【文章內(nèi)容簡介】 自然 伽馬 自然 電位 微電極 電阻率 井徑 泥巖 300 高值 低值 高值 基值 低，平直 低值 鉆頭 煤 350450 φSNP40 φCNP40 SNP井壁 CNP補(bǔ)償 低值 低值 異常不明顯或很大正異常（無煙煤） 高值 無煙煤 最低 接近鉆頭 砂巖 250380 中等 中等 低值 明顯異常 中等 ,明顯正差異 低－中等 略 鉆頭 生物 灰?guī)r 200300 比砂巖略高 較低 較高 比砂巖還低 明顯異常 較高 ,明顯正差異 較高 略 鉆頭 石灰?guī)r 165250 低值 高值 比砂巖還低 大片異常 高值，鋸齒狀正負(fù)差異 高值 小于或 等于鉆頭 白云巖 155250 低值 高值 比砂巖還低 大片異常 高值，鋸齒狀正負(fù)差異 高值 小于或 等于鉆頭 硬石膏 約 164 約 約為 0 高值 最低 基值 高值 接近鉆頭 石膏 約 171 約 約 50 低值 最低 基值 高值 接近鉆頭 鹽巖 約 220 約 接近于 0 高值 最低 ,鉀鹽最高 基值 極低 高值 鉆頭 測井方法 曲線特征 巖性 在實(shí)際應(yīng)用時(shí)，各種測井方法區(qū)分巖性的能力是不同的，一般地說， SP、 GR和巖性密度測井所提供的 光電吸收截面指數(shù) Pe等區(qū)分巖性的能力較強(qiáng)。 定性劃分巖性的步驟： A。 用 SP和微電極測井曲線把滲透性和非滲透性區(qū)分開； 砂巖和生物灰?guī)r的 SP有明顯的負(fù)差異，微電極有正幅度差，而致密灰?guī)r和泥巖的 SP無異常，微電極無幅度差。 B。利用聲波時(shí)差和微電極測井曲線區(qū)分砂巖和生物灰?guī)r； 砂巖聲波時(shí)差要高于生物灰?guī)r，而微電極測井曲線則表現(xiàn)出砂巖的曲線幅度低于生物灰?guī)r的特征。 C。利用電阻率可區(qū)分泥巖和致密灰?guī)r。 致密灰?guī)r為高阻，泥巖為低阻。 下面分別對(duì)常見的碎屑巖剖面和碳酸鹽巖剖面進(jìn)行詳細(xì)說明。 1． 碎屑巖剖面 （ 1） 對(duì)碎屑巖剖面 ， 應(yīng)先區(qū)分出砂巖 、 泥巖 。 比較有效而常用的測井資料是： SP（ 或 GR） 、 微電極和井徑 a． 砂巖層 SP曲線往往顯示負(fù)異常 微電極曲線顯示正離差 GR低值 由于滲透層井壁存在泥餅 ， 實(shí)測井徑值一般小于鉆頭直徑 ， 且井徑曲線比較平直規(guī)則 。 b． 泥巖層 SP基線 微電極視電阻率為低值 ， 沒有或只有小的幅度差 。 GR顯示高值 井徑有擴(kuò)徑現(xiàn)象。 （ 2）劃分砂泥巖后，再進(jìn)行細(xì)分巖性 a．非滲透層 非滲透層可細(xì)分為純泥巖、砂質(zhì)泥巖、鈣質(zhì)泥巖、炭質(zhì)頁巖、頁巖、油頁巖、煤層。 細(xì)分時(shí)主要依靠電阻率曲線、 GR和巖性密度 LDT曲線，再參考有關(guān)的井徑曲線和 AC曲線。 純泥巖： Rt低、 AC高（由于泥質(zhì)顆粒吸附負(fù)離子， 產(chǎn)生附加導(dǎo)電性，使 Rt變?。? 鈣質(zhì)泥巖： Rt高（尖峰）， AC低 砂質(zhì)泥巖、炭質(zhì)頁巖、頁巖、油頁巖： Rt居中 煤層：可依據(jù) ρ b（體積密度）和 Pe值低先選出 b．滲透層（砂層） 砂巖類常見有：純砂巖、鈣質(zhì)砂巖、泥質(zhì)砂巖。按粒度分有：粉砂巖、砂巖、礫巖。 常用 Rt、 GR區(qū)分巖性。 鈣質(zhì)砂巖：常出現(xiàn)在砂層頂或底段，為致密層，在微電極曲線上顯示薄層、高阻、刺刀形曲線特征。 泥質(zhì)砂巖：（相對(duì)純水層而言） GR顯示高值，Rt變低 砂泥巖剖面綜合資料測井曲線 2． 碳酸鹽巖剖面 在碳酸鹽巖剖面中的滲透層 ， 通常是夾在致密層中的裂隙帶 。 按巖性可分為：灰?guī)r 、 白云巖以及它們之間的過渡類型 ， 如泥灰?guī)r等 。 作為儲(chǔ)層除泥灰?guī)r外 ， 其余巖性都具有一定程度的儲(chǔ)集性 。 主要用 GR、 Rt區(qū)分它們 。 泥灰?guī)r （ 為非儲(chǔ)層 ） ： GR高值 ， Rt相對(duì)低值 。 其余 （ 為儲(chǔ)層 ） ： GR低值 ， Rt相對(duì)高值 。 由于裂隙性儲(chǔ)集層以致密的碳酸鹽巖為其圍巖，這就使它具有相對(duì)低的電阻率、中子伽瑪測井值和相對(duì)高的AC（通常所說的 “ 兩低一高 ” ） 。 3． 膏鹽層剖面 均為非滲透層 ， 組成封閉好的蓋層 。 膏鹽剖面地區(qū) ， 由于微電極及 SP不能使用 ，故劃分巖性主要依據(jù) GR、 電阻率測井 、 孔隙度測井 、 井徑 。 石膏、硬石膏、芒硝、鹽巖、鉀鹽都具高阻特征，但石膏、硬石膏、芒硝、鹽巖 GR為低值，而鉀鹽 GR顯示高值。鹽巖還具有明顯的擴(kuò)徑現(xiàn)象。 煤層 ：低 GR、低密度、高聲波時(shí)差、高中子孔隙度、高電阻率 砂巖 ：低 GR、高密度、低 AC、低 CNL、中－高電阻率 白云巖 ：低 GR、高密度、低AC、低中子孔隙度、中－高電阻率 泥巖 ：高 GR、低密度、中－高AC、高 CNL、低電阻率 利用地質(zhì)統(tǒng)計(jì)方法 ， 從取心井出發(fā) ， 建立已知巖性與其相應(yīng)測井響應(yīng)井的關(guān)系圖版 ， 擴(kuò)展到未取心井 ， 將其測井響應(yīng)值轉(zhuǎn)換成巖性 。 具體方法很多 ， 有利用建圖版方式 （ 交會(huì)圖、 直方圖 ） ， 也有直接用計(jì)算方式如判別分析或聚類方法來識(shí)別巖性 。 二、利用地質(zhì)統(tǒng)計(jì)方法半自動(dòng)識(shí)別巖性 取數(shù)口井的巖心分析數(shù)據(jù)，以此為例，可作出△ GR—ρb、△ GR—Rt、φN—ρb交會(huì)圖，可確定各種實(shí)測巖性點(diǎn)的位置，并確定出各巖性的測井參數(shù)下限。 ΔGR ρ b (g/cm3) Rt （ Ωm） φ N (%) 砂巖 8 20 15 泥巖 /砂質(zhì)泥巖 10 14 20 鈣質(zhì)砂巖 20 15 灰?guī)r 20 15 巖性與測井參數(shù)的關(guān)系 測井參數(shù) 巖性 在建立巖性剖面時(shí)，最好將砂巖與儲(chǔ)層的標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)一，以突出儲(chǔ)層概念。儲(chǔ)層有規(guī)定的物性下限值，它是根據(jù)國家頒發(fā)標(biāo)準(zhǔn)及結(jié)合當(dāng)?shù)卦囉统晒贫ǖ摹? 以某油田為例，儲(chǔ)層物性的下限值為：Vsh30%, ψ12%。 分別依據(jù)油田巖心描述確定的各巖性及相應(yīng)的孔隙度值（測井計(jì)算得到）作孔隙度分布直方圖（下圖），該砂巖峰值為 20－ 22％，最低值為 12％，與儲(chǔ)層物性下限統(tǒng)一。 最低值 砂巖峰值 而由△ GRVsh關(guān)系圖中（下圖），下限Vsh=30%，相應(yīng)的△ GR＝ 自然伽馬值下限統(tǒng)一。 孔隙度測井方法探測范圍淺 ， 它反映沖洗帶的巖性及孔隙度值 ， 受儲(chǔ)層內(nèi)部流體類型的影響較小 ， 可作為識(shí)別巖性的輔助手段 。 常用孔隙度測井曲線的重疊法識(shí)別巖性 ， 常用中子 φ N、 密度 ρ b（ 或 φ D） 測井曲線重疊 。 由于 φ N、 φ D都是由標(biāo)準(zhǔn)化了的測井儀器測定 。 在灰?guī)r段 （ φ N＝ φ D＝ 0 ） 兩條曲線重疊 ， 其他巖性段 φ N、 φ D反應(yīng)不一 ， 可以以其特征值識(shí)別巖性 。 見下圖 。 三、利用重疊曲線方法快速識(shí)別巖性 該方法僅適用于純巖性地層。 泥巖 砂巖 石灰?guī)r 白云巖 硬石膏 石膏 巖鹽 天然氣 φ D φ N φ s ?白云巖： φDφN ?灰?guī)r： φD =φN二曲線重合 ?砂巖： φD φN， φN 0。 說明 Den主要反映 φ， 與 骨架相關(guān)性小 ， 中子測井 與泥質(zhì)減少 ， 含氫指數(shù)減 小有關(guān) ， φN下降 。 ?巖鹽層： φD、 φN， φD明 顯增加 （ 與鹽密度小有 關(guān) ） 。 φN 0（ 與含氫指 數(shù)低有關(guān) ） ?氣層： φN降低 ， φD增大 ?泥巖： φDφN 四、利用交會(huì)圖技術(shù)判斷巖性 交會(huì)圖技術(shù)應(yīng)用的是幾何作圖方法，它利用骨架礦物、天然氣、孔隙結(jié)構(gòu)等對(duì)幾種孔隙度測井響應(yīng)值不同，再結(jié)合巖性密度測井、自然伽馬能譜測井等識(shí)別巖性，求準(zhǔn)孔隙度，這種方法可以識(shí)別出較復(fù)雜的由 3－ 4種以下的礦物組成的巖性。由于理論交會(huì)圖是針對(duì)純地層提出的，因此，如果巖性中含有泥質(zhì)時(shí)將會(huì)使交會(huì)點(diǎn)發(fā)生偏移，從而使骨架礦物含量及地層孔隙度發(fā)生誤差，則必須先進(jìn)行泥質(zhì)校正。當(dāng)含有天然氣時(shí)也會(huì)影響測量值，要進(jìn)行校正，同時(shí)它也為識(shí)別氣層提供了依據(jù)。 由于不同礦物的測井響應(yīng)值不同 ， 因此可以采用交會(huì)圖來確定兩種礦物的比例 ， 并求得比較準(zhǔn)確的孔隙度 。 常見的有孔隙度測井交會(huì)圖 。 兩種孔隙度測井交會(huì)圖是指： 中子 —密度交會(huì)圖 中子 —聲波交會(huì)圖 聲波 —密度交會(huì)圖 由于聲波受到的影響因素比較多，故中子 ——密度交會(huì)圖是一種應(yīng)用最多的確定巖性和孔隙度的交會(huì)圖。 四、利用交會(huì)圖技術(shù)判斷巖性 1．用兩種孔隙度測井交會(huì)圖識(shí)別由兩種礦物組成的過渡巖性 在介紹交會(huì)圖之前 ， 先講一下什么叫密度測井視石灰?guī)r孔隙度 ？ 所謂密度測井視石灰?guī)r孔隙度 ——就是不論什么巖性都用石灰?guī)r骨架密度 （ ） 按： （ 1） 計(jì)算得來的孔隙度 。 例如：設(shè)砂巖孔隙度 φ =20%，對(duì)淡水 ρ f =， 按 ρ b =（ 1－ φ ） ρ ma +φρf計(jì)算，砂巖的體積密度 ρ b =（ 1－ ） ＋ = g/cm3 代入（ 1）式，可求出砂巖的密度測井視石灰?guī)r孔隙度為： φ D =（ － ） 247。 （ － ） =% fmabmaD???????? 從上述這個(gè)計(jì)算過程來看 ， 也可以這樣解釋密度測井視石灰?guī)r孔隙度的意義：在石灰?guī)r中刻度密度測井儀的孔隙度單位 （ 石灰?guī)r孔隙度 ） ， 然后用這個(gè)刻度標(biāo)準(zhǔn)去測其它巖性所得的密度孔隙度讀數(shù) ，即是視石灰?guī)r孔隙度 ， 簡稱石灰?guī)r孔隙度 。 中子測井也常用石灰?guī)r孔隙度作為單位 ， 其意義也與此相同 。 后面我們用到的密度孔隙度、中子孔隙度曲線（或數(shù)據(jù)），除個(gè)別例外，基本上都是以石灰?guī)r孔隙度作為單位的。 右圖是井壁中子（ SNP）與補(bǔ)償密度（ FDC）測井交會(huì)圖。圖的縱座標(biāo)是體積密度或按純石灰?guī)r刻度的密度視孔隙度，橫座標(biāo)是按石灰?guī)r刻度的中子測井視石灰?guī)r孔隙度，均作過井眼校正，所有的這種形式的交會(huì)圖都是對(duì)飽含液體的純地層制作的，井內(nèi)為淡水或鹽水泥漿。 在圖上有四條按單一礦物制作的純巖性線： ?最上面一條為砂巖線，代表平均骨架密度為 g/cm3， φ 從 0～ 30%的砂巖； ?第二條為石灰?guī)r線，代表同方解石組成的骨架密度為 ， φ 從 0～ 30%的石灰?guī)r； ?第三條為白云巖線，代表同白云巖組成的骨架密度為 g/cm3， φ 從 0～ 30%的白云巖； ?第四條為硬石膏線，代表骨架密度為 g/cm3的硬石膏。 該圖的制作方法： 以砂巖線為例：可假設(shè) φ=0， 5， 10， 15， 20，25， 30%等，先按下表查出砂巖的骨架中子孔隙度φNma值和骨架密度 ρma，查出飽和巖石液體的中子孔隙度φNF和密度 ρf值，然后將它們代入方程組： φN=φ φNF＋（ 1－ φ） φNMA ρb =φ ρf＋ (1－ φ) ρma 分別計(jì)算出不同孔隙度時(shí)的 φ N和 ρ b，將算出的 φ N和 ρ b值點(diǎn)到圖 46的坐標(biāo)系中，便得到 φ 為上述數(shù)值的各點(diǎn)，然后將各點(diǎn)連線，此線即為純砂巖的中子 —密度關(guān)系線，同理可作為白云巖線、石灰?guī)r線和硬石膏線。 石灰?guī)r線是由 φ N =φ D =φ 那些點(diǎn)構(gòu)成的，由于 φ N是對(duì)石灰?guī)r刻度的，故只有石灰?guī)r線是線性變化的，其它巖性線都略有彎曲，該圖版是對(duì)充滿液體的純地層制作的，有油氣或含泥質(zhì)的地層也可以用，但要作相應(yīng)的校正，該圖版可由淡水泥漿制作，也可由鹽水泥漿制作。 在應(yīng)用這個(gè)圖版解釋時(shí) ，