【正文】 有必要使用 長 期的解決 問題的方法 來糾 正造成 長 期不合格的原因 。可利用 諸 如排列 圖和 因果分析 圖 等解決 問題 。3） 控制 圖 的 選 定控制圖類型和 Cpk或 Ppk的要求應(yīng)反映控制計劃中去。110 P控制圖（不良率或不合格率控制圖）3)P控制圖應(yīng)用要點(7)P控制圖如果有點逸出控制下限，亦應(yīng)采取對策，不能認(rèn)為不良率低而不必采取對策，因其異常原因可能來自：—— 量具的失靈；—— 良品的判定方法有誤；—— 真正有不良率變小的原因，若能掌握原因，則有助于日后大幅降低不良率。109 P控制圖（不良率或不合格率控制圖）3)P控制圖應(yīng)用要點(4)對于初學(xué)者，最好樣本數(shù)一致，這樣繪制的 P控制圖比較直觀，便于讀取判斷。適用于計件值控制圖。2723191511736）單值一移動極差控制圖不能區(qū)分過程間重復(fù)性，因此，在很多情況下，最好還是使用常規(guī)的子組樣本容量較小（ 2～ 5）的 XR控制圖 。2）適用于每次取樣數(shù)為 1的產(chǎn)品，如破壞性試驗或一些過程參數(shù)（溫度、壓力等）。96分析用控制圖與控制用控制圖控制用的控制圖經(jīng)過一個階段的使用后，可能又出現(xiàn)異常，這時應(yīng)按照 “查出異因，采取措施，加以消除，不再出現(xiàn)，納入標(biāo)準(zhǔn) ”去做，恢復(fù)所確定的穩(wěn)定狀態(tài)。94分析用控制圖與控制用控制圖分析用控制圖的特點： 3） 由于組間產(chǎn)品差異最大，因而對平均值的變化最靈敏。對貴重金屬刀具，允許： CP ≥ ， Cpk≥ 即對刀時可往規(guī)格上限走，在過程能力（ 6σ）較大的前提下，允許統(tǒng)計中心較大的偏離規(guī)格中心。利用從過程中得到的一定時間的不穩(wěn)定或不重復(fù)的數(shù)據(jù)來進(jìn)行預(yù)測是沒有什么價值的。在這些情況下，顧客可能會有以下要求：?該過程是成熟的，例如，該過程已經(jīng)過幾個循環(huán)的持續(xù)改進(jìn)；?允許存在的特殊原因在已知一段時間內(nèi)表現(xiàn)出產(chǎn)生穩(wěn)定的后果；?過程控制計劃有效運行。2類過程是受控過程但存在因普通原因造成的過大的必須減少的變差。81過程能力指數(shù) CPk：只考慮到固定變差或組內(nèi)變差單邊規(guī)格下規(guī)格界限單邊規(guī)格上規(guī)格界限2?)(?3)(?3dRLSLXCXUSLCpkpk===sssCp=(USLLSL)/6s5）、 回顧公式82pkC過程能力指數(shù)233),min(dRLSLxCxUSLCCCCplpuplpupk====sss83過程性能指數(shù) Ppk及組間變差都考慮進(jìn)去內(nèi)變差制程積效所表達(dá)的是組1)(??3?3),min(12====229。724）、 過程能力指數(shù)與不良率的關(guān)系73744）、 過程能力指數(shù)與不良率的關(guān)系%%%3σ 3σ若 T=6 σ ,則 CP=1， P=%=%2σ 2σ若 T=4 σ ,則 CP=， P=%=%75將上圖逆時針轉(zhuǎn) 90176。Cpk、 Ppk兩者越接近越好。從數(shù)學(xué)意義上， σ是近似計算樣本標(biāo)準(zhǔn)差， S是考慮每個 X數(shù)據(jù)（前例 125點），精確計算樣本標(biāo)準(zhǔn)差。 生產(chǎn)過程穩(wěn)定就是指產(chǎn)品不良率穩(wěn)定！生產(chǎn)過程異常就是指產(chǎn)品不良率不穩(wěn)定！不穩(wěn)定就是不可預(yù)期！55過程穩(wěn)定的再認(rèn)識思考：生產(chǎn)過程 1：產(chǎn)品不良率穩(wěn)定在 1/1000生產(chǎn)過程 2：產(chǎn)品不良率穩(wěn)定在 1/100生產(chǎn)過程 3：產(chǎn)品不良率穩(wěn)定在 1/10那個生產(chǎn)過程好？所以生產(chǎn)過程穩(wěn)定僅僅只是指不良率穩(wěn)定而已，并不意味著不良率低！ ,并不一定是好事，過程不穩(wěn)定也并不一定是壞事！因此還需要一個表示生產(chǎn)過程不良率水平的指標(biāo) —— 過程能力指數(shù) Cpk、過程性能指數(shù) Ppk！56LCL UCL57LCL UCL58LCL UCL59LCL UCL60%%%3σ +3σ6σTT/6 σ可以代表過程合格率的水平！ CP=T/6 σ稱為過程能力指數(shù)61過程能力分析1）、 C系列過程能力指數(shù)計算 過程容限（過程能力） 6 σ過程固有變差（過程標(biāo)準(zhǔn)差）過程能力指數(shù)Cp=T/6σ 公差 T=規(guī)格上限 規(guī)格下限CPU=（ USLX） /（ 3σ ） USL:規(guī)格上限 CPL=（ XLSL） /（ 3σ ） LSL :規(guī)格下限Cp=(CPU + CPL)/2 Cpk=min(CPU, CPL) CPU和 CPL中取 較 小者。說明： 1）控制上限（ UCL）及控制下限（ LCL）分別在中心線以上及以下三倍標(biāo)準(zhǔn)差處。 ABCCBAUCLCLLCL52判異準(zhǔn)則 2（以國標(biāo) GB/T4091— 2023的 8種判異準(zhǔn)則為例）判定規(guī)則 8（ 8點又缺 C）有 8點在中心線之兩側(cè)，但無一在 C區(qū)中。 ABCCBALCLUCLCL51判異準(zhǔn)則 2（以國標(biāo) GB/T4091— 2023的 8種判異準(zhǔn)則為例）判定規(guī)則 7（ 15C區(qū)內(nèi) ） 連續(xù) 15點在 C區(qū)中心線上下。 ABCCBAUCLCLLCL50判異準(zhǔn)則 2（以國標(biāo) GB/T4091— 2023的 8種判異準(zhǔn)則為例）判定準(zhǔn)則 6（ 4/5B） 連續(xù) 5點中有 4點落在中心線同一側(cè)面的 B區(qū)或 B區(qū)以外（上側(cè)為 B區(qū)以上，下側(cè)為 B區(qū)以下）。如下圖 4。此準(zhǔn)則是針對過程平均值的趨勢進(jìn)行設(shè)計的，它判定過程平均值的較小趨勢要比準(zhǔn)則 2更為靈敏。 ABCCBAUCLCLLCL前面例子中 Xbar圖的第 13點異常46判異準(zhǔn)則 2（以國標(biāo) GB/T4091— 2023的 8種判異準(zhǔn)則為例）判定準(zhǔn)則 2（ 9側(cè)鏈 ）連續(xù) 9點落在中心線同一側(cè)。在許多應(yīng)用中，準(zhǔn)則 1甚至是惟一的判異準(zhǔn)則。41應(yīng)用 控制 圖 的目的是 為 了使生 產(chǎn)過 程或工作 過程處于 “控制 狀態(tài) ”， 控制 狀態(tài)（穩(wěn) 定狀態(tài)） 指生 產(chǎn)過 程 的波動僅 受 正常原因 的影 響 ，產(chǎn)品質(zhì)量 特性的分布基本上不 隨時間 而 變化的狀態(tài)； 反之 則為 非控制 狀態(tài)或異常狀態(tài)。33341）數(shù)據(jù)分組的要求組內(nèi)變差小組間變差大352）計算 R圖的中心值、上下界限值 計算樣本總均值與平均樣本極差 R。25控制圖對應(yīng)的是特殊原因2526五、反映波動的變量基礎(chǔ)的統(tǒng)計量 —— 平均值 X、極差 R、