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正文內(nèi)容

spc統(tǒng)計過程控制-9(編輯修改稿)

2025-03-10 15:20 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 與過程有關(guān)的說明 結(jié)果舉例 控制圖舉例 ? 軸的外徑(英寸) ? 從基準(zhǔn)面到孔的距離( mm) ? 電阻( Ω) ? 軌道車通過時間( h) ? 工程更改處理時間( h) 用于均值測量的 X圖 用于極差測量的 R圖 人員 設(shè)備 環(huán)境 材料 方法 測量結(jié)果 計量單位 (mm, kg等 ) 原點( 0mm, F等) 1 2 3 4 5 6 7 計量型數(shù)據(jù)控制圖應(yīng)用前提 不準(zhǔn)確 準(zhǔn)確 不精密 精密 測量方法必須保證始終產(chǎn)生準(zhǔn)確和精密的結(jié)果 ? 大多過程和其輸出具有可測量的特性; ? 量化的值比簡單的是 —否陳述包含的信息更多; ? 對較少的件數(shù)檢查,可獲得更多的有關(guān)過程的信息; ? 因只需檢查少量的產(chǎn)品,可縮短零件生產(chǎn)和采取糾正措施之間的時間間隔; ? 可分析一個過程的性能和可量化所用的改進(jìn),為尋求持續(xù)改進(jìn)提供信息。 計量型數(shù)據(jù)控制圖益處 建立控制圖的四步驟 A收集數(shù)據(jù) B計算控制限 C過程控制解釋 D過程能力解釋 建立 XR圖的步驟 A A階段收集數(shù)據(jù) A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù) 子組大小 子組頻率 子組數(shù)大小 A2建立控制圖及記錄原始記錄 A3計算每個子組的均值 X和極差 R A4選擇控制圖的刻度 A5將均值和極差畫到控制圖上 取樣的方式 ? 取樣必須達(dá)到組內(nèi)變異小,組間變異大 ? 樣本數(shù)、頻率、組數(shù)的說明 每個子組平均值和極差計算 1 100 98 99 100 98 2 98 99 98 101 97 3 99 97 100 100 98 4 100 100 101 99 99 5 101 99 99 100 99 平均 100 極差 3 3 3 2 2 平均值和極差 ? 平均值的計算 554321 xxxxxx ?????? R值的計算 m inm a xxxR ??B計算控制限 B1計算平均極差及過程平均值 B2計算控制限 B3在控制圖上作出平均值和 極差控制限的控制線 建立 XR圖的步驟 B RDLCLRDUCLRCLRAXLCLRAXUCLXCLRRRXXX3422????????全距管制圖平均值管制圖kRRRRkxxxxxkk?????????..........21321全距管制圖平均值管制圖管制圖RX ? 上述公式中 A2,D3,D4為常系數(shù),決定于子組樣本容量。其系數(shù)值見下表 : n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注: 對于樣本容量小于 7的情況, LCLR可能技術(shù)上為一個負(fù)值。在這種情況下沒有下控制限,這意味著對于一個樣本數(shù)為 6的子組, 6個“同樣的”測量結(jié)果是可能成立的。 XR圖計算公式系數(shù) C過程控制解釋 C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點 C2識別并標(biāo)注特殊原因 (極差圖 ) C3重新計算控制界限 (極差圖 ) C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點 超出控制限的點 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 超出控制限的點 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 C5識別并標(biāo)注特殊原因 (均值圖 ) C6重新計算控制界限 (均值圖 ) C7為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限 建立 XR圖的步驟 C 控制圖的判讀 ? 超出控制界限的點:出現(xiàn)一個或多個點超出任何一個控制界限是該點處于失控狀態(tài)的主要證據(jù) UCL CL LCL 異常 異常 控制圖的判讀 ? 鏈:有下列現(xiàn)象之一即表明過程已改變 ? 連續(xù) 7點位于平均值的一側(cè) ? 連續(xù) 7點上升 (后點等于或大于前點 )或下降。 UCL CL LCL 控制圖的判讀 ? 明顯的非隨機(jī)圖形:應(yīng)依正態(tài)分布來判定圖形,正常應(yīng)是有 2/3的點落于中間 1/3的區(qū)域。 UCL CL LCL 控制圖的觀察分析 ? 作控制圖的目的是為了使生產(chǎn)過程或工作過程處于“控制狀態(tài)” . 控制狀態(tài)即穩(wěn)定狀態(tài) , 指生產(chǎn)過程或工作過程僅受偶然因素的影響 , 產(chǎn)品質(zhì)量特性的分布基本上不隨時間而變化的狀態(tài) . 反之 , 則為非控制狀態(tài)或異常狀態(tài) . ? 控制狀態(tài)的標(biāo)準(zhǔn)可歸納為二條 : ? 第一條 , 控制圖上點不超過控制界限 。 ? 第二條 , 控制圖上點的排列分布沒有缺陷 . 控制圖的觀察分析 ? 進(jìn)行控制所遵循的依據(jù) : ? 連續(xù) 25點以上處于控制界限內(nèi) 。 ? 連續(xù) 35點中 , 僅有 1點超出控制界限 。 ? 連續(xù) 100點中 , 不多于 2點超出控制界限 . ? 五種缺陷 ? 鏈 : 點連續(xù)出現(xiàn)在中心線 CL 一側(cè)的現(xiàn)象稱為鏈 , 鏈的長度用鏈內(nèi)所含點數(shù)多少來判別 . ? 當(dāng)出現(xiàn) 5點鏈時 , 應(yīng)注意發(fā)展情況 , 檢查操作方法有無異常 。 ? 當(dāng)出現(xiàn) 6點鏈時 , 應(yīng)開始調(diào)查原因 。 ? 當(dāng)出現(xiàn) 7點鏈時 , 判定為有異常 , 應(yīng)采取措施 . 控制圖的觀察分析 ? 從概率的計算中 , 得出結(jié)論 : ? 點出在中心線一側(cè)的概率 A1=1/2 ? 點連續(xù)出現(xiàn)在中心線一側(cè)的概率 A1=(1/2)7 = 1/128 (%)即在 128次中才發(fā)生一次 , 如果是在穩(wěn)定生產(chǎn)中處于控制狀態(tài)下 , 這種可能性是極小的 . 因此 , 可以認(rèn)為這時生產(chǎn)狀態(tài)出現(xiàn)異常 . ? 偏離 : 較多的點間斷地出現(xiàn)在中心線的一側(cè)時偏離 . 如有以下情況則可判斷為異常狀態(tài) . ? 連續(xù)的 11點中至少有 10點出現(xiàn)在一側(cè)時 。 ? 連續(xù)的 14點中至少有 12點出現(xiàn)在一側(cè)時 。 ? 連續(xù)的 17點中至少有 14點出現(xiàn)在一側(cè)時 。 ? 連續(xù)的 20點中至少有 16點出現(xiàn)在一側(cè)時。 控制圖的觀察分析 ? 傾向 : 若干點連續(xù)上升或下降的情況稱為傾向 , 其判別準(zhǔn)則如下 : ? 當(dāng)出現(xiàn)連續(xù) 5點不斷上升或下降趨向時 , 要注意該工序的操作方法 。 ? 當(dāng)出現(xiàn)連續(xù) 6點不斷上升或下降的趨向時 , 要開始調(diào)查原因 。 ? 當(dāng)出現(xiàn)連續(xù) 7點不斷上升或下降的趨向時 , 應(yīng)判斷為異常 , 需采取措施 . ? 周期 : 點的上升或下降出現(xiàn)明顯的一定的間隔時稱為周期 . ? 周期包括呈階梯形周期變動、波狀周期變動、大小波動等情況 . 控制圖的觀察分析 ? 接近 : 圖上的點接近中心線或上下控制界限的現(xiàn)象稱為接近 . 接近控制界限時 , 在中心線與控制界限間作三等分線 , 如果在外側(cè)的 1/3帶狀區(qū)間內(nèi)存在下述情況可判定為異常 : ? 連續(xù) 3點中有 2點 (該兩點可不連續(xù) )在外側(cè)的 1/3帶狀區(qū)間內(nèi) 。 ? 連續(xù) 7點中有 3點 (該 3點可不連續(xù) )在外側(cè)的 1/3帶狀區(qū)間內(nèi) 。 ? 連續(xù) 10點中有 4點 (該 4點可不連續(xù) )在外側(cè)的 1/3帶狀區(qū)間內(nèi) . ? 當(dāng)首批數(shù)據(jù)都在試驗控制限之內(nèi)(即控制限確定后),延長控制限,將其作為將來的一段時期的控制限。 ? 當(dāng)子組容量變化時(例如:減少樣本容量,增加抽樣頻率),應(yīng)調(diào)整中心限和控制限 。方法如下: 估計過程標(biāo)準(zhǔn)偏差(用 σ? 表示),用現(xiàn)有的子組容量計算: σ? = R/d2 式中 R為子組極差均值, d2 為隨樣本容量變化的常數(shù),如下表 ? 按照新的子組容量查表得到系數(shù) d2 、 D D4 和 A2,計算新的極差和控制限。 為繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限 為繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限 ? 估計過程標(biāo)準(zhǔn)偏差和計算新的控制限 2?dR?? newxnewxnewRnewRnewRAxLCLRAxUCLRDLCLRDUCLdR22342???????? ? n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 D過程能力解釋 D1計算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 D2計算過程能力 D3評價過程能力 D4提高過程能力 D5對修改的過程繪制控制圖并分析 建立 XR圖的步驟 D 前提假設(shè): ? 過程處于統(tǒng)計穩(wěn)定狀態(tài); ? 過程的各測量值服從正態(tài)分布; ? 工程及其它規(guī)范準(zhǔn)確地代表顧客的需求; ? 設(shè)計目標(biāo)值位于規(guī)范的中心; ? 測量變差相對較小 前提說明: ? 總存在抽樣變差; ? 沒有“完全”受統(tǒng)計控制過程; ? 實際分布不是完美的正態(tài)分布 過程能力解釋前提 計算過程能力 ? 對于 XR圖,過程能力是通過計算 Cpk,用 Cpk大小來確定過程能力,當(dāng)所有點都受控后才計算該值。 ? 對于過程能力的初步估計值,應(yīng)使用歷史數(shù)據(jù),但應(yīng)剔除與特殊原因有關(guān)的數(shù)據(jù)點。 ? 當(dāng)正式研究過程能力時,應(yīng)使用新的數(shù)據(jù),最好是 25個或更多時期子組,且所有的點都受統(tǒng)計控制。 2?)()2/(dRTXCa?????雙邊規(guī)格制程能力指數(shù) Ca 2??3?3?6dRLSLXCXUSLCLSLUSLCppp???????????制程能力指數(shù) Cp ? 雙邊規(guī)格 ? 只有上規(guī)格時 ? 只有下規(guī)格時 2??3?3),min(dRLSLXCXUSLCCCCplpuplpupk?????????制程能力指數(shù) Cpk ? 當(dāng) Cpk1 說明制程能力差 , 不可接受; ? 1≤Cpk≤,說明制程能力可以 , 但需改善; ? ≤Cpk≤,說明制程能力正常; ? Cpk, 說明制程能力良好 。 評價過程能力 改善過程能力 ? 過程一旦表現(xiàn)出處于統(tǒng)計控制狀態(tài),該過程所保持的控制水平即反應(yīng)了該系統(tǒng)的變差原因 ─ 過程能力。在操作上診斷特殊原因 (控制 )變差問題的分析方法不適于診斷影響系統(tǒng)的普通原因變差。必須對 系統(tǒng)本身直接采取管理措施 ,否則過程能力不可能得到改進(jìn)。有必要使用長期的解決問題的方法來糾正造成長期不合格的原因。 ? 可以使用諸如 排列圖分析法及因果分析圖 等解決問題技術(shù)。盡可能地追溯變差的可疑原因,并借助統(tǒng)計技術(shù)方法進(jìn)行分析將有利于問題的解決 改善過程能力 過程穩(wěn)定,控制范圍 維持在一定的水平當(dāng)中 降低變差 采取管理上的措施 降低偶因,如此才能 縮小控制界限,降低變差 縮小控制限 繪制并分析修改后的過程控制圖 ? 當(dāng)對過程采取了系統(tǒng)的措施后,其效果應(yīng)在控制圖上明顯地反應(yīng)出來; 控制圖成為驗證措施有效性的一種途徑。 ? 對過程進(jìn)行改變時,應(yīng)小心地監(jiān)視控制。這個變化時期對系統(tǒng)操作會是破壞性,可能造成新的控制問題,掩蓋系統(tǒng)變化后的真實效果。 ? 在過程改
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