【正文】 圖版是對(duì)充滿液體的純地層制作的，有油氣或含泥質(zhì)的地層也可以用，但要作相應(yīng)的校正，該圖版可由淡水泥漿制作，也可由鹽水泥漿制作。 在圖上有四條按單一礦物制作的純巖性線： ?最上面一條為砂巖線，代表平均骨架密度為 g/cm3， φ 從 0～ 30%的砂巖； ?第二條為石灰?guī)r線，代表同方解石組成的骨架密度為 ， φ 從 0～ 30%的石灰?guī)r； ?第三條為白云巖線，代表同白云巖組成的骨架密度為 g/cm3， φ 從 0～ 30%的白云巖； ?第四條為硬石膏線，代表骨架密度為 g/cm3的硬石膏。 右圖是井壁中子（ SNP）與補(bǔ)償密度（ FDC）測(cè)井交會(huì)圖。 中子測(cè)井也常用石灰?guī)r孔隙度作為單位 ， 其意義也與此相同 。 例如：設(shè)砂巖孔隙度 φ =20%，對(duì)淡水 ρ f =， 按 ρ b =（ 1－ φ ） ρ ma +φρf計(jì)算，砂巖的體積密度 ρ b =（ 1－ ） ＋ = g/cm3 代入（ 1）式，可求出砂巖的密度測(cè)井視石灰?guī)r孔隙度為： φ D =（ － ） 247。 兩種孔隙度測(cè)井交會(huì)圖是指： 中子 —密度交會(huì)圖 中子 —聲波交會(huì)圖 聲波 —密度交會(huì)圖 由于聲波受到的影響因素比較多，故中子 ——密度交會(huì)圖是一種應(yīng)用最多的確定巖性和孔隙度的交會(huì)圖。 由于不同礦物的測(cè)井響應(yīng)值不同 ， 因此可以采用交會(huì)圖來(lái)確定兩種礦物的比例 ， 并求得比較準(zhǔn)確的孔隙度 。由于理論交會(huì)圖是針對(duì)純地層提出的，因此，如果巖性中含有泥質(zhì)時(shí)將會(huì)使交會(huì)點(diǎn)發(fā)生偏移，從而使骨架礦物含量及地層孔隙度發(fā)生誤差，則必須先進(jìn)行泥質(zhì)校正。 ?巖鹽層： φD、 φN， φD明 顯增加 （ 與鹽密度小有 關(guān) ） 。 泥巖 砂巖 石灰?guī)r 白云巖 硬石膏 石膏 巖鹽 天然氣 φ D φ N φ s ?白云巖： φDφN ?灰?guī)r： φD =φN二曲線重合 ?砂巖： φD φN， φN 0。 見(jiàn)下圖 。 由于 φ N、 φ D都是由標(biāo)準(zhǔn)化了的測(cè)井儀器測(cè)定 。 孔隙度測(cè)井方法探測(cè)范圍淺 ， 它反映沖洗帶的巖性及孔隙度值 ， 受儲(chǔ)層內(nèi)部流體類型的影響較小 ， 可作為識(shí)別巖性的輔助手段 。 分別依據(jù)油田巖心描述確定的各巖性及相應(yīng)的孔隙度值（測(cè)井計(jì)算得到）作孔隙度分布直方圖（下圖），該砂巖峰值為 20－ 22％，最低值為 12％，與儲(chǔ)層物性下限統(tǒng)一。儲(chǔ)層有規(guī)定的物性下限值，它是根據(jù)國(guó)家頒發(fā)標(biāo)準(zhǔn)及結(jié)合當(dāng)?shù)卦囉统晒贫ǖ摹? 二、利用地質(zhì)統(tǒng)計(jì)方法半自動(dòng)識(shí)別巖性 取數(shù)口井的巖心分析數(shù)據(jù)，以此為例，可作出△ GR—ρb、△ GR—Rt、φN—ρb交會(huì)圖，可確定各種實(shí)測(cè)巖性點(diǎn)的位置，并確定出各巖性的測(cè)井參數(shù)下限。 煤層 ：低 GR、低密度、高聲波時(shí)差、高中子孔隙度、高電阻率 砂巖 ：低 GR、高密度、低 AC、低 CNL、中－高電阻率 白云巖 ：低 GR、高密度、低AC、低中子孔隙度、中－高電阻率 泥巖 ：高 GR、低密度、中－高AC、高 CNL、低電阻率 利用地質(zhì)統(tǒng)計(jì)方法 ， 從取心井出發(fā) ， 建立已知巖性與其相應(yīng)測(cè)井響應(yīng)井的關(guān)系圖版 ， 擴(kuò)展到未取心井 ， 將其測(cè)井響應(yīng)值轉(zhuǎn)換成巖性 。 石膏、硬石膏、芒硝、鹽巖、鉀鹽都具高阻特征，但石膏、硬石膏、芒硝、鹽巖 GR為低值，而鉀鹽 GR顯示高值。 3． 膏鹽層剖面 均為非滲透層 ， 組成封閉好的蓋層 。 其余 （ 為儲(chǔ)層 ） ： GR低值 ， Rt相對(duì)高值 。 主要用 GR、 Rt區(qū)分它們 。 按巖性可分為：灰?guī)r 、 白云巖以及它們之間的過(guò)渡類型 ， 如泥灰?guī)r等 。 鈣質(zhì)砂巖：常出現(xiàn)在砂層頂或底段，為致密層，在微電極曲線上顯示薄層、高阻、刺刀形曲線特征。按粒度分有：粉砂巖、砂巖、礫巖。 細(xì)分時(shí)主要依靠電阻率曲線、 GR和巖性密度 LDT曲線，再參考有關(guān)的井徑曲線和 AC曲線。 GR顯示高值 井徑有擴(kuò)徑現(xiàn)象。 比較有效而常用的測(cè)井資料是： SP（ 或 GR） 、 微電極和井徑 a． 砂巖層 SP曲線往往顯示負(fù)異常 微電極曲線顯示正離差 GR低值 由于滲透層井壁存在泥餅 ， 實(shí)測(cè)井徑值一般小于鉆頭直徑 ， 且井徑曲線比較平直規(guī)則 。 下面分別對(duì)常見(jiàn)的碎屑巖剖面和碳酸鹽巖剖面進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。利用電阻率可區(qū)分泥巖和致密灰?guī)r。利用聲波時(shí)差和微電極測(cè)井曲線區(qū)分砂巖和生物灰?guī)r； 砂巖聲波時(shí)差要高于生物灰?guī)r，而微電極測(cè)井曲線則表現(xiàn)出砂巖的曲線幅度低于生物灰?guī)r的特征。 用 SP和微電極測(cè)井曲線把滲透性和非滲透性區(qū)分開(kāi)； 砂巖和生物灰?guī)r的 SP有明顯的負(fù)差異，微電極有正幅度差，而致密灰?guī)r和泥巖的 SP無(wú)異常，微電極無(wú)幅度差。 各種巖性的測(cè)井特征 聲波時(shí)差 (μs/m) 體積密度 (g/cm3) 中子 孔隙度（％） 中子伽馬 自然 伽馬 自然 電位 微電極 電阻率 井徑 泥巖 300 高值 低值 高值 基值 低，平直 低值 鉆頭 煤 350450 φSNP40 φCNP40 SNP井壁 CNP補(bǔ)償 低值 低值 異常不明顯或很大正異常（無(wú)煙煤） 高值 無(wú)煙煤 最低 接近鉆頭 砂巖 250380 中等 中等 低值 明顯異常 中等 ,明顯正差異 低－中等 略 鉆頭 生物 灰?guī)r 200300 比砂巖略高 較低 較高 比砂巖還低 明顯異常 較高 ,明顯正差異 較高 略 鉆頭 石灰?guī)r 165250 低值 高值 比砂巖還低 大片異常 高值，鋸齒狀正負(fù)差異 高值 小于或 等于鉆頭 白云巖 155250 低值 高值 比砂巖還低 大片異常 高值，鋸齒狀正負(fù)差異 高值 小于或 等于鉆頭 硬石膏 約 164 約 約為 0 高值 最低 基值 高值 接近鉆頭 石膏 約 171 約 約 50 低值 最低 基值 高值 接近鉆頭 鹽巖 約 220 約 接近于 0 高值 最低 ,鉀鹽最高 基值 極低 高值 鉆頭 測(cè)井方法 曲線特征 巖性 在實(shí)際應(yīng)用時(shí)，各種測(cè)井方法區(qū)分巖性的能力是不同的，一般地說(shuō)， SP、 GR和巖性密度測(cè)井所提供的 光電吸收截面指數(shù) Pe等區(qū)分巖性的能力較強(qiáng)。 一、綜合利用測(cè)井曲線定性識(shí)別巖性 下表列舉是人們從長(zhǎng)期的生產(chǎn)過(guò)程中總結(jié)出來(lái)的幾種常見(jiàn)的主要巖層測(cè)井特征。 它是手工解釋中常用的方法，顯然，其解釋結(jié)果的可靠性取決于人們的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)和巖性剖面的復(fù)雜程度。若用地球化學(xué)測(cè)井最新成果可直接提供剖面分段的礦物組合及含量。 復(fù)雜巖性的識(shí)別可建立在 多次交會(huì)圖 判斷巖性骨架成分上，再依據(jù)體積模型建立各種測(cè)井響應(yīng)方程，求解方程組，獲取各骨架成分含量。交會(huì)圖在識(shí)別骨架成分上要優(yōu)于曲線重疊法。 同時(shí)，用 曲線重疊法、交會(huì)圖法 半自動(dòng)識(shí)別骨架成分方法也是當(dāng)前測(cè)井解釋人員常用的方法。 第一節(jié) 測(cè)井地層剖面及儲(chǔ)層巖性分析 綜合利用測(cè)井曲線進(jìn)行巖性識(shí)別應(yīng)該在對(duì)區(qū)域地層剖面了解的基礎(chǔ)上，并對(duì)關(guān)鍵取芯井建立四性（巖性、物性、含油性、電性）關(guān)系的前題下進(jìn)行， 參考主要巖性的理論測(cè)井響應(yīng)值 ，對(duì)單井組合測(cè)井曲線進(jìn)行綜合分析、比較，確定其巖性。 （ 1）對(duì)進(jìn)行地質(zhì)錄井的生產(chǎn)井或生產(chǎn)層段，地質(zhì)人員可以依據(jù)錄井剖面結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)曲線，提出深度準(zhǔn)確的地層巖性解釋剖面（完井剖面）。 著重介紹儲(chǔ)層的測(cè)井識(shí)別與評(píng)價(jià)。 因此，微側(cè)向測(cè)井是改進(jìn)微電極測(cè)井而提出來(lái)的。確定砂體延伸方向。沉積環(huán)境和沉積相解釋 。裂縫識(shí)別 。確定褶皺、斷層和角度不整合 。確定井眼幾何形態(tài) 。 2．反映裂縫（隙）存在與否 九、井徑測(cè)井 CAL ）。 因?yàn)?RMSFL受泥餅影響小，在確定 Rxo起重要作用，同時(shí)具有較高的縱向分辨能力，在區(qū)別滲透層巖性和劃分夾層方面有較大優(yōu)越性。 RPL的地質(zhì)應(yīng)用同 RMLL。 RMLL一般用在泥餅不厚、泥漿電阻率 Rmf低的條件下效果較好。地層評(píng)價(jià)，包括油 /水層。確定鹽水鉆井液和高阻地層的電阻率； 據(jù)此，我們可以確定地層真電阻率和侵入帶的含水飽和度。雙側(cè)向儀器在高阻地層（ 100歐姆米）和鉆井液電阻率比地層水電阻率低的地層中測(cè)井要優(yōu)于感應(yīng)儀器。 雙側(cè)向測(cè)井 雙側(cè)向測(cè)井儀是一種用來(lái)測(cè)量由鹽水鉆井液鉆井的裸眼井的地層電阻率儀器。 水層：負(fù)幅度差 ， RLLD RLLS 增阻侵入 。 （ 2） 根據(jù)深 、 淺側(cè)向的幅度差判斷油水層 。儲(chǔ)集層評(píng)價(jià)，包括油 /水層。確定地層水電阻率 Rw； 確定侵入半徑； 應(yīng)用： 該儀器能提供一條深探測(cè)感應(yīng)電阻率、一條中探測(cè)感應(yīng)電阻率和一條淺探測(cè)八側(cè)向電阻率曲線。 其中，微側(cè)向 RMLL和微球聚集 RMSFL是常用的沖洗帶電阻率測(cè)井。 為了減小泥漿的分流作用和低阻圍巖的影響 ， 提出了側(cè)向測(cè)井 ， 又稱聚集測(cè)井 。 （ 5）確定沖洗帶電阻率和泥餅的厚度。 （ 3） 確定含油砂巖的有效厚度 he 在評(píng)價(jià)油氣層和計(jì)算儲(chǔ)量時(shí) ， 需要求出油氣層的有效厚度 ， 由于微電極曲線具有劃分薄層和區(qū)分滲透性和非滲透性地層的二大特點(diǎn) ， 利用它將油氣層中的非滲透薄夾層劃分出來(lái)并把其厚度從含油氣井段的總厚度中扣除就得到油氣層的 he。 （ 2） 劃分巖性和滲透性地層 滲透性地層在微電極曲線上的基本特征就是具有幅度差 ， 而非滲透性地層的曲線無(wú)幅度差或正負(fù)不定的較小的幅度差 。 具有較強(qiáng)的縱向分辯能力。 C． 微電極測(cè)井 微電極測(cè)井輸出兩條曲線： 微梯度：探測(cè)深度 40mm， 受泥餅影響大 。 B． 橫向測(cè)井 橫向測(cè)井就是研究?jī)?chǔ)層徑向電阻率的變化、求取巖層真電阻率的一種組合測(cè)井。 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井內(nèi)容包括：標(biāo)準(zhǔn)電極系電阻率測(cè)井 ， SP測(cè)井和井徑 ， 有的還包括 GR。 （ 4） 識(shí)別油水層和確定 So 油層： Rt較高 水層： Rt較低 3． 適用條件 普通電阻率測(cè)井適用于淡水泥漿、中、低電阻率的碎屑巖剖面。 七、普通電阻率測(cè)井 Rt 2． 地質(zhì)應(yīng)用 （ 1） 劃分巖性剖面 在砂泥巖剖面中 ， 利用電阻率的差異將尋找的高阻層分辨出來(lái) ， 然后參考 SP曲線 ， 把在 SP曲線上具負(fù)異常的高阻層井段找出來(lái) ， 即為解釋的目的層 。 （ 5）用于砂泥巖剖面中的地層對(duì)比（油層對(duì)比） 普通電阻率測(cè)井是最早出現(xiàn)的方法之一 。 m——膠結(jié)指數(shù) ， 隨巖石膠結(jié)程度不同而變化 ， 變化范圍： ～ n——飽和度指數(shù) ， n接近于 2 a——與巖性有關(guān)的比例系數(shù) ， ～ b——系數(shù)，一般接近于 1 ntmwW RabRS?? ? （ 3） 劃分滲透層 ， 確定巖層厚度 當(dāng) h2m時(shí) ， 可用 “ 半幅點(diǎn) ” 法劃分巖層的頂 、底界面 ， 而后確定儲(chǔ)層厚度 。 （ 2） 確定地層含油 （ 水 ） 飽和度 根據(jù)阿爾奇公式： 式中： ψ——可根據(jù)三種孔隙度方法求得 。當(dāng)?shù)貙拥哪酀{侵入較深時(shí)，需進(jìn)行校正。 感應(yīng)測(cè)井一般適用在地層電阻率小于100Ωm的地層剖面，對(duì)低阻層反應(yīng)極佳，它也可在非導(dǎo)電泥漿中進(jìn)行測(cè)量。 AC增大 Rt減小 （ 6） 可用于繪制合成地震剖面 ， 在油藏描述中 ， 進(jìn)行地震剖面的層位標(biāo)定工作 。 （ 4） 利用中子密度交會(huì)孔隙度 ψDN與 ψs的差值 ， 可判斷有無(wú)次生孔隙存在 。 隨鈣質(zhì)增多 ， Δt下降 ， 隨 Vsh增多 ， Δt增大 。 mafmas tttt????????（ 2） 識(shí)別氣層 聲波時(shí)差在氣層上反映高的Δt值，在松散層含氣時(shí)