spc的起源和發(fā)展培訓(xùn)課件-wenkub
2023-03-11 14:43:13 本頁面
【正文】 標(biāo)準(zhǔn)偏差 ?平均值 X 設(shè) X1， X2， …… .Xn是一個(gè)大小為 n的樣本， 則 X=（ X1+X2+…… +Xn)/n平均值的意義與局限性如人均收入的局限性27五、反映波動的變量極差 R 樣本數(shù)據(jù)中的最大值 Xmax與最小值Xmin的差值。211713951普通原因只能由領(lǐng)導(dǎo)層負(fù)責(zé)消除或減少。 將品質(zhì)波動的原因區(qū)分為普通 原因 與 特殊原因 兩類并分別對待，這是休哈特的貢獻(xiàn)！。 普通原因 是過程固有的，始終存在，對品質(zhì)的影響微小，但難以去除， 如設(shè)備的正常震動，刀具的磨損，同一批材料的品質(zhì)差異，熟練工人間的替換 。波動的概念是指在現(xiàn)實(shí)生活中沒有兩件東西是完全一樣的。Production 控制 圖 的 發(fā) 展一、 SPC的起源和發(fā)展18二、波動（變差）的概念 生活中的波動現(xiàn)象ChartChartforQuality171924年 發(fā) 明 .2）數(shù)據(jù)太多或太少。3）測量儀器精確度不夠。2）工具、檢具、模具已經(jīng)磨損或松動。2）測量儀器精確度不夠，而要求的精確度較高，檢驗(yàn)員只好進(jìn)行估計(jì)。本組數(shù)據(jù)有 1位小數(shù)點(diǎn)，所以本組的測量最小單位為 。100分3基礎(chǔ) 直方圖直方圖（頻數(shù)分布圖）的制作步驟 ① 收集數(shù)據(jù)（見下表，單位 mm） 4基礎(chǔ) 直方圖② 算出極差Xmax= Xmin= R=XmaxXmin==③ 設(shè)定組數(shù)在這里我們選定 10組，每組 10個(gè)數(shù)據(jù)。0分 55分 5基礎(chǔ) 直方圖④ 確定測量最小單位（按小數(shù)點(diǎn)的位數(shù)來決定）整數(shù)位測量最小單位為 1，如果數(shù)據(jù)是 50或 100時(shí)，那么它的測量最小單位為 1。6基礎(chǔ) 直方圖⑤ 計(jì)算組距（ h）h=R/10=≈ ，取 ；⑥ 求出各組的上、下限值第一組下限值 －測量最小單位/2=－ 第二組下限值（第一組上限值）=+= 7基礎(chǔ) 直方圖⑦ 計(jì)算中心值組中心值 =（組上限值 +組下限值） /2 第一組中心值 =（ +）/2=（以此類推） 8基礎(chǔ) 直方圖⑧ 制作頻數(shù)表（如下表）：9基礎(chǔ) 直方圖⑨ 按頻數(shù)表面畫出直方圖（如下圖） LSLSL3）次數(shù)分配不當(dāng)，如作圖時(shí)分組太多。3）機(jī)臺設(shè)備在過程中出現(xiàn)特殊原因，產(chǎn)生了變異。 13基礎(chǔ) 直方圖 直方圖的常見形態(tài)與判定雙峰型 1）有兩個(gè)不同的組合，如兩部機(jī)器或兩家不同的供應(yīng)商。3）品質(zhì)實(shí)在太差，未經(jīng)過全檢的數(shù)據(jù)。Shewhart1931發(fā) 表1931年 Shewhart發(fā) 表了“EconomicofManufactureQualityMethodanalyzingMethodControl身高體重工資壽命命運(yùn)19二、波動（變差）的概念生產(chǎn)實(shí)踐證明，無論用多么精密的設(shè)備和工具，多么高超的操作技術(shù)，甚至由同一操作工，在同一設(shè)備上，用相同的工具，生產(chǎn)相同材料的同種產(chǎn)品，其加工后的質(zhì)量特性（如： 重量、尺寸等 ）總是有差異，這種差異稱為 波動 。公差制度實(shí)際上就是對這個(gè)事實(shí)的客觀承認(rèn)。 休哈特將上述原因分為兩類：普通原因 由領(lǐng)導(dǎo)層承擔(dān)責(zé)任。23四、如何識別普通原因與特殊原因一個(gè)游戲的啟示D:\培訓(xùn) \五大手冊教材 \SPC\nP控制圖模板(紅珠實(shí)驗(yàn) ).xls啟示：波動是不可避免的?？刂茍D可以運(yùn)用到任何領(lǐng)域，遠(yuǎn)不只限于生產(chǎn)現(xiàn)場控制。2610141822 R= Xmax Xmin級差的意義與局限性！28五、反映波動的變量標(biāo)準(zhǔn)偏差 S甲隊(duì)： 17 17 17 17 17 176乙隊(duì)： 17 17 17 17 17 176兩組身高，誰入選國家依仗隊(duì)？為什么？ 兩隊(duì)平均值 X、 R雖相同，但標(biāo)準(zhǔn)偏差 S能說明問題 S甲 = S乙 =29五、反映波動的變量標(biāo)準(zhǔn)偏差 S30五、反映波動的變量總體與樣本樣本總體31六、常用控制圖 XR圖的繪制32 XR圖的繪制某汽車配件廠為了提高品品質(zhì)，應(yīng)用 柏拉圖 分析成品不合格的各種原因，結(jié)果發(fā)現(xiàn)扭矩不良占第一位，品管部決定使用控制圖對扭矩進(jìn)行控制。由于Σ = Σ R=357，參見上表，所以得出：R= 控制上限 UCL=D4 R == 中心限 CL= R = 控制下限 LCL=D3 R =0 D D3查下表 36373）計(jì)算 X控制圖的中心值、上下界限值 控制上限： UCL=X+A2R=+ = 中心限： CL=X= 控制下限： LCL=XA2 R = = 384） R、 X控制圖描點(diǎn)對照數(shù)據(jù)表中的 25個(gè) R、 X值分別在 R、 X控制圖上描點(diǎn)，并連成折線。判異準(zhǔn)則42判異準(zhǔn)則 1（以 SPC參考手冊為例） a:超出控制界限的 點(diǎn) ： 出 現(xiàn) 一 個(gè) 或多 個(gè)點(diǎn) 超出任何一 個(gè) 控制界限是過程處于 失控 狀態(tài) 的主要 證據(jù)。準(zhǔn)則 1可對參數(shù) μ 的變化或參數(shù) σ 的變化給出信號，變化越大，則出信號越快。此準(zhǔn)則是為了補(bǔ)充準(zhǔn)則 1而設(shè)計(jì)的，以便改進(jìn)控制圖的靈敏度。產(chǎn)生趨勢的原因可能是工具逐漸磨損、維修逐漸變壞、操作人員技能的逐漸提高等，如下圖 3。ABCCBAUCLCLLCL49判異準(zhǔn)則 2（以國標(biāo) GB/T4091— 2023的 8種判異準(zhǔn)則為例）判定準(zhǔn)則 5（ 2/3A） 如果 3點(diǎn)中有 2點(diǎn)在 A區(qū)或 A區(qū)以外（上側(cè)為 A區(qū)以上，下側(cè)為 A區(qū)以下），那么，過程平均值的變化通常可由本準(zhǔn)則判定，它對于變異的增加較靈敏。與準(zhǔn)則 5類似。出現(xiàn)本準(zhǔn)則的現(xiàn)象是由于參數(shù) σ 變小。造成本準(zhǔn)則現(xiàn)象的主要原因是數(shù)據(jù)分層不夠。2）為便于判定，將控制圖均分為六區(qū)，每區(qū)寬度為一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差，控制圖上半部及下半部靠外側(cè)的一區(qū)，均稱為 A區(qū)；中間的一區(qū)，均稱為 B區(qū)；內(nèi)側(cè)靠近中心線的一區(qū)，均稱為 C區(qū)。注意：控制上限與規(guī)格上限的區(qū)別、控制下限與規(guī)格下限的區(qū)別過程固有變差：僅由于普通原因（即系統(tǒng)原因）產(chǎn)生的那部分過程變差。693）、 C系列、 P系列過程能力指數(shù)的比較從實(shí)質(zhì)上講： C系列中 σ =R/d2能夠成立的前提條件是過程穩(wěn)定！所以嚴(yán)格的講前面例子中暫時(shí)不能計(jì)算 Cpk，因?yàn)?X圖第 13點(diǎn)異常，應(yīng)剔除該點(diǎn)后再計(jì)算。713）、 C系列、 P系列過程能力指數(shù)的比較一般優(yōu)先考慮 Cpk，有些顧客要求 Ppk或兩者同時(shí)要求。 后，變下圖： +3σ+2σ+
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