spc統(tǒng)計過程控制講座(編輯修改稿)
2025-03-10 14:44 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 0。流等。（ 注： 數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等生產(chǎn)出來的零件，即一個單一的生產(chǎn)流。）112子組頻率 ：在適當(dāng)?shù)臅r間內(nèi)收集足夠的數(shù)據(jù)，這樣子組才能反映潛在的變化，這些變化原因可能是換班 /操作人員更換 /材料批次不同等原因引起。對正在生產(chǎn)的產(chǎn)品進(jìn)行監(jiān)測的子組頻率可以是每班 2次，或一小時一次等。 接上頁113子組數(shù)： 子組越多，變差越有機(jī)會出現(xiàn)。一般為 25組，首次使用管制圖選用 35組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。 12建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) （見下圖）1計算每個子組的均值（ X） 和極差 R對每個子組計算：X=（ X1+X2+…+Xn ） /nR=XmaxXmin式中： X1， X2????為子組內(nèi)的每個測量值。 n表示子組的樣本容量1選擇控制圖的刻度 41兩個控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 X和 R的測量值。42刻度選擇 ：接上頁對于 X圖，坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)至少為子組均值（ X） 的最大值與最小值的差的 2倍，對于 R圖坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)為初始階段所遇到的最大極差（ R） 的 2倍。 注： 一個有用的建議是將 R圖的刻度值設(shè)置為 X圖刻度值的 2倍。（ 例如：平均值圖上 1個刻度代表 ，則在極差圖上1個刻度代表 ）1將均值和極差畫到控制圖上 51X圖和 R圖上的點描好后及時用直線聯(lián)接，瀏覽各點是否合理，有無很高或很低的點，并檢查計算及畫圖是否正確。52確保所畫的 X和 R點在縱向是對應(yīng)的。注： 對于還沒有計算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明 “初始研究 ”字樣。2 計算控制限3 首先計算極差的控制限，再計算均值的控制限 4 5 21計算平均極差（ R） 及過程均值（ X）6 R=（ R1+R2+…+Rk ） /k（ K表示子組數(shù)量）7 8 X=（ X1+X2+…+Xk ） /k9 22計算控制限10 計算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時子組的均11 值和極差的變化和范圍?？刂葡奘怯勺咏M的樣本容量以及反12 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。13 計算公式：14 UCLx=X+A2RUCLR=D4R15 LCLx=XA2RLCLR=D3R16 接上頁注： 式中 A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。其系數(shù)值見下表 ：n 2 3 4 5 6 7 8 9 10D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注： 對于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術(shù)上為一個負(fù)值。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對于一個樣本數(shù)為 6的子組， 6個 “同樣的 ”測量結(jié)果是可能成立的。 23在控制圖上作出均值和極差的控制限 n 平均極差和過程均值畫成實線。n 各控制限畫成虛線。n 對各條線標(biāo)上記號（ UCLR， LCLR， UCLX， LCLX）n 注：在初始研究階段，應(yīng)注明試驗控制限。3 過程控制分析4 分析控制圖的目的在于識別過程變化或過程均值不恒定的證據(jù)。5 （即其中之一或兩者均不受控）進(jìn)而采取適當(dāng)?shù)拇胧? 7 160
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