【正文】 改 善是持續(xù)不斷的工作，而制程的管制與分析亦是必要持之以恒的。 基本的統(tǒng)計(jì)量計(jì)算如平均值（ ），標(biāo)準(zhǔn)差（ σ） 及不良率（ p）。 pinipiipnk 88 （九） C Chart及 u Chart運(yùn)用時(shí)的制程 能力分析 使用 C Chart其制程能力以 表示 其中 ：制程平均缺點(diǎn)數(shù) ：第 I組的缺點(diǎn)數(shù) k ： 組數(shù) CkCkCCCCkiik??????? 121 ...CiC 89 （九） C Chart及 u Chart運(yùn)用時(shí)的制程 能力分析 U Chart 使用 U Chart其制程能力以 U表示 其中 ：制程平均單位缺點(diǎn)數(shù) ：第 I組缺點(diǎn)數(shù) ：第 I組樣本大小 k ： 組數(shù) ???????????? kiikiikknCnnnCCCu112121......uiCin 90 五、結(jié)論 持續(xù)的制程改善是我們做制程管制與分析的目的，而制程管制的首要工作為標(biāo)準(zhǔn)化，將人、機(jī)、料、法、環(huán)境等影響制程的主要因素予以標(biāo)準(zhǔn)化，有利于制程異常的解析。 而在正式的制程能力分析中，須收集 25組以上的數(shù)據(jù)，加以分析以充分反映統(tǒng)計(jì)管制狀態(tài)。 RX ?~RX ?~X~RX ?~X~ 85 （七） Chart運(yùn)用時(shí)的制程能力分析 管制界限 其中 制程能力 計(jì)算方式參考 Chart所示 RX ?~RAXxU CL 2~~~ ??RAXxL C L 2~~~ ??RDU C L R 4? RDL C L R 3?RXXnii??? 1~~2/2?/? dRdR ?? ??RX ? 86 （八） p Chart及 np Chart運(yùn)用時(shí)的制程能力分析 使用 p管制圖是其制程能力及由制程的平均不良率 p來表示。 sX ?sX ?sX ? 83 （六） Chart運(yùn)用時(shí)的制程能力分析 在 Chart中各組的標(biāo)準(zhǔn)差計(jì)算如下 管制界限 制程能力：此處的全體標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì)值用 計(jì)算方式同 Chart 所述 sX ?sX ?? ?11222?????? ??nxnxnxxs iisBU C L s 4? sBL C L s3?sAXU CL x 3?? sAxL CLx 3??4/4?? CSCs ?? ??RX ? 84 （七） Chart運(yùn)用時(shí)的制程能力分析 使用 Chart的特點(diǎn) （ 1） 使用容易：不須太多的計(jì)算，非常容易地把中位數(shù) （ Midian） 指出，且全距 R（ Range） 的計(jì)算也非常簡單。 RX ???XU S LZU S L?? （對上限規(guī)格 USL部分）及 ??L S LXZL S L?? （對下限規(guī)格 LSL部分） 81 （五） Chart 運(yùn)用時(shí)的制程能力分析 為估計(jì)當(dāng)制程平均值為 而標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì)值為 時(shí)的不良率，可查標(biāo)準(zhǔn)常態(tài)分配表中超過 ZUSL的面積 PZUSL（ 超過規(guī)格上限不良率）及超過 ZLSL的面積 PZLSL（ 超過規(guī)格下限不良率），且我們可得知總不良率 RX ?L S LUS Lt o t a l pZpZp ?? 82 （六） Chart運(yùn)用時(shí)的制程能力分析 Chart使用的時(shí)機(jī)： （ 1）樣本大小大時(shí)：我們知道全距（ R） 及標(biāo)準(zhǔn)差（ s） 均可代表分配的變異，而使用全距表示實(shí)務(wù)上較方便，但是當(dāng)樣本大小 n≥10時(shí)，用 R表示則無法適切表示變異狀況，故使用 s表示較佳，而使用 s的缺點(diǎn)為計(jì)算上較麻煩，且對特殊原因產(chǎn)生的變異方法表示出。 的計(jì)算： 的計(jì)算： 在 管制圖中，以 來表示分配的變異，而制程估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)差 ，可從 計(jì)算得到， 的計(jì)算： RX ?RX?XRXRkRRiki??? 1kXXiki??? 1（ 為管制圖中各組的平均值， k為組數(shù)） iX（ 為管制圖中各組的全距） iRRX? RR?? ??2? dR?? 為系數(shù)，與樣本大小 n有關(guān) 2d 79 （五） Chart 運(yùn)用時(shí)的制程能力分析 制程能力的計(jì)算 在計(jì)算制程能力中，我們會運(yùn)用標(biāo)準(zhǔn)常態(tài)分配或稱 Z分配中的 Z值計(jì)算。 2/?6dRL S LU S LCp???2/?6 dR? 2/?6 dR? 73 （四）制程的評估相關(guān)方式 Pp為績效指數(shù)（ Performance Index） sL S LU S LPp??6?? 74 （四）制程的評估相關(guān)方式 CPU為上能力指數(shù)（ Upper Capability Index） RXU S LC PU??3?? 75 （四）制程的評估相關(guān)方式 CPL為下能力指數(shù)（ Lower Capability Idex） Cpk=Min（ CPU， CPL） Cpk為制程能力指數(shù)，為 CPU及 CPL中較小者 2/?3dRL S LXC PL??? 76 （四）制程的評估相關(guān)方式 Ppk為制程績效指數(shù)。 所謂一般原因又稱機(jī)遇原因，而特殊原因又稱為非機(jī)遇原因 R s?? ???? niiS nxxS121)(?? 為個(gè)別量測值， 為 平均值， n為樣本大小 iX x 71 （三）制程能力與制程績效 制程能力 (Process Capability):6 σ 以 6σ表示制程能力，其中 σ為固有的變異（標(biāo)準(zhǔn)差）即導(dǎo)因于一般原因，用 來估計(jì)，所以又稱 6 σ為自然公差 制程績效 (Process Performance):6 σ 亦以 6 σ表示制程績效，但其中 σ乃由 s（ 或 ）來估計(jì)，即導(dǎo)因于一般特殊原因。（樣本數(shù)如每組不一致，會設(shè)計(jì)管制界限的跳動，初導(dǎo)入期較不適當(dāng)） b) 計(jì)算每組的不良率 p c) 計(jì)算不均不良率 d) 計(jì)算管制界限 e) 同 R管制圖步驟（ I），（ j） pX 65 （五）管制圖的繪制 （ 2） pn管制圖（又稱 np管制圖， D管制圖） a) 收集數(shù)據(jù)，步驟同 p管制圖（ a） 項(xiàng)作業(yè) b) 計(jì)算平均不良率 n（ n ） c) 計(jì)算管制界限 d) 繪管制界限，并將點(diǎn)點(diǎn)入圖中 e) 記入數(shù)據(jù)履歷及特殊原因，以備檢討、分析、判斷 p p 66