【文章內容簡介】 缺陷。 焊縫不允許有咬邊。 球罐焊后尺寸檢查 項 目 標 準 要 求錯邊量≤ 3mm角變形≤ 10mm赤道截面最大最小直徑、兩極凈距與設計內徑之差≤%且不大于80mm柱腿垂直度(高度≤8m) (高度大于8米) ≤ 12mm%，且≤15mm第五節(jié) 無損探傷 探傷要求 詳見探傷程序表 質量控制 檢測人員資格 a)參加球罐檢測的人員，必須持有勞動部門頒發(fā)的資格證書，從事與該證書等級、方法相適應的無損檢測工作，并負相應的技術責任。 b) 射線檢測人員還需持有國家衛(wèi)生部門頒發(fā)的放射線工作人員證。 c) 。 d) 從事磁粉、著色檢測的人員，不得有色盲、色弱。 檢測責任人員的職責 負責整個工程的無損檢測工藝規(guī)程的實施，并對整個工程的無損檢測交工資料完整性負責。 檢測工藝程序及檢測方法 a) 球罐無損檢測工藝程序、檢測部位、檢測時機、檢測方法，；a) 對接焊縫超聲波探傷、射線探傷在焊接完畢24小時后進行、磁粉探傷及著色探傷均應在焊接完畢48小時后進行。焊縫及熱影響區(qū)外觀經(jīng)檢查人員檢查合格，并在探傷委托單上簽字認可后方可進行探傷；球殼板20%UT測厚球殼板到貨檢驗球殼板20%UT抽檢 球 罐 組 裝球罐外焊縫焊接 球罐外焊縫焊接內口清根打磨清根部位檢查內焊縫焊接返修打磨內焊縫打磨腳手架調整100%RT或UT,（20%復驗）內焊縫及工卡具痕跡100%MT外焊縫打磨修補外焊縫及工卡具痕跡100%MT角焊縫100%PT返修打磨柱腿角焊縫100%PT內腳手架拆除整體熱處理水壓試驗對接焊縫MT20%，角焊縫20%MT或PT交工資料整理氣密試驗圖 探傷程序 探傷比例及合格級別 a)球殼板周邊的超聲波探傷，質量等級應符合JB4730中Ⅲ級要求。厚度測量點為每塊球殼板5個；b)球罐對接焊縫及Dｇ≥250接管的對接焊縫需100％射線探傷，質量等級應符合JB4730中Ⅱ級要求；并作20%超聲波探傷復驗,質量應符合JB4730標準要求. c) 球罐所有對接焊縫碳弧氣刨清根打磨后進行100％著色檢驗，質量評定符合JB4730。不允許有任何裂紋、分層、線性和園形顯示的紅色圖象； d)球罐上所有對接焊縫及熱影響區(qū)，去除工具卡的焊后痕跡及熱影響區(qū)打磨后，熱處理前做一次100％磁粉探傷，并在水壓試驗后氣密試驗前作20％的磁粉探傷復查。按JB4730關于磁痕評定的規(guī)定進行評定和分級。對不合格部位，應打磨修補后按原探傷方法復驗，直至合格為止。 e) 球罐腿角焊縫表面，熱處理前進行100％著色檢查。耐壓試驗后進行20％復查。質量應符合JB4730評定標準。對不合格部位，應打磨修補后按原探傷方法復驗，直至合格為止。 球罐鋼板超聲波探傷工藝 超聲波探傷儀和探頭 a) 探傷儀采用CTS－2CTS－26型、A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其頻率范圍1～5MHZ； b) 儀器性能應符合ZBY230《A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術條件》的有關規(guī)定； c)探頭選用單晶直探頭，探頭圓晶片直徑20mm； d) 儀器和探頭組合的始波占寬≯15mm。 試塊、耦合劑 a)試塊材質應與被探鋼板聲學性能相同或近似，試塊經(jīng)超聲波探傷不得有Φ2平底孔當量以上的缺陷存在， 試塊厚度應與被探鋼板厚度相近； b)耦合劑采用超探專用耦合劑(化學漿糊)或75％的甘油、機油。 探傷條件 a) 被探鋼板表面應清除影響探傷的氧化皮、銹蝕、油污等； b) ，試塊平底孔第一次反射波高等于滿刻度的50％來校準。 ┏━━┓ ┏━━━━━━━━━┱┬ ┃ ┃ ┃ ┃↑ ↓┃ ┃ ┃ ┃│ Φ5 ─╊┓ ┃ ┃ ┃│100 ─╊┛ ┃ ┃ ┃│ ↑┃ ┃ ┃ ┃│ ┃ ┃ ┃ ┃↓ ┡━━┩ ┡━━━━━━━━━╃┴ │ ─┤15 ├←──100 ───→┤ ├←→┤25 圖 靈敏度調整試塊 探傷方法 a) 探傷方式采用直接接觸法； b) 探傷部位為球殼板凹面； c) 探傷掃查形式：探傷沿垂直鋼板壓延方向，間距為100mm平行線進行掃查。在鋼板周邊100mm內作100％掃查； d) 掃查速度不得大于150mm／s，當采用帶自動報警裝置儀器時不受此限制。 缺陷的確定 在探傷過程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一者即為缺陷。 a) 缺陷第一次反射波F≥50％； b) 當?shù)酌娴谝淮畏瓷洳?B1)未達到滿刻度，即B1＜100％，而F1／B1≥50% 。 缺陷的邊界或指示長度的測定方法： 檢出缺陷后，移探頭，使缺陷波第一次反射波高(F1)下降到探傷靈敏度條件一下熒光屏滿刻度的25％，或使缺陷波高(F1)與底面波高(B1)之比為50％，此時探頭中心移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點即為缺陷的邊界點。當B1波＜50％，移動探頭， 使B1波升高到探傷靈敏度條件下熒光屏滿刻度 50％，此時探頭中心移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點即為缺陷的邊界點。 驗收標準 不允許存在的缺陷： a) 單個缺陷指示長度≥120mm指示面積≥100cm2； b) 在任一1m1m探傷面積內不允許的缺陷面積比＞5％； c) 探傷人員確認的白點、裂紋等危害性缺陷。 探傷報告 探傷報告應具備下列內容：球殼板編號、厚度、材質、使用儀器型號、探頭參數(shù)、耦合劑、試塊、探傷比例、探傷部位、探傷結果、結論 、探傷人員及資格、報告日期等。 球罐著色滲透探傷工藝 探傷劑與對比試塊 a) 探傷劑：噴罐溶劑去除型，包括滲透劑、清洗劑、顯像劑； b) 對比試塊：對比試塊主要用于檢驗探傷劑性能及操作工藝。采用SBS3滲透探傷鍍鉻試塊。 探傷部位表面狀態(tài) a) 探傷前應對受檢表面及附近30mm范圍內進行清理，表面不得有污垢、銹蝕、焊渣、氧化皮、飛濺物等。 b) 探傷面的處理采用打磨及清洗的方式進行，不允許采用噴砂的方法處理。 著色滲透探傷的基本操作程序 預清洗 a) 在向被檢表面施加滲透劑之前，用清洗劑將受檢表面清洗晾干。晾干時間3～5分鐘。 b) 用對比試塊在相同探傷條件下檢驗探傷劑的性能及顯示缺陷痕跡的能力。 滲透：用噴涂方法將滲透劑施加于受檢表面。噴嘴距受檢表面20～30mm，滲透劑必須潤濕受檢表面，滲透時間不少于10分鐘。 當溫度不能滿足時，應按JB4730附錄M中，對操作方法進行修正。 清洗：在施加滲透劑達到規(guī)定的時間后，用清洗劑將表面多余的滲透液洗掉。應注意避免清洗過度或不足的現(xiàn)象。 顯象：罐裝顯像劑顯像前應充分搖勻，噴口嘴距工件表面300～400mm處均勻薄薄噴布，顯像時間不少于7分鐘。 觀察 a) 顯像劑施加后7～30分鐘內在合適的可見光下觀察。 b) 當發(fā)現(xiàn)顯示痕跡時，必須判別是真、偽缺陷，較難判別時，可采用5～10倍放大鏡觀察或重復檢驗。 重復檢驗 有下列情況之一者必須進行重復檢驗： a) 操作方法有錯誤； b) 難以確定顯示痕跡是否有缺陷； c) 其它認為有必要時； 重復檢驗之前徹底清除第一次檢驗所留下痕跡，～。 驗收 不允許有任何裂紋、分層缺陷以及線性和圓形顯示的紅色圖象。 探傷報告 探傷報告應包括下列內容：球罐名稱、探傷部位、探傷比例、滲透劑類型、顯象方式、對比試塊、操作條件、探傷結果及缺陷處理結果、探傷人員的資格、級別、探傷日期等。 球罐對接焊縫超聲波探傷工藝 探傷儀 超聲波探傷儀選用CTS－2CTS－26型，其性能必須符合ZBY230標準，且滿足： a) 系統(tǒng)靈敏度：大于評定靈敏度10dB以上； b) 衰減器精度：任意相鄰12dB誤差177。1dB，最大累計誤差不超過1dB； c) 分辨率：應能將CSK－IA試塊上Φ50與Φ44兩孔分開，當兩孔的反射波波幅相同時，其波峰與波谷之差不小于6dB。 d) 水平線性誤差：不大于1％，垂直線性誤差：不大于5％。 探頭選擇 晶片的有效面積不應超過500mm2，且任一邊長不應大于25mm。 K值的選擇按下式計算： a＋b＋l0 K≥ ━━━━ T 式中：K－斜探頭折射角的正切值 a－上焊縫寬度的一半 b－下焊縫寬度的一半 I－探頭前沿距離 T－工件厚度 位置要求 a) 水平方向 將探頭放在CSA－IA試塊上， 探測棱角反射，當反射波最大時，探頭中心線與被測棱邊的夾角應在90176。177。2176。的范圍內。 b) 垂直方向 不應有明顯的雙峰。 入射角和K 值的測定 在CSK－IA試塊上進行。K值的測定應在2N以外進行(N為近場區(qū)長度)。 探頭頻率應與儀器相匹配。 探頭的前沿距離應盡可能小。 試塊：CSK－IA、CSK－ⅢA兩種。 耦合劑：75％工業(yè)甘油或化學漿糊。 探傷面的選擇：一面二側。 探傷面的修整 探頭移動區(qū)應清除飛濺、銹蝕、油垢及其他雜質。探頭移動區(qū)的深坑應補焊，然后打磨平滑，表面粗糙度Ra＜。 焊縫兩側修正寬度 采用一次反射法探傷時， (P＝2TK)； 采用直射法探傷時。 探頭移動方式 探頭前后移動范圍應保證掃查到全部焊縫截面。在保持探頭垂直焊縫作前后移動的同時，作10176。～15176。的擺動。 為發(fā)現(xiàn)焊縫及熱影響區(qū)的橫向缺陷，對磨平的焊縫可將探頭直接放在焊縫上作平行移動。對有余高的焊縫可在焊縫兩側使探頭與焊縫成一定夾角(10176?！?5176。)作斜平行運動，靈敏度提高6dB。 為確定缺陷的位置、方向和形狀或區(qū)分缺陷波與假信號，可采用前后、左右、轉角、環(huán)繞等四種探頭移動方式。 掃描線的調節(jié) 在CSK－ⅢA上，按深度1：1或水平1：1進行調節(jié)。 距離－波幅曲線 距離－波幅曲線以所用儀器和探頭在CSK－ⅢA試塊上測數(shù)據(jù)繪制而成，可以使用“距離－dB曲線”，也可以使用“面板曲線”。 表面補償4dB，直接計入曲線內，每次探傷操作之前都應對曲線進行校驗，且不少于三點。 探傷靈敏度 不低于最大聲程處的評定線靈敏度。 缺陷指示長度的測定 當缺陷反射波只有一個高點，且位于Ⅱ區(qū)，用6dB法測長。 當缺陷反射波有多個高點，且位于Ⅱ區(qū)，用端點6dB法測長。 不允許存在的缺陷均應返修， 返修部位及返修影響部位均應復探，復探部位的質量亦應符合驗收標準的規(guī)定。返修后復驗時，按原探傷條件進行。 驗收 不允許存在下列缺陷 a) 反射波幅位于判廢線上及Ⅲ區(qū)的缺陷。 b) 超探人員判定為裂紋等危害性缺陷。 位于Ⅱ區(qū)的缺陷波，由其指示長度按標準JB4730中表9－6的規(guī)定評級。 在超探中如發(fā)現(xiàn)不能準確判斷的波形， 應輔以其它探傷方法進行綜合判斷。 記錄和報告 探傷記錄： 應按記錄表格所列項目認真填寫。需