spc統(tǒng)計過程控制講座-資料下載頁
2025-02-20 14:44本頁面
【正文】 例如：不同的量具或 QC） 不受控制的過程的均值（有一點超過控制限）受控制的過程的均值UCLLCLXLCLUCLX342鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢：連續(xù) 7點在平均值一側(cè)或 7點連續(xù)上升或下降a與過程均值有關(guān)的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩者。 a1過程均值已改變a2測量系統(tǒng)已改變（漂移，偏差，靈敏度）注：標(biāo)注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參考線延伸到鏈的開始點，分析時應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間。 不受控制的過程的均值（長的上升鏈）不受控制的過程的均值（出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長鏈）UCLXLCLUCLXLCL343明顯的非隨機圖形a非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點的分布在整個控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。b一般情況，各點與 X的距離：大約 2/3的描點應(yīng)落在控制限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域； 1/20的點應(yīng)落在控制限較近之處。c如果顯著多余 2/3以上的描點落在離 R很近之處（對于 25子組，如果超過 90%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查：c1控制限計算錯或描點描錯c2過程或取樣方法被分層，每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或多個具有完全不同的過程均值的過程流的測量值（如：從幾組軸中，每組抽一根來測取數(shù)據(jù)。 c3數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯 (極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個子組更改刪除）d如果顯著少余 2/3以上的描點落在離 X很近之處（對于 25子組，如 果有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： d1控制限計算錯或描點描錯 d2過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個不同的過程流的測量值（這可能是由于對可調(diào)整的過程進(jìn)行過度 控制造成的，這里過程改變是對過程數(shù)據(jù)中隨機波動的響應(yīng)）。 注：如果存在幾個過程流，應(yīng)分別識別和追蹤。UCLXLCLUCLXLCL均值失控的過程（點離過程均值太近）均值失控的過程（點離控制限太近）35識別并標(biāo)注所有特殊原因（均值圖） a對于均值數(shù)據(jù)內(nèi)每一個顯示處于失控狀態(tài)的條件進(jìn)行一次過程操作分析，從而確定產(chǎn)生特殊原因的理由，糾正該狀態(tài)，防止再發(fā)生。b應(yīng)及時分析問題，例如：出現(xiàn)一個超出控制限的點就立即開始分析過程原因。36重新計算控制限（均值圖）在進(jìn)行首次過程研究或重新評定過程能力時，要排除已發(fā)現(xiàn)并解決了的特殊原因的任何失控點，然后重新計算并描畫過程均值 X和控制限，使所有點均處于受控狀態(tài)。 37為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限a當(dāng)首批數(shù)據(jù)都在試驗控制限之內(nèi)（即控制限確定后），延長控制限，將其作為將來的一段時期的控制限。b當(dāng)子組容量變化時，（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率）應(yīng)調(diào)整中心限和控制限 方法如下：b1估計過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差（用 σ?表示），用 現(xiàn)有的 子組容量計算： σ?=R/d2式中 R為子組極差的均值（在極差受控期間）， d2為隨樣本容量變化的常數(shù)，如下表：n 2 3 4 5 6 7 8 9 10d2 b–2按照 新的 子組容量查表得到系數(shù) d D D4和 A2， 計算新的極差和控制限：R新 =σ?d2UCLR=D4R新 LCLR=D3R新 UCLX=X+A2R新 LCLX=X–A2R新 將這些控制限畫在控制圖上。謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAIT
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