【文章內(nèi)容簡介】 ： 3點(diǎn)中的 2點(diǎn)可以是任何 2點(diǎn)。出現(xiàn)準(zhǔn)則 5的現(xiàn)象是由于分布的 μ 參數(shù)發(fā)生了變化，如下圖 5。 ABCCBAUCLCLLCL50判異準(zhǔn)則 2（以國標(biāo) GB/T4091— 2023的 8種判異準(zhǔn)則為例）判定準(zhǔn)則 6（ 4/5B） 連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn)落在中心線同一側(cè)面的 B區(qū)或 B區(qū)以外（上側(cè)為 B區(qū)以上，下側(cè)為 B區(qū)以下）。與準(zhǔn)則 5類似。本準(zhǔn)則對于過程平均值的偏移也是較靈敏的。出現(xiàn)本準(zhǔn)則的現(xiàn)象是由于參數(shù) μ 發(fā)生了變化，如下圖 6。 ABCCBALCLUCLCL51判異準(zhǔn)則 2（以國標(biāo) GB/T4091— 2023的 8種判異準(zhǔn)則為例）判定規(guī)則 7（ 15C區(qū)內(nèi) ） 連續(xù) 15點(diǎn)在 C區(qū)中心線上下。出現(xiàn)本準(zhǔn)則的現(xiàn)象是由于參數(shù) σ 變小。對于本準(zhǔn)則不要被它的良好 “外貌 ”所迷惑，而應(yīng)該注意到它的非隨機(jī)性，造成本準(zhǔn)則現(xiàn)象的確良原因可能有：數(shù)據(jù)虛假或數(shù)據(jù)分層不夠等。如下圖 7。 ABCCBAUCLCLLCL52判異準(zhǔn)則 2（以國標(biāo) GB/T4091— 2023的 8種判異準(zhǔn)則為例）判定規(guī)則 8（ 8點(diǎn)又缺 C）有 8點(diǎn)在中心線之兩側(cè)，但無一在 C區(qū)中。造成本準(zhǔn)則現(xiàn)象的主要原因是數(shù)據(jù)分層不夠。如下圖 8。ABCCBAUCLCLLCL53判異準(zhǔn)則 2（以國標(biāo) GB/T4091— 2023的 8種判異準(zhǔn)則為例）判異準(zhǔn)則 2可用以下口訣記憶：1點(diǎn)出界， 9側(cè)鏈；6點(diǎn)傾向， 14（上下）顛；2/3A， 4/5B；15C區(qū)內(nèi)， 8點(diǎn)又缺 C。說明： 1）控制上限（ UCL）及控制下限（ LCL）分別在中心線以上及以下三倍標(biāo)準(zhǔn)差處。2）為便于判定，將控制圖均分為六區(qū)，每區(qū)寬度為一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差，控制圖上半部及下半部靠外側(cè)的一區(qū)，均稱為 A區(qū)；中間的一區(qū)，均稱為 B區(qū)；內(nèi)側(cè)靠近中心線的一區(qū)，均稱為 C區(qū)。3）控制圖上有 “ ”符號，表示控制不在統(tǒng)計(jì)的控制下。54過程穩(wěn)定的再認(rèn)識前面已知：過程穩(wěn)定即過程受控，是指過程的變差僅由普通原因引起，既然是由普通原因引起，就是說該原因不易消除，是穩(wěn)定的發(fā)揮作用的原因，對于生產(chǎn)過程而言，就是說產(chǎn)生不合格的原因是穩(wěn)定的，換言之，在生產(chǎn)過程穩(wěn)定的狀態(tài)下，產(chǎn)品不合格品率是可預(yù)期的。 生產(chǎn)過程穩(wěn)定就是指產(chǎn)品不良率穩(wěn)定！生產(chǎn)過程異常就是指產(chǎn)品不良率不穩(wěn)定！不穩(wěn)定就是不可預(yù)期！55過程穩(wěn)定的再認(rèn)識思考：生產(chǎn)過程 1：產(chǎn)品不良率穩(wěn)定在 1/1000生產(chǎn)過程 2：產(chǎn)品不良率穩(wěn)定在 1/100生產(chǎn)過程 3：產(chǎn)品不良率穩(wěn)定在 1/10那個(gè)生產(chǎn)過程好？所以生產(chǎn)過程穩(wěn)定僅僅只是指不良率穩(wěn)定而已，并不意味著不良率低！ ,并不一定是好事，過程不穩(wěn)定也并不一定是壞事！因此還需要一個(gè)表示生產(chǎn)過程不良率水平的指標(biāo) —— 過程能力指數(shù) Cpk、過程性能指數(shù) Ppk！56LCL UCL57LCL UCL58LCL UCL59LCL UCL60%%%3σ +3σ6σTT/6 σ可以代表過程合格率的水平！ CP=T/6 σ稱為過程能力指數(shù)61過程能力分析1）、 C系列過程能力指數(shù)計(jì)算 過程容限（過程能力） 6 σ過程固有變差（過程標(biāo)準(zhǔn)差）過程能力指數(shù)Cp=T/6σ 公差 T=規(guī)格上限 規(guī)格下限CPU=（ USLX） /（ 3σ ） USL:規(guī)格上限 CPL=（ XLSL） /（ 3σ ） LSL :規(guī)格下限Cp=(CPU + CPL)/2 Cpk=min(CPU, CPL) CPU和 CPL中取 較 小者。注意：控制上限與規(guī)格上限的區(qū)別、控制下限與規(guī)格下限的區(qū)別過程固有變差：僅由于普通原因（即系統(tǒng)原因）產(chǎn)生的那部分過程變差。 62631）、 C系列過程能力指數(shù)計(jì)算 R= X= 回憶前面計(jì)算：思考：前面繪制控制圖時(shí)，是否考慮產(chǎn)品規(guī)格上限和下限？即是否考慮公差？假定：規(guī)格上限 USL=183，規(guī)格下限 LSL=145查表得 d2=（ n=5）計(jì)算 CP、 CPU、 CPL、 CPK641）、 C系列過程能力指數(shù)計(jì)算651）、 C系列過程能力指數(shù)計(jì)算σ =R/d2=Cp=(USLLSL)/(6 σ)= (183 145)/(6 )=CPU=(USLX)/(3 σ)= (183 )/(3 )=CPL=(X LSL)/(3 σ)= ()/(3 )=Cpk=min(CPU,CPL)=min(,)=662）、 P系列過程能力指數(shù)計(jì)算過程總變差（過程標(biāo)準(zhǔn)差） —— 由于普通和特殊兩種原因所造成的變差，本變差可用樣本標(biāo)準(zhǔn)差 S來估計(jì)。過程性能： 6S672）、 P系列過程能力指數(shù)計(jì)算S =Pp=(USLLSL)/(6 S)= (183 145)/(6 ) =PPU=(USLX)/(3 S)= (183 )/(3 ) =PPL=(X LSL)/(3 S)= ()/(3 ) =Ppk=min(PPU,PPL)=min(,)=思考： Cpk、 Ppk是否接近？有何區(qū)別？過程能力研究（含 PPK）例 .xls培訓(xùn) \五大手冊教材 \SPC\過程能力研究（含 PPK）例 .xls683）、 C系列、 P系列過程能力指數(shù)的比較從形式上，兩者的區(qū)別只是 σ與 S的不同， 其他完全一樣。從數(shù)學(xué)意義上， σ是近似計(jì)算樣本標(biāo)準(zhǔn)差， S是考慮每個(gè) X數(shù)據(jù)（前例 125點(diǎn)），精確計(jì)算樣本標(biāo)準(zhǔn)差。693）、 C系列、 P系列過程能力指數(shù)的比較從實(shí)質(zhì)上講： C系列中 σ =R/d2能夠成立的前提條件是過程穩(wěn)定！所以嚴(yán)格的講前面例子中暫時(shí)不能計(jì)算 Cpk，因?yàn)?X圖第 13點(diǎn)異常，應(yīng)剔除該點(diǎn)后再計(jì)算。只有過程穩(wěn)定時(shí)，樣本才能代表總體、現(xiàn)狀才能代表未來，這叫 可預(yù)期！總體樣本P系列則不考慮過程是否穩(wěn)定。703）、 C系列、 P系列過程能力指數(shù)的比較從控制意義上講， Cpk考慮的是理想狀態(tài)下的產(chǎn)品質(zhì)量， Ppk考慮的是現(xiàn)實(shí)狀態(tài)下的產(chǎn)品質(zhì)量，理想狀態(tài)應(yīng)該是我們追求的，盡管有時(shí)理想狀態(tài)的 Cpk小于現(xiàn)實(shí)狀態(tài)的 Ppk，但它是可以預(yù)期的，穩(wěn)定的。Cpk、 Ppk兩者越接近越好。713）、 C系列、 P系列過程能力指數(shù)的比較一般優(yōu)先考慮 Cpk，有些顧客要求 Ppk或兩者同時(shí)要求。新的 SPC手冊要求同時(shí)考慮 CP、 CPK 、 PP、 PPK。對有些過程如熱處理，更適合作 Ppk。724）、 過程能力指數(shù)與不良率的關(guān)系73744）、 過程能力指數(shù)與不良率的關(guān)系%%%3σ 3σ若 T=6 σ ,則 CP=1， P=%=%2σ 2σ若 T=4 σ ,則 CP=， P=%=%75將上圖逆時(shí)針轉(zhuǎn) 90176。 后，變下圖： +3σ+2σ+1σμ－ 1σ－ 2σ－ 3σUCLCLLCL76（ 1）計(jì) 算 過 程能力 Z：過程能力 Z是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值與規(guī)范界限的距離，用 Z表示；（注意與前面過程能