【正文】 為 x處的透射光強(qiáng) 。 j（ x） 為 x處的反射光強(qiáng) 。 X為固定相厚度 。 KubelkaMunk指出，當(dāng)強(qiáng)度為 I0的單色光照射到厚度為 X的薄層后，光的反射和透射符合下述微分方程： di/dX = (S + K)i + Sj dj/dX = (S + K)j + Si S：單位厚度薄層固定相的散射系數(shù)； K為薄層色譜斑點(diǎn)或單位厚度薄層固定相的吸收系數(shù)； X為由載板表面算起的薄層厚度。 i與 j的一般解為： i = Asinh(bSx) + Bcosh(bSx) j = (aA bB)sinh(bSx) + (aB bA)cosh(bSx) A， B常數(shù) ， a=（ S+K） /S， b=（ a2 1） 1/2 ， Sinh=（ ex ex） /2； Cos= （ ex + ex） /2， A/B=a/b。 為討論方便 ， 一般計算邊界的 i和 j， 即薄層下表面的透射光和上表面的反射光 。 X=0時 ， j= 0， i =I0T X=X時 ， i =I0， j=I0R 則 T =b/[asinh（ bSX） + bcosh（ bSX） ] R = sinh（ bSX） /[asinh（ bSX） + bcosh（ bSX） ] SX稱作散射參數(shù) ， 它與薄層厚度 、 散射系數(shù)有關(guān) 。 Merck硅膠板的 SX=3， 青島硅膠板 SX＝ 3， 日本和光硅膠 F板 SX=7。 SX數(shù)值大小直接影響薄層色譜斑點(diǎn)的吸光度 濃度曲線偏離Beer定律的程度。 薄層色譜斑點(diǎn)中物質(zhì)的含量包含于 a及 b兩個參數(shù)中， 已知 a=（ S+K） /S， b=（ a2 1） 1/2 ，乘以 X，則 a= （ SX+KX） /SX b= [KX（ 2SX+KX） ]1/2/SX KX為吸收參數(shù)，相當(dāng)于薄層色譜單位面積中物質(zhì)的含量（ ?g/cm2），即 KX=C。 薄層色譜斑點(diǎn)的吸光度： 理想的空白薄層板的 K=0，但一般 K?0。為消除影響，通常以空白板為基準(zhǔn)，測定相對透光率及相對反射率來計算薄層色譜斑點(diǎn)的吸光度。 透射法 A= lg（ T/T0） 反射法 A= lg（ R/R0） lgT/T0或 lgR/R0為儀器檢測部分所獲得的信號，它們和 KX間的關(guān)系曲線相當(dāng)于一般分光光度法中的 AC曲線，在溶液中， AC曲線為一直線，而在薄層上， lgT/T0或 lgR/R0和濃度間不呈線性關(guān)系，比較下圖可以看出彎曲度隨 SX增加而增加。 不同 SX時 ， 吸光度與 KX間關(guān)系曲線 a． 透射法測定 lgT/T0與 KX間關(guān)系 b． 反射法測定 lgR/R0與 KX間關(guān)系 目前對 KubelkaMunk曲線處理采用兩類方法：曲線校直法和計算機(jī)回歸法。島津 CS系列采用前者， CAMAG儀器采用后者。 1．校正前的標(biāo)準(zhǔn)曲線 2．校正后的標(biāo)準(zhǔn)曲線 曲線校直法是一種簡便的薄層色譜掃描定量校準(zhǔn)方法，但比較粗糙，且有時難于知道薄層板的 SX的準(zhǔn)確值。 2．熒光測定法 熒光測定法的定量依據(jù)為： F=φI0abC F為熒光強(qiáng)度； φ為熒光效率； I0為入射光強(qiáng)度； a為吸收系數(shù)；b為薄層厚度； c為樣品濃度。 F與 C成正比，二者之間存在線性關(guān)系。熒光測定法與吸收測定法不同，其測量值與斑點(diǎn)形狀無關(guān)。本身具有熒光或經(jīng)過適當(dāng)處理后可產(chǎn)生熒光的化合物均可用本法測量。熒光測定法選擇性高，因激發(fā)光與熒光波長均能加以選擇，可避免一些其他組分的干擾，其靈敏度比吸收法高 100～ 1000倍，最低可測到 10～ 50pg樣品。 3．熒光淬滅法 用紫外光照射熒光薄層板時，薄層板產(chǎn)生熒光 (背景 )，而在板上樣品斑點(diǎn)處，因樣品對紫外光有吸收，照到薄層斑點(diǎn)處的紫外光有所減弱，則產(chǎn)生的熒光也減弱，樣品呈暗色斑點(diǎn)。測定時，由熒光減弱的程度測出樣品中被測物含量。 (三 )定量方法 主要有外標(biāo)法和內(nèi)標(biāo)法 ， 前者更為常用 。 1． 外標(biāo)法 首先做待測組分的標(biāo)準(zhǔn)曲線 ， 其縱坐標(biāo)為各個斑點(diǎn)的峰面積積分值 A， 橫坐標(biāo)為相應(yīng)各斑點(diǎn)的物質(zhì)量 (微克數(shù) )。 此時做標(biāo)準(zhǔn)曲線有 2個目的 ， 其一確定該組分的線性范圍 。 其二看標(biāo)準(zhǔn)曲線是否通過原點(diǎn) ， 若通過原點(diǎn) ， 分析樣品時用外標(biāo)一點(diǎn)法定量 ，若不通過原點(diǎn) ， 分析樣品時用外標(biāo)二點(diǎn)法定量 。 (1)外標(biāo)一點(diǎn)法： C＝ FA (2)外標(biāo)二點(diǎn)法： C = F1A+F2 C1 = F1A1+F2 C2 = F1A2+ F2 解聯(lián)立方程得： F1 = （ C1 C2） /（ A1 A2） F2＝ (C1+ C2) – F1(A1+A2) 2．內(nèi)標(biāo)法 通常配 2份不同濃度的含不同量內(nèi)標(biāo)物的對照品溶液，并在一定量樣品溶液中加入已知質(zhì)量的內(nèi)標(biāo)物，將這兩種溶液分別點(diǎn)在薄層上，展開后，內(nèi)標(biāo)物與對照品分開，用同一波長掃描，測峰面積。用對照品與內(nèi)標(biāo)物的峰面積比為縱坐標(biāo)，用二者的濃度比為橫坐標(biāo)作圖，所得曲線即為標(biāo)準(zhǔn)曲線。 內(nèi)標(biāo)一點(diǎn)法 C/CIS ＝ A/AISF F＝ C/CISA IS /A 內(nèi)標(biāo)二點(diǎn)法中標(biāo)準(zhǔn)曲線的方程式為： C1/（ CIS） 1 = F1A 1/（ AIS） 1 + F2 C2/（ CIS） 2 = F2A 2/（ AIS） 2 + F1 解上述聯(lián)立方程式得： F1 = [C1/（ CIS） 1 C2/（ CIS） 2]/[ A1/（ AIS） 1 A2/（ AIS） 2] F2 = [C1/（ CIS） 1 + C2/（ CIS） 2] – F1[A1/（ AIS） 1 + A2/（ AIS） 2] (四 )影響薄層掃描定量的因素 1． 吸附劑性能及薄層質(zhì)量 薄層厚薄要均勻 ， 吸附劑粒度要均勻 。 粒度不均 ， 影響散射系數(shù) 。 厚度增加 ， Rf值增大 。 厚度下降 ， 展開后斑點(diǎn)擴(kuò)散較嚴(yán)重 。 透射法測定時 ， 厚度增加 ， 峰面積值增加； 反射法測定時 ， 厚度增加 ， 峰面積值減少 。 2． 點(diǎn)樣操作與隨行標(biāo)準(zhǔn) 原點(diǎn)直徑以 1～ 3mm較合適 ， 點(diǎn)樣過多會使原點(diǎn) “ 超載 ” ， 展開劑出現(xiàn) “ 繞行 ” 現(xiàn)象 ， 引起斑點(diǎn)拖尾或重疊 ， 使掃描峰形不對稱或不能 “ 基線分離 ” 。 定量點(diǎn)樣時 ， 盡可能在同一塊薄層板上同時點(diǎn)上已知濃度的對照品 ， 即隨行標(biāo)準(zhǔn) ， 一同展開 ， 定量 ， 并由這些對照品的測定值計算樣品含量 。 3．展開條件 將薄層板與展開槽進(jìn)行預(yù)飽和，可得到重現(xiàn)的色譜圖。 展開時溫度變化應(yīng)盡量小。展距要適宜，一般 Rf值在～ 。展開用的溶劑必要時需經(jīng)過預(yù)處理。 ，方可掃描。 顯色后應(yīng)注意斑點(diǎn)的穩(wěn)定性，測量時必須在穩(wěn)定的時間中進(jìn)行。為提高色斑的穩(wěn)定性，可將顯色后的薄層板避光保存，以同樣大小的玻璃片覆蓋并密封或?qū)⒈影褰?20％聚乙二醇甲醇溶液中，待甲醇揮發(fā)后，薄層上形成聚乙二醇薄膜，使色斑與空氣隔絕，以保證色斑的穩(wěn)定。 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH