【文章內(nèi)容簡介】 間序列沒有相同的自回歸系數(shù)。因此，該方法并不能徹底解決縱剖面時間序列非獨立的異質(zhì)面板數(shù)據(jù)的單位根檢驗問題。在適當(dāng)?shù)募僭O(shè)下，崔仁（In Choi，2002）研究了利用二維誤差分解模型（twoway error ponent model,2ECM） （）檢驗假設(shè)，: 對某些i, 的面板單位根檢驗。由于面板數(shù)據(jù)的共同因素對各縱剖面?zhèn)€體具有不同或相同影響時，白聚山和Ng（Jushan Bai ane Serena Ng，2001）、Moon和Perron（ and Perron, B.，2002）從共同因子和特定因素分解的角度修正縱剖面時間序列獨立的面板單位根檢驗的實際檢驗水平失真，采用因子分析模型研究面板數(shù)據(jù)的平穩(wěn)性。事實上，因子分析模型具有重要的經(jīng)濟意義，例如，當(dāng)表示國家i在t時期的實際產(chǎn)出時，是全球經(jīng)濟的趨勢因素，是全球經(jīng)濟的周期因素，是該國地緣因素對實際產(chǎn)出的影響。在一些合理的條件下，白聚山和Ng（Jushan Bai ane Serena Ng，2001）基于主成分分析方法和面板單位根的Fisher檢驗（或稱為p值檢驗）方法首先研究了因子分析模型和的單位根檢驗（簡稱，PANIC），其中，面板數(shù)據(jù)的K個不可觀測的共同因子向量（the vector mon factors）（K是已知的）和特定誤差或特定沖擊（idiosyncratic shocks）分別都是面板AR(1)過程.類似地，在若干假設(shè)下，Moon和Perron（ and Perron, B.，2002）也基于主成分分析方法和退因子技術(shù)研究了共同因子和特定誤差是面板過程的因子分解模型的單位根檢驗問題，其中，是面板數(shù)據(jù)的K個不可觀測的隨機共同因子（K也是未知的），是面板個體i關(guān)于共同因子的載荷系數(shù)向量，是特定誤差。顯然，當(dāng)時，誤差因子分解模型就演變?yōu)橛袝r間分量的二維誤差分解模型，所以，因子分解模型是二維誤差分解模型的推廣。與白聚山和Ng的研究類似，Moon和Perron也選擇了對IPS型假設(shè)的檢驗。但是，為了同時處理零假設(shè)和局部備擇假設(shè)（local alternatives hypothesis），首先，利用將IPS型假設(shè)變形為等價的近單位根假設(shè)（near unit root hypothesis）（其中，是非負(fù)隨機變量）顯然，與白聚山和Ng的檢驗比較，Moon和Perron的檢驗無論從對共同因子的約束還是檢驗?zāi)Ｐ投几话慊?. 縱剖面時間序列協(xié)整的面板單位根檢驗及其應(yīng)用1997年，Crowder（1997）在利用1972年1月至1993年9月歐洲經(jīng)濟合作與發(fā)展組織（OECD）16國貨幣兌美元的實際匯率月度面板數(shù)據(jù)檢驗購買力平價理論時發(fā)現(xiàn)，當(dāng)面板的縱剖面時間序列間存在協(xié)整關(guān)系時，LL的面板單位根檢驗發(fā)生了戲劇性的變化。隨著面板的縱剖面時間序列間的協(xié)整關(guān)系數(shù)（）增加，LL檢驗的t統(tǒng)計量的經(jīng)驗頻數(shù)分布(empirical frequency distribution)向左偏移；當(dāng)協(xié)整關(guān)系數(shù)增加到13時，LL檢驗的t統(tǒng)計量的經(jīng)驗分布退化為雙峰分布(bimodal formal distribution)；另外，當(dāng)協(xié)整關(guān)系數(shù)增加到15時，LL檢驗的t統(tǒng)計量的經(jīng)驗頻數(shù)分布又堆積于樣本中位值附近。另外，Lyhagen（2000）也發(fā)現(xiàn)，盡管使用面板單位根檢驗有效地提高了檢驗功效，即，減少了假設(shè)檢驗犯第Ⅱ類錯誤的概率。但是，當(dāng)面板數(shù)據(jù)的縱剖面時間序列間存在協(xié)整關(guān)系時，許多面板單位根檢驗的實際檢驗水平失真加劇，即，假設(shè)檢驗犯第Ⅰ類錯誤的概率增加。因此，當(dāng)面板數(shù)據(jù)的縱剖面時間序列間存在協(xié)整關(guān)系時，LL、IPS和Groen等面板單位根檢驗的合理性也是值得思考的問題。1998年，Taylor和Sarno (1998)基于Johansen的協(xié)整檢驗提出了檢驗PanelVAR模型的JLR檢驗；Larsson和Lyhagen（1999）基于縱剖面時間序列間存在的協(xié)整關(guān)系數(shù)的似然比檢驗也提出了一種面板單位根檢驗LR；Fabian (2002)利用JLR檢驗研究了PPP理論。5. 結(jié)構(gòu)突變的面板單位根檢驗自Perron(1989)提出結(jié)構(gòu)突變的單位根檢驗以來，研究存在結(jié)構(gòu)突變的單位根檢驗已成為非經(jīng)典計量經(jīng)濟學(xué)的研究重點之一。但是，在全球經(jīng)濟一體化的今天，一國的重大經(jīng)濟沖擊必將給該區(qū)域其他國家或全世界其他國家的經(jīng)濟發(fā)展帶來不同程度的影響，研究面板數(shù)據(jù)的這種共同突變點的存在性和沖擊的半衰期（Halflife）將會為世界經(jīng)濟結(jié)構(gòu)變遷、經(jīng)濟沖擊影響范圍和影響強度等經(jīng)濟學(xué)研究提供有效的理論方法。事實上，由前面對面板單位根檢驗統(tǒng)計量構(gòu)造方法的歸納可見，大多數(shù)面板單位根檢驗都是建立在其時間序列單位根檢驗的基礎(chǔ)上的，尤其，對于空間獨立面板單位根檢驗更是如此。因此，結(jié)構(gòu)突變對單位根檢驗性質(zhì)（功效和實際檢驗水平）的影響同樣會出現(xiàn)在面板單位根檢驗的研究中。早在1996年，Jorion和Sweeney（1996）基于同質(zhì)面板單位根檢驗式對西方10國集團兌美元的實際匯率數(shù)據(jù)（1973至1993年底的月度數(shù)據(jù)）進行面板單位根的SURDF檢驗，其中，時刻tB是已知的外生結(jié)構(gòu)突變點，研究發(fā)現(xiàn)，在假設(shè)不存在結(jié)構(gòu)突變點的情況下，即的情況下，西方10國集團兌美元的實際匯率面板數(shù)據(jù)拒絕了單位根假設(shè)，即面板數(shù)據(jù)是同質(zhì)平穩(wěn)過程；但是，在假設(shè)存在結(jié)構(gòu)突變點的情況下，即的情況下，經(jīng)驗面板數(shù)據(jù)不能拒絕單位根假設(shè)，從而拒絕了PPP理論。并且，除美國、加拿大和日本外，歐洲7國集團 歐洲7國是比利時、法國、意大利、挪威、瑞士、瑞典和英國。兌德國馬克的實際匯率是存在共同結(jié)構(gòu)突變的同質(zhì)平穩(wěn)過程，即。從而支持了PPP理論 Jorion 和 Sweeney(1996)，表3，P544。顯然，Jorion和Sweeney(1996)的研究開創(chuàng)了結(jié)構(gòu)突變的面板單位根檢驗的先河。然而，構(gòu)造無關(guān)于結(jié)構(gòu)突變參數(shù)的面板單位根檢驗是十分困難的，直到2002年，Im等（Im ., and ,2002）將IPS的LM檢驗推廣為存在結(jié)構(gòu)突變的面板單位根檢驗其中，是第個縱剖面時間序列yit的LM檢驗的統(tǒng)計量。并得出該檢驗的漸近分布與結(jié)構(gòu)突變的存在無關(guān)。三、面板單位根檢驗理論研究的概述1. 面板單位根檢驗理論研究的主要脈絡(luò)縱觀歷史研究文獻。2. 面板單位根檢驗的主要假設(shè)假設(shè)檢驗離不開利用統(tǒng)計量檢驗的假設(shè)，而面板數(shù)據(jù)的二維結(jié)構(gòu)使得面板單位根檢驗的假設(shè)比時間序列單位根檢驗的假設(shè)更復(fù)雜。在現(xiàn)有的面板單位根檢驗縱剖面時間序列同期相關(guān)的面板單位根檢驗面板單位根檢驗縱剖面時間序列獨立的面板單位根檢驗縱剖面時間序列相關(guān)的面板單位根檢驗同質(zhì)面板單位根檢驗異質(zhì)面板單位根檢驗因子分解模型的面板單位根檢驗縱剖面時間序列協(xié)整的面板單位根檢驗因子分解模型的面板單位根檢驗誤差分解模型的面板單位根檢驗存在外生突變點的面板單位根檢驗存在結(jié)構(gòu)突變的面板單位根檢驗 面板單位根檢驗研究的主要分支文獻中經(jīng)常選擇的檢驗假設(shè)分為兩類，一類是預(yù)期拒絕單位根過程的單位根假設(shè)，另一類是預(yù)期拒絕平穩(wěn)過程的平穩(wěn)性假設(shè)。設(shè)面板單位根檢驗的檢驗式是yit=βiyi,t1+uit則面板單位根檢驗的假設(shè)有如下三種。(1) 假設(shè)A H0: βi=1，i=1，2，…,N H1: βi=β1，i=1，2，…,N假設(shè)A，也稱為LL假設(shè)。LL假設(shè)的零假設(shè)是面板數(shù)據(jù)的所有縱剖面時間序列是單位根過程，備擇假設(shè)是所有縱剖面時間序列是平穩(wěn)過程。LL假設(shè)主要用于同質(zhì)面板數(shù)據(jù)的單位根檢驗問題，早期的面板數(shù)據(jù)單位根檢驗應(yīng)用研究絕大多數(shù)都是有關(guān)LL假設(shè)的檢驗。但是，近年來，發(fā)現(xiàn)LL假設(shè)與實際經(jīng)濟現(xiàn)象存在較大的差距。 (2) 假設(shè)BH0: βi=1，i=1，2，…,N H1: βi 1，存在i， 假設(shè)B，也稱為IPS假設(shè)。與LL假設(shè)相同，IPS檢驗的零假設(shè)也是指面板數(shù)據(jù)的所有縱剖面時間序列是單位根過程，而備擇假設(shè)與LL假設(shè)不同，它的備擇假設(shè)是有一部分縱剖面時間序列是平穩(wěn)過程。顯然，無論從邏輯上，還是從實際經(jīng)濟現(xiàn)象來看，IPS假設(shè)的備擇假設(shè)是相對合理的。目前，幾乎所有的面板數(shù)據(jù)單位根檢驗理論及其應(yīng)用研究均選擇IPS假設(shè)進行檢驗。(3) 假設(shè)C Chang et (Chang et al.( 2001),P3)，事實上，Taylor and Sarno(1998)已經(jīng)使用過該假設(shè)。 H0: βi=1，存在i， H1: βi 1，i=1，2，…,N假設(shè)C由Taylor和Sarno（1998）首次使用，Chang(2001)也提出一種檢驗該假設(shè)的面板單位根檢驗，在其他文獻中未曾發(fā)現(xiàn)。顯然，直覺上該假設(shè)最能揭示經(jīng)濟規(guī)律，實際上，在檢驗PPP理論的應(yīng)用研究中，接受Chang假設(shè)的零假設(shè)是人們預(yù)期的結(jié)果。同樣，在研究經(jīng)濟增長收斂理論時，預(yù)期的結(jié)果自然是拒絕Chang假設(shè)的零假設(shè)。另外，Taylor和Sarno指出“在某些條件下，IPS檢驗是很有益的。可是，在通常情況下，拒絕IPS零假設(shè)的機會很高，并且，拒絕IPS零假設(shè)并不能得到面板中包含多少平穩(wěn)序列。因此，IPS檢驗并不能為研究者提供更多的信息。” Taylor 和 Sarno(1998),P283.事實上，假設(shè)C適合于縱剖面協(xié)整的面板單位根檢驗的研究。3. 面板單位根檢驗統(tǒng)計量的構(gòu)造方法構(gòu)造參數(shù)檢驗的統(tǒng)計量是假設(shè)檢驗的前提，統(tǒng)計量的分布是假設(shè)檢驗推斷的基礎(chǔ)。所以，構(gòu)造統(tǒng)計量的方法是數(shù)理統(tǒng)計學(xué)