【正文】 泥質(zhì)夾層：低阻 Rt、高 GR； 鈣質(zhì)夾層：高阻 Rt、低 GR 1． 油層含油性的快速直觀顯示 （ 1） Rt、 Ro曲線重疊 Rt——深探測電阻率曲線 Ro——計(jì)算參數(shù)曲線 ， 純水層電阻率 Ro=F Rw 式中： F——地層因素 ， F=a/φm a、 m——為常數(shù) 水層： Rt= Ro， 曲線重合 油層： Rt Ro （二）快速直觀方法識別油水層 （ 2） Rwa、 Rmfa重疊曲線法 Rwa——視地層水電阻率 Rmfa——視泥漿濾液電阻率 Rwa F= Rt Rmfa F=Rxo 式中： Rxo——為沖洗帶電阻率 。 3． 水層 水層的電阻率高低主要受地層水礦化度影響 。 采用其它測井手段 ， 結(jié)合識別裂隙的測井方法解釋 。 油層 : 深探測電阻率(COND)高 , 為水層 23層的 35倍以上 , R4M,呈明顯的減阻侵入 , SP幅度略低于 23層水層 . 目前發(fā)現(xiàn)的油層中有不少屬于低阻 ， 從成因上分析有以下幾種類型： ① 由于高 —極高地層水礦化度 （ 10萬 106）造成低阻油層 ， 油層的 Rt低到 1， 但與水層相比 ，油層 I≥5。 對于中 —高 φ（ φ≥20%） 的油層具有低的 Swb， 高的 So。 井溫低溫異常 ρb 減小， φN減小 △ t 增大， φN減小 ρb 減小 30 ?電阻率曲線顯示高值，（以此與水層區(qū)別）； ?將 AC與中子伽馬 NG曲線在水層重疊，在氣層 AC和 NG出現(xiàn)差異，且 NG 在 AC之右。 即用測井資料判斷油 、 氣 、水層必須與地質(zhì)結(jié)合 ， 與巖心 、 錄井 、 氣測的含油顯示互相驗(yàn)證 ， 與鄰井試油成果結(jié)合 ， 因此它是綜合定性識別油 、 氣 、 水層的方法 。 （五）陽離子交換模型（自學(xué)） 實(shí)際上，幾乎所有泥質(zhì)砂巖中均含有數(shù)量不同的粘土礦物，而從導(dǎo)電機(jī)理來說，粘土礦物具有陽離子交換能力，它是與自由電解液（離子導(dǎo)電）完全不同的導(dǎo)電。 同時(shí)，在實(shí)際井中，一般都有泥漿沖洗帶，除電阻率測井外，其它測井方法的探測范圍都比較小，主要是測量靠近井壁的沖洗帶的情況。將含水泥質(zhì)砂巖看成由砂巖骨架、泥質(zhì)和有效孔隙度三部分組成，對于含油氣的泥質(zhì)砂巖，還需要把圖中的有效孔隙體積劃分為含水孔隙體積和含油氣孔隙體積。注意，粉砂指數(shù) SI只說明泥巖的性質(zhì)和泥質(zhì)砂巖中泥質(zhì)成分的性質(zhì)，即只說明兩者的細(xì)粉砂相對含量，它絕不代表整個(gè)泥質(zhì)砂巖的細(xì)粉砂含量，只有細(xì)粉砂相對體積 Vsi才代表泥質(zhì)砂巖的細(xì)粉砂含量。 如果認(rèn)為在順序沉積的砂泥巖中，泥質(zhì)砂巖與它對應(yīng)的泥巖具有基本相同的泥質(zhì)性質(zhì)，即所含的細(xì)粉砂和濕粘土的性質(zhì)相同，我們就可建立砂、泥巖的通用解釋模型。粘土礦物之間，還可相互轉(zhuǎn)化，主要是蒙脫石和高嶺石經(jīng)成巖、后生作用可變?yōu)橐晾?，而伊利石?jīng)風(fēng)化也可變成蒙脫石或高嶺石。砂粒為巖石骨架，主要成分是石英，其次是長石等礦物，泥質(zhì)常呈膠結(jié)物。隨著測井資料計(jì)算機(jī)處理解釋技術(shù)的發(fā)展，現(xiàn)在比較完善的裸眼井測井?dāng)?shù)據(jù)處理方法及程序，均采用了比較全面地考慮了泥質(zhì)和油氣影響的解釋模型和方法。但由于泥質(zhì)和天然氣對測井響應(yīng)有明顯影響，因而在對含泥質(zhì)較多或含天然氣及輕質(zhì)油的地層進(jìn)行綜合評價(jià)時(shí)，必須充分考慮泥質(zhì)和油氣的影響。另一類是像電阻率測井方法，其宏觀物理量不等于其體積與單位物理量之乘積，必需根據(jù)物理意義．用等效體積的方法來建立具體的體積模型公式。（ 自學(xué) ） 1．聲波測井 根據(jù)巖石體積模型，可以認(rèn)為，滑行波在巖石中直線傳播的時(shí)間應(yīng)等于滑行波在巖石骨架中的傳播時(shí)間與在孔隙流體中的傳播時(shí)間之和。但最基本的是純巖石和泥質(zhì)巖石兩種體積模型，由這兩種模型可以很容易導(dǎo)出雙礦物和多礦物體積模型， 純含水巖石體積模型 （二）純巖石水層模型及測井響應(yīng)方程 右圖為純砂巖水層巖石結(jié)構(gòu)及其等效體積模型 砂巖骨架礦物顆粒（如石英和長石等）的物理性質(zhì)比較接近，且與孔隙中的水或泥漿濾液的物理性質(zhì)有很大差別。 所謂 巖石體積物理模型 ，就是根據(jù)測井方法的探測特性和巖石中各種物質(zhì)在物理性質(zhì)上的差異按體積把實(shí)際巖石簡化為性質(zhì)均勻的幾個(gè)部分，研究每一部分對巖石宏觀物理量的貢獻(xiàn)，并把巖石的宏觀物理量看成是各部分貢獻(xiàn)之和，這種方法的要點(diǎn)有二： ①按物質(zhì)平衡原理，巖石體積 V等于各部分體 Vi之和 . ② 巖石宏觀物理量 M等于各部分宏觀物理量mi之和。巖石自然放射性（ GR、 U、Th、 K）、熱中子宏觀俘獲截面、體積光電吸收截面 Pe、聲波時(shí)差 AC、電磁波傳播時(shí)間（ tpl）和幅度衰減（ EATT）等等，均可作同樣解釋。 目前，在測井?dāng)?shù)據(jù)處理中采用的 解釋模型 有許多種，可按不同角度對它們大致 分類 。在這種交會圖上天然氣將使點(diǎn)子向上方移動，而重礦物使數(shù)據(jù)點(diǎn)向右移動，粘土點(diǎn)和泥巖點(diǎn)落在白云石點(diǎn)下方。 △ t＝ φ △ tf＋ （ 1－ φ ） （ V1△ tma1＋ V2△ tma2＋ V3△ tma3) φN＝ φ φN f＋ （ 1－ φ ） （ V1 φNma1＋ V2 φNma2＋ V3 φNma3) ρb ＝ φ ρf＋ （ 1－ φ ） （ V1 ρma1＋ V2 ρma2＋ V3 ρma3) 1＝ φ＋ （ 1－ φ ） （ V1 ＋ V2＋ V3） 如果存在次生孔隙、泥質(zhì)或含氣，將會使點(diǎn)子發(fā)生偏移，分析時(shí)應(yīng)考慮這些因素的影響。 M值代表聲波密度交會圖上某骨架點(diǎn)與液體點(diǎn)連線之斜率值， N值代表中子密度交會圖上該骨架點(diǎn)連線之斜率值。 此外，實(shí)際應(yīng)用時(shí)，還要根據(jù)地質(zhì)上的可能性作出判斷。 其中 ， （ ρma） a可從中子 —密度交會圖上查出 ， （ △ tma)a可在中子 —聲波交會圖上查出 。 在應(yīng)用這個(gè)圖版解釋時(shí) ，把對應(yīng)某一巖層的密度值和中子孔隙度 （ 均經(jīng)環(huán)境校正 、泥質(zhì)校正 ） 點(diǎn)入圖版 ， 如圖上的 P點(diǎn) ， 如果已知該項(xiàng)巖層是由白云石和方解石兩種礦物組成的 ， 通過 P點(diǎn)作一平行于白云巖和石灰?guī)r線相同孔隙度連線的直線 ， 分別交 A、B兩點(diǎn) ， 孔隙度由 A、 B點(diǎn)在巖 性 線 上 的 位 置 而 定 ，φ=%， 兩種礦物成份的體積百分含量由 P點(diǎn)在 AB線上的位置確定 ， 如：灰?guī)r百分含量為： =%， 白云巖百分含量為 %。圖的縱座標(biāo)是體積密度或按純石灰?guī)r刻度的密度視孔隙度，橫座標(biāo)是按石灰?guī)r刻度的中子測井視石灰?guī)r孔隙度，均作過井眼校正，所有的這種形式的交會圖都是對飽含液體的純地層制作的，井內(nèi)為淡水或鹽水泥漿。 （ － ） =% fmabmaD???????? 從上述這個(gè)計(jì)算過程來看 ， 也可以這樣解釋密度測井視石灰?guī)r孔隙度的意義：在石灰?guī)r中刻度密度測井儀的孔隙度單位 （ 石灰?guī)r孔隙度 ） ， 然后用這個(gè)刻度標(biāo)準(zhǔn)去測其它巖性所得的密度孔隙度讀數(shù) ，即是視石灰?guī)r孔隙度 ， 簡稱石灰?guī)r孔隙度 。 常見的有孔隙度測井交會圖 。 φN 0（ 與含氫指 數(shù)低有關(guān) ） ?氣層： φN降低 ， φD增大 ?泥巖： φDφN 四、利用交會圖技術(shù)判斷巖性 交會圖技術(shù)應(yīng)用的是幾何作圖方法，它利用骨架礦物、天然氣、孔隙結(jié)構(gòu)等對幾種孔隙度測井響應(yīng)值不同，再結(jié)合巖性密度測井、自然伽馬能譜測井等識別巖性，求準(zhǔn)孔隙度，這種方法可以識別出較復(fù)雜的由 3－ 4種以下的礦物組成的巖性。 三、利用重疊曲線方法快速識別巖性 該方法僅適用于純巖性地層。 常用孔隙度測井曲線的重疊法識別巖性 ， 常用中子 φ N、 密度 ρ b（ 或 φ D） 測井曲線重疊 。 以某油田為例，儲層物性的下限值為：Vsh30%, ψ12%。 具體方法很多 ， 有利用建圖版方式 （ 交會圖、 直方圖 ） ， 也有直接用計(jì)算方式如判別分析或聚類方法來識別巖性 。 膏鹽剖面地區(qū) ， 由于微電極及 SP不能使用 ，故劃分巖性主要依據(jù) GR、 電阻率測井 、 孔隙度測井 、 井徑 。 泥灰?guī)r （ 為非儲層 ） ： GR高值 ， Rt相對低值 。 泥質(zhì)砂巖：（相對純水層而言） GR顯示高值，Rt變低 砂泥巖剖面綜合資料測井曲線 2． 碳酸鹽巖剖面 在碳酸鹽巖剖面中的滲透層 ， 通常是夾在致密層中的裂隙帶 。 純泥巖： Rt低、 AC高（由于泥質(zhì)顆粒吸附負(fù)離子， 產(chǎn)生附加導(dǎo)電性，使 Rt變?。? 鈣質(zhì)泥巖： Rt高（尖峰）， AC低 砂質(zhì)泥巖、炭質(zhì)頁巖、頁巖、油頁巖： Rt居中 煤層：可依據(jù) ρ b（體積密度）和 Pe值低先選出 b．滲透層（砂層） 砂巖類常見有：純砂巖、鈣質(zhì)砂巖、泥質(zhì)砂巖。 b． 泥巖層 SP基線 微電極視電阻率為低值 ， 沒有或只有小的幅度差 。 致密灰?guī)r為高阻，泥巖為低阻。 B。根據(jù)這些特征，一般可以劃分那些 成分較單一 的井剖面巖性。 定性劃分巖性 ——是人們利用 測井曲線的形態(tài)特征 和 讀數(shù)的相對大小 ，根據(jù)長期生產(chǎn) 實(shí)踐 積累的一些規(guī)律性認(rèn)識（或經(jīng)驗(yàn)）去劃分地層巖性的方法。目前利用交會圖可以識別三種甚至四種骨架成分體積含量。 地質(zhì)人員還常用 統(tǒng)計(jì)的方法 ，找出本區(qū)主要巖性的各種測井響應(yīng)值域，用判別分析或聚類分析等手段在計(jì)算機(jī)自動分層基礎(chǔ)上劃分巖性。 重點(diǎn)放在儲層的研究，包括： 儲層的巖性描述 流體性質(zhì)的分析 儲層參數(shù)的求取 裂隙性碳酸鹽巖儲層特征參數(shù)的求取 第一節(jié) 測井地層剖面及儲層巖性分析 利用測井資料識別巖性是地質(zhì)解釋的第一步。 GR、 SP——判別巖性、計(jì)算 Vsh， AC、 DEN、 SNP/CNL——計(jì)算孔隙度， COND、普通電阻率、側(cè)向 ——計(jì)算 Sw、 Sxo ? 微電極測井與微側(cè)向測井的關(guān)系： 微電極測井是屬于普通電阻率測井方法，微側(cè)向測井屬于側(cè)向測井方法； 側(cè)向測井是在普通電極系的基礎(chǔ)上加上聚焦裝置而得出的，這樣改進(jìn)的結(jié)果使電極系探測深度大大改進(jìn)，并且降低了井眼和圍巖的影響。 1． 反映地層的巖性特征和儲層的滲透性 （ 如致密與否 or 蒙脫石遇水膨脹等 ） 常用于地層對比 、 巖性判斷 、 挑選儲層 。 3． 鄰近側(cè)向測井 RPL的地質(zhì)應(yīng)用 鄰近側(cè)向 RPL受泥餅影響小 ， 它可用于 Rmf較高 、 泥餅層較厚的井中 。定性判別滲透率； 雙側(cè)向儀器能提供一條深探側(cè)電阻率和一條淺探側(cè)電阻率曲線。 （ 3） 劃分地質(zhì)剖面 常在視電阻率曲線開始急劇上升的位置為地層界面。 1． RLL RLL RLL的地質(zhì)應(yīng)用 （ 1） 用來確定含水飽和度 當(dāng)?shù)貙觾?nèi)含有高導(dǎo)電性鉆井液或目的層的 Rt很高時(shí) ， 可得出可靠的電阻率值 ， 且對充滿導(dǎo)電泥漿的井 ， 井眼的影響是很小的 ， 這時(shí)可利用阿爾奇公式 ， 求出 Sw。指示滲透層； 同時(shí)可測一條自然電位曲線。 常用的側(cè)向測井有：三側(cè)向 RLL七側(cè)向 RLL雙側(cè)向 RLL(Dual Laterlog)、微側(cè)向 RMLL(Microlaterlog)、鄰近側(cè)向 RPL(Proximity log)、微球聚集 RMSFL。 （ 4） 確定井徑擴(kuò)大井段 在井內(nèi)如有井壁坍塌形成的大洞穴或石灰?guī)r的大溶洞時(shí) ， 在這些井段中微電極系的極板懸空 ， 所測視電阻率曲線幅度降低 ， 其視電阻率和泥漿電阻率基本相同 。 微電極測井的地質(zhì)應(yīng)用 （ 1） 確定巖層界面 微電極曲線的縱向分辨能力較強(qiáng) ， 劃分薄互層和薄夾層比較可靠 ， 根據(jù)曲線的半幅點(diǎn)確定地層界面 。它由一系列電極距不同的一組底部梯度電極系測井組成，常用到的有： 、 1m、 、 4m、 8m。 4． （ 介紹 ） 幾種經(jīng)常提到的名詞 A． 標(biāo)準(zhǔn)測井 （ 1： 500標(biāo)準(zhǔn)測井圖 ） 在一個(gè)油田或一個(gè)地區(qū) ， 或一個(gè)完整的