺陷顯示。14. 退磁 退磁一般要求規(guī)定檢測(cè)后加熱至700℃以上進(jìn)行熱處理的工件，一般可不進(jìn)行退磁，在下列情況下工件應(yīng)進(jìn)行退磁。 缺陷磁痕顯示記錄 缺陷磁痕的顯示記錄可采用照相、錄像和可剝性塑料薄膜等方式記錄，同時(shí)應(yīng)用草圖標(biāo)示。 除能確認(rèn)磁痕是由于工件材料局部磁性不均或操作不當(dāng)造成的之外，其他磁痕顯示均應(yīng)作為缺陷處理。 缺陷磁痕長(zhǎng)軸方向與工件軸線或母線的夾角大于或等于300時(shí)，按橫向缺陷處理，其他按縱向缺陷處理。 。按條狀磁痕處理。 磁痕的顯示要分清相關(guān)顯示與非相關(guān)顯示和偽顯示。使用交叉磁軛裝置時(shí)，四個(gè)磁極端面與檢測(cè)面之間應(yīng)盡量貼合，連續(xù)拖動(dòng)檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)速度應(yīng)盡量均勻，一般不應(yīng)大于4m/min。通電時(shí)間為1s—3s，停施磁懸液至少1s后方可停止磁化。，噴灑時(shí)應(yīng)不使檢測(cè)面上磁懸液的流速過(guò)快。濕法主要用于連續(xù)法檢測(cè)。對(duì)有延遲裂紋傾向的材料，磁粉檢測(cè)應(yīng)安排壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC25—D/02012題 目磁粉檢測(cè)工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D / 0第 3 頁(yè)共 6 頁(yè)在焊接完成24小時(shí)后進(jìn)行，除非另有要求對(duì)緊固件和鍛件的磁粉檢測(cè)應(yīng)安排在最終熱處理之后進(jìn)行。如被檢工件表面殘留有涂層，經(jīng)試驗(yàn)仿礙檢測(cè)，則應(yīng)清除干凈。9. 被檢工件表面制備 工件表面狀態(tài)磁粉檢測(cè)前應(yīng)對(duì)被檢工件進(jìn)行外觀檢查，其表面及相鄰區(qū)域不得有銹蝕、油脂、氧化皮、熔渣、飛濺物或其它粘付磁粉的物質(zhì)。 磁軛的磁極間距控制在75～200mm之間，檢測(cè)的有效區(qū)域?yàn)閮蓸O連線兩側(cè)各50mm的范圍內(nèi)，磁化區(qū)域每次應(yīng)有不少于15mm的重疊。磁化方向本規(guī)程采用縱向磁化和復(fù)合磁化。平時(shí)使用完后，應(yīng)擦上防銹油，平整妥善保管。為使試片與被檢面接觸良好，可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上，并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷。當(dāng)檢測(cè)焊縫坡口等狹小部位，由于尺寸關(guān)系A(chǔ)1型標(biāo)準(zhǔn)試片使用不便時(shí)，一般可選用C—15/50型標(biāo)準(zhǔn)試片。標(biāo)準(zhǔn)試片有A1型、C型其規(guī)格和尺寸見JB/—2005表2。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC25—D/02012題 目磁粉檢測(cè)工藝規(guī)程版次 / 修訂號(hào)：D / 0第 2 頁(yè)共 6 頁(yè)若采用磁膏須按其使用說(shuō)明書控制磁懸液濃度或購(gòu)置已配制好的磁懸液。磁粉檢測(cè)前，應(yīng)進(jìn)行磁懸液潤(rùn)濕性能檢驗(yàn)。磁懸液濃度應(yīng)根據(jù)磁粉種類、粒度、施加方法和被工件表面狀態(tài)等因素來(lái)確定。濕法應(yīng)采用水或低粘度油基載體作為分散媒介。當(dāng)使用磁軛最大間距時(shí)，交流電磁軛至少應(yīng)有45N的提升力，直流電磁軛至少應(yīng)有177 N的提升力，交叉磁軛至少應(yīng)有118N的提升力。當(dāng)設(shè)備進(jìn)行重要電氣修理或大修后應(yīng)進(jìn)行校驗(yàn)。本規(guī)程使用XDYY—II 型多用磁粉探傷儀。（距）視力和遠(yuǎn)（距）（），并1年檢查1次，不得有色盲。不適用于奧氏體不銹鋼和其他非鐵磁性材料的檢測(cè)。報(bào)告應(yīng)包括以下內(nèi)容：a) 委托單位、工件名稱、編號(hào)、形狀、尺寸、材質(zhì)及熱處理狀態(tài)；b) 檢測(cè)部位、檢測(cè)比例、滲透劑牌號(hào)；c) 檢測(cè)方法，包括滲透劑類型、顯像方式；d) 操作條件，包括滲透溫度、滲透時(shí)間、干燥溫度和時(shí)間、顯像時(shí)間；e) 操作方法，包括清洗方法、滲透劑施加方法、清洗方法、顯