【正文】 68 （六）管制圖分析 一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)落在管制界限外 （ 1）超過管制上限 a) 管制界限計(jì)算錯(cuò)誤，或繪點(diǎn)錯(cuò)誤 b) 變界增大或制程偏移 c) 量規(guī)已變化 （ 2）低于管制下限 a) 管制界限或繪點(diǎn)錯(cuò)誤 b) 變異變小或制程偏移 c) 量規(guī)產(chǎn)生變化 平 均值同邊 分析重點(diǎn)在制程變化或量規(guī)變化 69 四、制程能力分析 （一）滿足下列條件方可進(jìn)行制程能力分析 – 制程在穩(wěn)定狀態(tài) – 制程呈常態(tài)分配 – 規(guī)格滿足客戶的要求 – 設(shè)計(jì)目標(biāo)位于規(guī)格中心 – 變異相對(duì)地少 70 （二）制程中的變異 在制程中由于一般原因造成的變異的估計(jì)時(shí)，我們用 /D2或 /c4表示。 2/?6dRL S LU S LCp???2/?6 dR? 2/?6 dR? 73 （四）制程的評(píng)估相關(guān)方式 Pp為績(jī)效指數(shù)（ Performance Index） sL S LU S LPp??6?? 74 （四）制程的評(píng)估相關(guān)方式 CPU為上能力指數(shù)（ Upper Capability Index） RXU S LC PU??3?? 75 （四）制程的評(píng)估相關(guān)方式 CPL為下能力指數(shù)（ Lower Capability Idex） Cpk=Min（ CPU， CPL） Cpk為制程能力指數(shù)，為 CPU及 CPL中較小者 2/?3dRL S LXC PL??? 76 （四）制程的評(píng)估相關(guān)方式 Ppk為制程績(jī)效指數(shù)。 RX ???XU S LZU S L?? （對(duì)上限規(guī)格 USL部分）及 ??L S LXZL S L?? （對(duì)下限規(guī)格 LSL部分） 81 （五） Chart 運(yùn)用時(shí)的制程能力分析 為估計(jì)當(dāng)制程平均值為 而標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì)值為 時(shí)的不良率，可查標(biāo)準(zhǔn)常態(tài)分配表中超過 ZUSL的面積 PZUSL（ 超過規(guī)格上限不良率）及超過 ZLSL的面積 PZLSL（ 超過規(guī)格下限不良率），且我們可得知總不良率 RX ?L S LUS Lt o t a l pZpZp ?? 82 （六） Chart運(yùn)用時(shí)的制程能力分析 Chart使用的時(shí)機(jī)： （ 1）樣本大小大時(shí)：我們知道全距（ R） 及標(biāo)準(zhǔn)差（ s） 均可代表分配的變異，而使用全距表示實(shí)務(wù)上較方便，但是當(dāng)樣本大小 n≥10時(shí)，用 R表示則無法適切表示變異狀況，故使用 s表示較佳，而使用 s的缺點(diǎn)為計(jì)算上較麻煩，且對(duì)特殊原因產(chǎn)生的變異方法表示出。 RX ?~RX ?~X~RX ?~X~ 85 （七） Chart運(yùn)用時(shí)的制程能力分析 管制界限 其中 制程能力 計(jì)算方式參考 Chart所示 RX ?~RAXxU CL 2~~~ ??RAXxL C L 2~~~ ??RDU C L R 4? RDL C L R 3?RXXnii??? 1~~2/2?/? dRdR ?? ??RX ? 86 （八） p Chart及 np Chart運(yùn)用時(shí)的制程能力分析 使用 p管制圖是其制程能力及由制程的平均不良率 p來表示。 pinipiipnk 88 （九） C Chart及 u Chart運(yùn)用時(shí)的制程 能力分析 使用 C Chart其制程能力以 表示 其中 ：制程平均缺點(diǎn)數(shù) ：第 I組的缺點(diǎn)數(shù) k ： 組數(shù) CkCkCCCCkiik??????? 121 ...CiC 89 （九） C Chart及 u Chart運(yùn)用時(shí)的制程 能力分析 U Chart 使用 U Chart其制程能力以 U表示 其中 ：制程平均單位缺點(diǎn)數(shù) ：第 I組缺點(diǎn)數(shù) ：第 I組樣本大小 k ： 組數(shù) ???????????? kiikiikknCnnnCCCu112121......uiCin 90 五、結(jié)論 持續(xù)的制程改善是我們做制程管制與分析的目的，而制程管制的首要工作為標(biāo)準(zhǔn)化，將人、機(jī)、料、法、環(huán)境等影響制程的主要因素予以標(biāo)準(zhǔn)化，有利于制程異常的解析。 改 善是持續(xù)不斷的工作，而制程的管制與分析亦是必要持之以恒的。 基本的統(tǒng)計(jì)量計(jì)算如平均值（ ），標(biāo)準(zhǔn)差（ σ） 及不良率（ p）。 而在正式的制程能力分析中，須收集 25組以上的數(shù)據(jù)，加以分析以充分反映統(tǒng)計(jì)管制狀態(tài)。 sX ?sX ?sX ? 83 （六） Chart運(yùn)用時(shí)的制程能力分析 在 Chart中各組的標(biāo)準(zhǔn)差計(jì)算如下 管制界限 制程能力：此處的全體標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì)值用 計(jì)算方式同 Chart 所述 sX ?sX ?? ?11222?????? ??nxnxnxxs iisBU C L s 4? sBL C L s3?sAXU CL x 3?? sAxL CLx 3??4/4?? CSCs ?? ??RX ? 84 （七） Chart運(yùn)用時(shí)的制程能力分析 使用 Chart的特點(diǎn) （ 1） 使用容易：不須太多的計(jì)算，非常容易地把中位數(shù) （ Midian） 指出，且全距 R（ Range） 的計(jì)算也非常簡(jiǎn)單。 的計(jì)算： 的計(jì)算： 在 管制圖中，以 來表示分配的變異，而制程估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)差 ，可從 計(jì)算得到， 的計(jì)算： RX ?RX?XRXRkRRiki??? 1kXXiki??? 1（ 為管制圖中各組的平均值， k為組數(shù)） iX（ 為管制圖中各組的全距） iRRX? RR?? ??2? dR?? 為系數(shù)，與樣本大小 n有關(guān) 2d 79 （五） Chart 運(yùn)用時(shí)的制程能力分析 制程能力的計(jì)算 在計(jì)算制程能力中，我們會(huì)運(yùn)用標(biāo)準(zhǔn)常態(tài)分配或稱 Z分配中的 Z值計(jì)算。 所謂一般原因又稱機(jī)遇原因，而特殊原因又稱為非機(jī)遇原因 R s?? ???? niiS nxxS121)(?? 為個(gè)別量測(cè)值， 為 平均值， n為樣本大小 iX x 71 （三）制程能力與制程績(jī)效 制程能力 (Process Capability):6 σ 以 6σ表示制程能力，其中 σ為固有的變異（標(biāo)準(zhǔn)差）即導(dǎo)因