【文章內(nèi)容簡介】 超出控制界限，此時須尋找原因。連續(xù)二十五點在控制界限內(nèi)，表示制程基本上已穩(wěn)定，控制界限可以延用有點超出控制界限，表示此時狀態(tài)已被改變，此時要追查原因，必要時必須重新收集數(shù)據(jù)，重新考慮穩(wěn)定狀態(tài)解析用 穩(wěn)定 控制用 再調(diào)整“n”=10~25控制 圖 的 選 定資料性質(zhì)不良 數(shù) 或缺陷 數(shù)單 位大小是否一定“n”是否一定樣 本大小n≧ 2CL的性 質(zhì)“n”是否 較 大“u”圖“c”圖“np”圖“p”圖XRm圖XR圖XR圖Xs圖計數(shù)值計 量值“n”=1n≧ 1中位 數(shù)平均值“n”=2~5缺陷 數(shù)不良 數(shù)不一定 一定一定不一定5. 控制圖的選擇CASE STUDY質(zhì)量特性 樣本數(shù) 選用什么圖長度 5重量 10乙醇比重 1電燈亮／不亮 100每一百平方米的臟點 100平方米第四部分 :計量型控制圖制作步驟及判定原則68目 錄1. 引言2. 均值和極差圖 (XR圖 )3. 均值和標準差圖 (Xs)4. 中位數(shù)和極差圖 (XR)5. 單值和移動極差圖 (XMR)與過程有關的說明結(jié)果舉例 控制圖舉例? 軸的外徑（英寸）? 從基準面到孔的距離（ mm）? 電阻（ Ω）? 軌道車通過時間（ h）? 工程更改處理時間（ h）用于均值測量的 X圖用于極差測量的 R圖人員 設備 環(huán)境材料 方法測量結(jié)果計量單位 (mm， kg等 )原點（ 0mm， F等）1 2 3 4 5 6 7計量型數(shù)據(jù)控制圖應用前提不準確準確不精密 精密測量方法必須保證始終產(chǎn)生準確和精密的結(jié)果w 大多過程和其輸出具有可測量的特性；w 量化的值比簡單的是 — 否陳述包含的信息更多；w 對較少的件數(shù)檢查，可獲得更多的有關過程的信息；w 因只需檢查少量的產(chǎn)品，可縮短零件生產(chǎn)和采取糾正措施之間的時間間隔；w 可分析一個過程的性能和可量化所用的改進，為尋求持續(xù)改進提供信息。計量型數(shù)據(jù)控制圖益處建立控制圖的四步驟A收集數(shù)據(jù)B計算控制限C過程控制解釋D過程能力解釋建立 XR圖的步驟 AＡ階段收集數(shù)據(jù) A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小子組頻率子組數(shù)大小A2建立控制圖及記錄原始記錄A3計算每個子組的均值 X和極差 RA4選擇控制圖的刻度A5將均值和極差畫到控制圖上取樣的方式w 取樣必須達到組內(nèi)變異小，組間變異大w 樣本數(shù)、頻率、組數(shù)的說明每個子組平均值和極差計算1 100 98 99 100 982 98 99 98 101 973 99 97 100 100 984 100 100 101 99 995 101 99 99 100 99平均 100 極差 3 3 3 2 2平均值和極差w 平均值的計算n R值的計算Ｂ計算控制限 B1計算平均極差及過程平均值B2計算控制限B3在控制圖上作出平均值和 極差控制限的控制線建立 XR圖的步驟 B 上述公式中 A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。其系數(shù)值見下表 ：n 2 3 4 5 6 7 8 9 10D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注： 對于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術(shù)上為一個負值。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對于一個樣本數(shù)為 6的子組， 6個 “同樣的 ”測量結(jié)果是可能成立的。 XR圖計算公式系數(shù)Ｃ過程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點C2識別并標注特殊原因 (極差圖 )C3重新計算控制界限 (極差圖 )C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點超出控制限的點鏈明顯的非隨機圖形超出控制限的點鏈明顯的非隨機圖形C5識別并標注特殊原因 (均值圖 )C6重新計算控制界限 (均值圖 )C7為了繼續(xù)進行控制延長控制限建立 XR圖的步驟 C控制圖的判讀w 超出控制界限的點：出現(xiàn)一個或多個點超出任何一個控制界限是該點處于失控狀態(tài)的主要證據(jù)UCLCLLCL異常異常控制圖的判讀n 鏈：有下列現(xiàn)象之一即表明過程已改變n 連續(xù) 7點位于平均值的一側(cè)n 連續(xù) 7點上升 (后點等于或大于前點 )或下降。UCLCLLCL控制圖的判讀n 明顯的非隨機圖形：應依正態(tài)分布來判定圖形，正常應是有 2/3的點落于中間 1/3的區(qū)域。UCLCLLCL控制圖的觀察分析w 作控制圖的目的是為了使生產(chǎn)過程或工作過程處于 “控制狀態(tài) ”. 控制狀態(tài)即穩(wěn)定狀態(tài) , 指生產(chǎn)過程或工作過程僅受偶然因素的影響 , 產(chǎn)品質(zhì)量特性的分布基本上不隨時間而變化的狀態(tài) . 反之 , 則為非控制狀態(tài)或異常狀態(tài) .w 控制狀態(tài)的標準可歸納為二條 :n 第一條 , 控制圖上點不超過控制界限 。n 第二條 , 控制圖上點的排列分布沒有缺陷 .控制圖的觀察分析w 進行控制所遵循的依據(jù) :n 連續(xù) 25點以上處于控制界限內(nèi) 。n 連續(xù) 35點中 , 僅有 1點超出控制界限 。n 連續(xù) 100點中 , 不多于 2點超出控制界限 .w 五種缺陷n 鏈 : 點連續(xù)出現(xiàn)在中心線 CL 一側(cè)的現(xiàn)象稱為鏈 , 鏈的長度用鏈內(nèi)所含點數(shù)多少來判別 .l 當出現(xiàn) 5點鏈時 , 應注意發(fā)展情況 , 檢查操作方法有無異常 。l 當出現(xiàn) 6點鏈時 , 應開始調(diào)查原因 。l 當出現(xiàn) 7點鏈時 , 判定為有異常 , 應采取措施 .控制圖的觀察分析n 從概率的計算中 , 得出結(jié)論 :l 點出在中心線一側(cè)的概率 A1=1/2l 點連續(xù)出現(xiàn)在中心線一側(cè)的概率 A1=(1/2)7 = 1/128 (%)即在 128次中才發(fā)生一次 , 如果是在穩(wěn)定生產(chǎn)中處于控制狀態(tài)下 , 這種可能性是極小的 . 因此 , 可以認為這時生產(chǎn)狀態(tài)出現(xiàn)異常 .n 偏離 : 較多的點間斷地出現(xiàn)在中心線的一側(cè)時偏離 . 如有以下情況則可判斷為異常狀態(tài) .l 連續(xù)的 11點中至少有 10點出現(xiàn)在一側(cè)時 。l 連續(xù)的 14點中至少有 12點出現(xiàn)在一側(cè)時 。l 連續(xù)的 17點中至少有 14點出現(xiàn)在一側(cè)時 。l 連續(xù)的 20點中至少有 16點出現(xiàn)在一側(cè)時?？刂茍D的觀察分析n 傾向 : 若干點連續(xù)上升或下降的情況稱為傾向 , 其判別準則如下 :l 當出現(xiàn)連續(xù) 5點不斷上升或下降趨向時 , 要注意該工序的操作方法 。l 當出現(xiàn)連續(xù) 6點不斷上升或下降的趨向時 , 要開始調(diào)查原因 。l 當出現(xiàn)連續(xù) 7點不斷上升或下降的趨向時 , 應判斷為異常 , 需采取措施 .n 周期 : 點的上升或下降出現(xiàn)明顯的一定的間隔時稱為周期 .l 周期包括呈階梯形周期變動、波狀周期變動、大小波動等情況 .控制圖的觀察分析n 接近 : 圖上的點接近中心線或上下控制界限的現(xiàn)象稱為接近 . 接近控制界限時 , 在中心線與控制界限間作三等分線 , 如果在外側(cè)的 1/3帶狀區(qū)間內(nèi)存在下述情況可判定為異常 :l 連續(xù) 3點中有 2點 (該兩點可不連續(xù) )在外側(cè)的 1/3帶狀區(qū)間內(nèi) 。l 連續(xù) 7點中有 3點 (該 3點可不連續(xù) )在外側(cè)的 1/3帶狀區(qū)間內(nèi) 。l 連續(xù) 10點中有 4點 (該 4點可不連續(xù) )在外側(cè)的 1/3帶狀區(qū)間內(nèi) .w 當首批數(shù)據(jù)都在試驗控制限之內(nèi)（即控制限確定后），延長控制限，將其作為將來的一段時期的控制限。w 當子組容量變化時（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率），應調(diào)整中心限和控制限 。方法如下： 估計過程標準偏差（用 σ? 表示），用現(xiàn)有的子組容量計算： σ? = R/d2 式中 R為子組極差均值， d2 為隨樣本容量變化的常數(shù)，如下表w 按照新的子組容量查表得到系數(shù) d2 、 D D4 和 A2，計算新的極差和控制限。 為繼續(xù)進行控制延長控制限為繼續(xù)進行控制延長控制限w 估計過程標準偏差和計算新的控制限 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10d2 Ｄ過程能力解釋D1計算過程的標準偏差D2計算過程能力D3評價過程能力D4提高過程能力D5對修改的過程繪制控制圖并分析建立 XR圖的步驟 D前提假設：w 過程處于統(tǒng)計穩(wěn)定狀態(tài)；w 過程的各測量值服從正態(tài)分布；w 工程及其它規(guī)范準確地代表顧客的需求；w 設計目標值位于規(guī)范的中心；w 測量變差相對較小前提說明：w 總存在抽樣變差；w 沒有 “完全 ”受統(tǒng)計控制過程；w 實際分布不是完美的正態(tài)分布過程能力解釋前提計算過程能力w 對于 XR圖，過程能力是通過計算 Cpk，用 Cpk大小來確定過程能力，當所有點都受控后才計算該值。w 對于過程能力的初步估計值，應使用歷史數(shù)據(jù)，但應剔除與特殊原因有關的數(shù)據(jù)點。w 當正式研究過程能力時，應使用新的數(shù)據(jù)，最好是 25個或更多時期子組，且所有的點都受統(tǒng)計控制。制程能力指數(shù) Ca制程能力指數(shù) Cpw 雙邊規(guī)格w 只有上規(guī)格時w 只有下規(guī)格時制程能力指數(shù) Cpkw 當 Cpk1 說明制程能力差，不可接受；w 1≤Cpk≤,說明制程能力可以，但需改善；w ≤Cpk≤,說明制程能力正常；w Cpk， 說明制程能力良好。評價過程能力改善過程能力w 過程一旦表現(xiàn)出處于