【正文】 對于定性解釋和初步的定量解釋是可行的，它對一般含泥質少的地層和不含天然氣的地層也基本適用。但由于泥質和天然氣對測井響應有明顯影響，因而在對含泥質較多或含天然氣及輕質油的地層進行綜合評價時，必須充分考慮泥質和油氣的影響。隨著測井資料計算機處理解釋技術的發(fā)展，現(xiàn)在比較完善的裸眼井測井數(shù)據(jù)處理方法及程序，均采用了比較全面地考慮了泥質和油氣影響的解釋模型和方法。 測井資料數(shù)據(jù)處理是在整個解釋井段內連續(xù)計算解釋的，因而所用的解釋模型必須具有通用性。不但適用于純巖石，而且也適用于含泥質巖石和泥巖，即應采用砂泥巖通用的解釋模型。 眾所周知，泥質砂巖是由砂粒、泥質及孔隙流體等物質組成。砂粒為巖石骨架，主要成分是石英，其次是長石等礦物，泥質常呈膠結物。測井解釋中所說的泥質通常指粘土礦物、細粉砂及粘土所含水的混合物。粘土礦物的顆粒很細，其直徑一般小于 ，主要有伊利石、蒙脫石、高嶺石及綠泥石。 砂泥巖的通用解釋模型 在泥質砂巖中，粘土的成分和數(shù)量有很大變化。粘土礦物之間，還可相互轉化，主要是蒙脫石和高嶺石經成巖、后生作用可變?yōu)橐晾?，而伊利石經風化也可變成蒙脫石或高嶺石。地層條件下的粘土含束縛水，即為 濕粘土 ，濕粘土的物理性質較穩(wěn)定，可在較長井段內保持其性質基本不變，因此，常用濕粘土來建立解釋公式。 細粉砂的顆粒粒徑約為 ～ ，其礦物成分主要是石英，也可有長石、方解石及其它礦物。雖然細粉砂在中子和密度測井上的顯示與砂巖骨架成分相同，但由于細粉砂的顆粒很細，它對自然放射性、電阻率和自然電位等測井的影響又很類似于粘土，故通常把細粉砂、粘土和水的混合物統(tǒng)稱為 泥質 。 如果認為在順序沉積的砂泥巖中，泥質砂巖與它對應的泥巖具有基本相同的泥質性質，即所含的細粉砂和濕粘土的性質相同，我們就可建立砂、泥巖的通用解釋模型。 ① 把砂泥巖看成由砂巖骨架、泥質和有效孔隙三部分組成，其相對體積分別是Vsd、 Vsh、 φe，則砂泥巖物質平衡方程為： Vsd+Vsh+φe=1 純砂巖是泥質含量 Vsh=0的特例，純泥巖是 Vsd=0 和 φe=0的特例。 ② 認為泥質砂巖的泥質與它對應的泥巖有相同的泥質性質，而 泥質是由細粉砂和濕粘土兩部分組成 。設細粉砂和濕粘土的相對體積分別是 Vsd和 Vclay，則有： Vsh=Vsi+Vclay 為了說明泥質中的細粉砂含量、我們規(guī)定粉砂指數(shù) SI代表細粉砂體積占泥質體積的百分數(shù)，即： SI=Vsi/Vsh 代入前式得地層的泥質含量： Vsh=Vclay/(1SI) 以上三式說明砂泥巖中泥質、細粉砂和粘土三者相互之間的關系。注意，粉砂指數(shù) SI只說明泥巖的性質和泥質砂巖中泥質成分的性質，即只說明兩者的細粉砂相對含量，它絕不代表整個泥質砂巖的細粉砂含量，只有細粉砂相對體積 Vsi才代表泥質砂巖的細粉砂含量。 ③ 由于粘土含量 Vclay與泥質含量 Vsh可以按上式相互轉換，故可分別按泥質性質和粘土性質建立解釋公式。為了簡單起見，一般是先按泥質性質建立解釋公式，再用上式轉換為粘土性質的解釋公式，而在使用時，由于砂泥巖粘土性質穩(wěn)定而泥質性質變化很大，砂泥巖常使用粘土性質的解釋公式。 為了導出含泥質巖石的測井響應方程，可將含水泥質砂巖和含油氣泥質砂巖分別簡化為如圖 413和圖 414所示的體積模型。將含水泥質砂巖看成由砂巖骨架、泥質和有效孔隙度三部分組成，對于含油氣的泥質砂巖，還需要把圖中的有效孔隙體積劃分為含水孔隙體積和含油氣孔隙體積。 含泥質巖石的測井響應方程 為了直接推導出泥質砂巖的體積模型公式，根據(jù)前述純巖石體積模型公式的規(guī)律，針對泥質砂巖情況把體積模型公式的基本特點（不包括電阻率測井）說明如下： （ 1）巖石各部分的相對體積之和等于 1。 含水泥質砂巖： Vma+Vsh+φe=1 含油氣泥質砂巖： Vma+Vsh+φeSxo+φe=1 式中： Vma和 Vsh——分別為泥質砂巖骨架和泥質的相對體積； φe和 Sxo——分別為巖石有效孔隙度和沖洗帶含水飽和度。 （ 2）測井參數(shù)（巖石體積密度、含氫指數(shù)、聲波時差及巖石宏觀浮獲截面等）等于巖石各部分的相對體積與相應物理參數(shù)乘積之和。 同時，在實際井中，一般都有泥漿沖洗帶，除電阻率測井外，其它測井方法的探測范圍都比較小，主要是測量靠近井壁的沖洗帶的情況。因此，在下面推導泥質砂巖的公式中，除電阻率測井外，主要是討論沖洗帶的情況。 （自學） a．層狀泥質砂巖 b．含分散泥質的泥質砂巖 c．含混合泥質的泥質砂巖 Vsh的方程 前述泥質砂巖電導率解釋模型中，把砂巖和泥質（粘土）中的地層水看成是性質相同的一種自由電解液，泥質砂巖的導電性是泥質與砂巖孔隙中地層水并聯(lián)導電的結果。只不過是根據(jù)含泥質地層中泥質或粘土的分布形式（如含分散泥質、層狀泥質或混合泥質），提出不同的假設，按并聯(lián)導電概念和 Archie公式，得出不同的泥質砂巖電導率方程，實際上它們都是在泥質砂巖條件下對 Archie模型的擴展和延伸。 （五）陽離子交換模型（自學） 實際上，幾乎所有泥質砂巖中均含有數(shù)量不同的粘土礦物，而從導電機理來說，粘土礦物具有陽離子交換能力，它是與自由電解液（離子導電）完全不同的導電。 1956年 Hill等人根據(jù)大量泥質砂巖電導率的實驗資料，首次提出根據(jù)粘土礦物的陽離子交換特性來研究泥質砂巖的導電性。 1968年 Waxman和 Smits在此基礎上又進一步實驗研究，提出了基于粘土礦物陽離子交換能力的泥質砂巖電導率方程，即所謂 WaxmanSmits模型（簡稱 WS模型） ，此模型被認為是比較先進的解釋模型，得到較廣泛的應用，它把泥質砂巖的解釋推向一個新階段。 第二節(jié) 測井儲層流體分析 及儲層評價參數(shù)的確定 （ 一 ） 定性地綜合判斷油水層 測井響應值是巖性 、 物性 、 含油性的綜合反映， 為此在運用測井曲線判斷油 、 氣 、 水時 ， 必須考慮巖性 、 物性的影響 。 即用測井資料判斷油 、 氣 、水層必須與地質結合 ， 與巖心 、 錄井 、 氣測的含油顯示互相驗證 ， 與鄰井試油成果結合 ， 因此它是綜合定性識別油 、 氣 、 水層的方法 。 對儲層流體特性反映靈敏的常規(guī)測井方法有：電阻率測井、 SP、其次為孔隙度測井。新方法有C/O、 核磁測井等。 一、識別油氣水層的方法 1． 氣層的識別 （ 1） 常規(guī)方法識別氣層 密度測井低值 中子孔隙度測井 ——低孔隙度 AC顯示高值 （ 由周波跳躍引起 ） 井溫曲線為低溫異常 ， （ 以此與油水層區(qū)別 ） 電阻率曲線顯示高值，（以此與水層區(qū)別）。 井溫低溫異常 ρb 減小， φN減小 △ t 增大， φN減小 ρb 減小 30 ?電阻率曲線顯示高值，（以此與水層區(qū)別）； ?將 AC與中子伽馬 NG曲線在水層重疊，在氣層 AC和 NG出現(xiàn)差異，且 NG 在 AC之右。 ?NG增大 （ 2） 測井新方法識別氣層 a． 巖性密度測井提供的 Pe、 U曲線 與油 、 水層相比 ， 氣層的 Pe、 U值均顯低值 （ 見下表 ） 。 其中 U為體積光電吸收截面指數(shù) . ee PU ?? ?為電子密度 b． C/O測井提供的 FCC（俘獲 ν） (虛線 )和 C/I（俘獲ν/非彈性散射 γ）曲線 ? 氣層： FCC、 C/I均為高值，負差異， FCCC/I ? 油層： C/I與泥巖接近，正差異， FCCC/I ? 水層： C/I與泥巖接近，負差異， FCCC/I 在泥巖段令其重合 （ 3） 曲線重疊法 a． 對純巖性地層 ： 采用中子 —密度曲線重疊 ， 氣層： ρb低 ， ρb下降， φN減小 . b．對泥質砂巖含氣層 ： 用△ t—φN曲線重疊， 氣層： φN減小 . 30 c．用△ t與中子伽瑪曲線在水層處重疊 氣層：△ t與中子 ν 明顯增加，區(qū)分油層。 AC NG 2． 油層的識別 在挑選出氣層后 ， 識別油水層主要靠電阻率測井顯示 。 對于中 —高 φ（ φ≥20%） 的油層具有低的 Swb， 高的 So。 采用與純水層的電阻率比值 ， 即電阻增大率 （I=Rt/Ro） 和徑向電阻率變化挑出油層 ， 它反映在： ① 深探測的電阻率值 Rt高出相同巖性的鄰近水層電阻率 Ro的 3～ 5倍 ， 即 Rt3～ 5Ro， 解釋的 So≥50%。 ② 在徑向上 ， 淺探測電阻率 Rxo深 Rt， 即通常反映的油層具減阻侵入的特點 。 ③ SP幅度值略低于鄰近同巖性、同物性的水層。 油層 : 深探測電阻率(COND)高 , 為水層 23層的 35倍以上 , R4M,呈明顯的減阻侵入 , SP幅度略低于 23層水層 . 目前發(fā)現(xiàn)的油層中有不少屬于低阻 ， 從成因上分析有以下幾種類型： ① 由于高 —極高地層水礦化度 （ 10萬 106）造成低阻油層 ， 油層的 Rt低到 1， 但與水層相比 ，油層 I≥5。 ②高地層水礦化度，巖性以粉砂較多地區(qū)為主，其中有粘土礦物充填，造成低阻是由于它處在含鹽層序剖面中，從 Rt變化難以區(qū)分油、水層，需配合EPT、 C/O等曲線。 ③ 低礦化度 （ 1000 106） 泥質砂巖含油層 ，由于泥質附加導電性對 Rt的影響 ， 使油層 Rt下降 ，而淡水層 Rt增高到 10， 造成低阻油層與高阻水層在Rt曲線上難以區(qū)分 ， 也應配合 EPT、 C/O。 ④ 中低 φ（ φ≤20%） ， 有裂隙伴生的油層 ， 在水基泥漿條件下 ， 由于泥漿深侵入造成的低阻 ， 可用油基泥漿進行驗證 。 采用其它測井手段 ， 結合識別裂隙的測井方法解釋 。 ⑤由于 So的下降引起的低阻，由油、水過渡帶，可綜合 SP、 GR、 EPT、 C/O等曲線識別。 由于巖性變細 ,束縛水含量增加引起的 6層的電阻率下降 ,故仍然解釋為油層 . 低阻低滲的差油層一般是粉砂巖 ,且含泥量較高，故 K較低， 錄井沒有油氣顯示或顯示較差 ,但油質較好。測井特征表現(xiàn) 為 SP異常幅度變小，微電極 ML曲線幅度差小，深探測 RT低，所求 So低，這是由于大量的束縛水和泥質附加導電性使得巖層的電阻率降低，造成 Rt和 So均低于油層標準。 3． 水層 水層的電阻率高低主要受地層水礦化度影響 。 高礦化度水層 ， Rt低 ， 當 RwRmf， 徑向為增阻侵入； 高礦化度水層 ， 淡水時 ， RwRmf， 徑向為減阻侵入 。 挑出水層的測井方法還有： EPT、比中子測井、 C/O。 水層 : SP負異常最大 ,深探測電阻率(COND)最低R4M和 ,呈增阻侵入 4． 干層 在碎屑巖剖面中 ， 干層有二種： 泥質夾層：低阻 Rt、 高 GR； 鈣質夾層：高阻 Rt、低 GR。 泥質夾層：低阻 Rt、高 GR； 鈣質夾層：高阻 Rt、低 GR 1． 油層含油性的快速直觀顯示 （ 1） Rt、 Ro曲線重疊 Rt——深探測電阻率曲線 Ro——計算參數(shù)曲線 ， 純水層電阻率 Ro=F Rw 式中： F——地層因素 ， F=a/φm a、 m——為常數(shù) 水層： Rt= Ro， 曲線重合 油層： Rt Ro （二）快速直觀方法識別油水層 （ 2） Rwa、 Rmfa重疊曲線法 Rwa——視地層水電阻率 Rmfa——視泥漿濾液電阻率 Rwa F= Rt Rmfa F=Rxo 式中： Rxo——為沖洗帶電阻率 。 Rwa、 Rmfa均可通過 Rt 、 Rxo、 φ求