【正文】 測(cè)井資料綜合解釋及測(cè)井方法匯總 從地質(zhì)應(yīng)用的角度來(lái)介紹測(cè)井技術(shù)，即如何應(yīng)用測(cè)井信息解決地質(zhì)問(wèn)題 .它綜合運(yùn)用各種地球物理學(xué)方法對(duì)單井巖性、物性、含油性進(jìn)行定性、定量的分析和評(píng)價(jià)，同時(shí)對(duì)油藏構(gòu)造、微相等方面進(jìn)行判識(shí)。 ? 第一講 現(xiàn)代油氣測(cè)井常規(guī)方法的地質(zhì)應(yīng)用 ? 第二講 測(cè)井地層剖面及儲(chǔ)層巖性分析 ? 第三講 測(cè)井儲(chǔ)層流體分析及儲(chǔ)層評(píng)價(jià)參數(shù)確定 ? 第四講 測(cè)井地層對(duì)比 ? 第五講 測(cè)井微相研究 ? 第六講 油藏描述 本講將從油氣測(cè)井現(xiàn)狀出發(fā)，按在地質(zhì)應(yīng)用中的重要性，分別對(duì)常規(guī)測(cè)井的探測(cè)對(duì)象及其地質(zhì)解釋依次介紹。 它們分別是： 第一講 現(xiàn)代油氣測(cè)井常規(guī)方法的地質(zhì)應(yīng)用 自然伽馬測(cè)井曲線的地質(zhì)應(yīng)用 自然電位測(cè)井曲線的地質(zhì)應(yīng)用 密度測(cè)井曲線的地質(zhì)應(yīng)用 中子測(cè)井曲線的地質(zhì)應(yīng)用 聲波測(cè)井曲線的地質(zhì)應(yīng)用 感應(yīng)測(cè)井曲線的地質(zhì)應(yīng)用 普通電阻率測(cè)井的地質(zhì)應(yīng)用 側(cè)向測(cè)井曲線的地質(zhì)應(yīng)用 井徑測(cè)井曲線的地質(zhì)應(yīng)用 現(xiàn)代油氣測(cè)井常規(guī)方法的地質(zhì)應(yīng)用 （ THE Gamma Ray Well Logging） 1． 測(cè)量對(duì)象 自然伽瑪測(cè)井是測(cè)量地層中天然伽瑪射線強(qiáng)度 ， 其強(qiáng)度取決于地層中放射性物質(zhì)的含量 。 在沉積巖中 ， 由于粘土顆粒吸附放射性元素的能力比其它骨架顆粒要強(qiáng) ， 故 GR射線強(qiáng)度主要取決于泥質(zhì)含量的多少 。 一、自然伽瑪測(cè)井 GR 因?yàn)?GR測(cè)井值與巖石礦物成份和泥質(zhì)含量有關(guān) ， 所以在地質(zhì)分析中主要用來(lái)： （ 1） 劃分巖性及地層對(duì)比 在富含泥質(zhì)地層顯示高值； 當(dāng)?shù)貙又懈患蟹派湫栽貢r(shí) （ 如鉀長(zhǎng)石 、 鋯石 、 云母等 ）， 顯示異常高值 。 （ 2） 利用 GR測(cè)井 曲線形態(tài)特征解釋沉積環(huán)境 GR測(cè)井曲線是沉積微相分析的主要手段 ， 可以根據(jù) GR曲線形態(tài)的變化 、 頂?shù)捉佑|關(guān)系和幅度的大小來(lái)推斷砂巖的沉積層序 、粒度變化 、 物源供給變化 、 砂體改造程度 ， 進(jìn)而推斷砂體的沉積微相 （ microfacies） 和微環(huán)境 （ microevironment） 。 以上兩種應(yīng)用均需配合其它測(cè)井方法 （ 如 SP） 進(jìn)行實(shí)際應(yīng)用。 2．地質(zhì)應(yīng)用 （ 3） 利用 GR測(cè)井值計(jì)算泥質(zhì)含量 經(jīng)常采用的方法是相對(duì)值法： 式中： GCUR——希爾奇 （ hilchie） 指數(shù) ， 它與地層地質(zhì)時(shí)代有關(guān) ， 常以為：第三系地層取 ， 老地層取 2。 Sh1——GR相對(duì)值 ， 也稱泥質(zhì)含量指數(shù) 。 其中 ， GR、 GRmax、 GRmin分別表示目的層 、 純泥巖層、 純砂巖層的 GR讀數(shù) 。 標(biāo)準(zhǔn)化單位為 :API 1212 1??? ?GCURSHGCURshV 12 12 1? ?? ?G C U RSHG C U RshVm i nm a xm i n1GRGRGRGRSh??? 3． 適用范圍 GR測(cè)井適用面廣 ， 既可在下套管井測(cè)井 ， 也適用于空氣鉆進(jìn) 、 油基泥漿的鉆孔中 。 在碳酸鹽巖剖面 ， 它是地質(zhì)解釋的一種工具 。 1． 測(cè)量對(duì)象 當(dāng)井內(nèi)鉆井液的礦化度與地層水礦化度不同時(shí) ， 在井中就會(huì)形成電位（ 電勢(shì) ） ， 自然電位測(cè)井就是探測(cè)井眼中這種電位的測(cè)井方法 。 二、自然電位測(cè)井 SP v M N 井中電極 M與地面電極 N 之間的電位差 (Self Potential Curve) 通常泥巖的SP是類似的，而且其讀數(shù)很穩(wěn)定， SP曲線平直，常稱之為泥巖基線，曲線向左偏移表明是滲透性地層。 SP 2． 地質(zhì)應(yīng)用 （ 1） 識(shí)別儲(chǔ)層 在碎屑巖剖面中 ， 儲(chǔ)層 SP顯示負(fù)異常 。 （ 2） 分層并確定地層厚度 SP曲線的拐點(diǎn)相當(dāng)于滲透層與非滲透層的界面，利用半幅點(diǎn)法劃分地層界面、確定地層厚度。 SP （ 3） 進(jìn)行地層對(duì)比和沉積環(huán)境分析 在相當(dāng)大的區(qū)域內(nèi) ， 某些特殊地層的SP曲線相類似 ， 利用這種現(xiàn)象在長(zhǎng)距離范圍進(jìn)行地質(zhì)對(duì)比 。 SP曲線形狀代表特殊的地下沉積環(huán)境， SP曲線的斜率及曲線的對(duì)稱情況有助于鑒別沉積環(huán)境和某些地質(zhì)特征。 （ 4） 確定泥質(zhì)含量 Vsh SP測(cè)井值與流體特性密切相關(guān) ， SP幅度大小受泥質(zhì)含量的影響 ， 可用于計(jì)算 Vsh。 式中： PSP——解釋層的 SP幅度 （ mv） SSP——純水層的靜自然電位 （ mv） S S PP S PV sh ?? 1（ 5） 判斷油水層的依據(jù)之一 巖性一致的儲(chǔ)層由于所含流體的性質(zhì)不同 ，SP反應(yīng)不同 。 油層的 SP幅度水層的 SP幅度 油層 水層 （ 6） 確定地層水電阻率 Rw 利用 SP幅度及溫度 、 泥漿濾液電阻率Rmfe， 估算地層等效電阻率 Rwe。 式中： K——SP系數(shù) K=60+（ 176。 F ） 或 K=(273+T （ 176。 C） )/298 wem feRRkssp lg??(7)判斷水淹層 油層水淹后， SP基線偏移，幅度減小。 基線偏移 幅度減小 3． 適用范圍 SP測(cè)井既受地層水與泥漿間礦化度差值影響，也受泥質(zhì)、層厚、高阻層等的影響，所以適用范圍窄，僅適用于碎屑巖剖面和充以可導(dǎo)電泥漿的裸眼井，解釋中存在多解性，地質(zhì)上應(yīng)用不及 GR。 1． 探測(cè)對(duì)象 密度測(cè)井是探測(cè)井內(nèi)巖石體積密度的變化。 三、密度測(cè)井 DEN（ FDC） ——Densilog 2． 地質(zhì)應(yīng)用 （ 1） 是測(cè)量巖層孔隙度的方法之一 密度測(cè)井主要反映巖石礦物組成及流體特征 。 密度測(cè)井響應(yīng)方程： ρb＝ （ 1－ φD） *ρma+ φD* ρf 式中： ρma——骨架密度 ρf ——流體密度 φD ——孔隙度 一般： ρma , ρf≤1， 所以 φ的大小對(duì)體積密度值影響很大 。 當(dāng)?shù)貙涌紫冻湟蕴烊粴鈺r(shí) ， 即 ρf很小 ， 所以體積密度值 ρb明顯降低 。 巖性因素對(duì)體積密度值影響較小，用 DEN確定 φD,可由上式推得： fmabmaD ????????1 －巖石骨架2 －孔隙、流體A －巖石結(jié)構(gòu)B －等效體積模型純砂巖體積模型（ 2） 判斷巖性 對(duì)純巖性如無(wú)水石膏 、 巖鹽 、 白云巖 、 致密灰?guī)r 、 煤層等都有既定的密度值 ， 可與其它巖性相區(qū)分 。 由于密度測(cè)井對(duì)井眼變化過(guò)于敏感，對(duì)井壁的規(guī)則性要求過(guò)高，它對(duì)高 ——中孔隙度砂巖其定性效果不如 AC。 這也正是在部分油田（如長(zhǎng)慶油田）利用 DEN計(jì)算孔隙度效果要好于 AC的主要原因。 3． 適用范圍 DEN對(duì)井眼質(zhì)量要求高 ， 對(duì)于擴(kuò)徑 、 不平整井壁均應(yīng)進(jìn)行校正 。 目前常采用的是補(bǔ)償密度測(cè)井儀 FDC。 新方法 ——巖性密度測(cè)井 巖性密度測(cè)井能夠同時(shí)測(cè)量地層的體積密度和巖石光電吸收截面指數(shù)（ Pe）， Pe參數(shù)用于指示巖石中礦物的含量。 巖性密度測(cè)井的應(yīng)用包括區(qū)分巖性、確定粘土含量、計(jì)算地層的孔隙度、確定含氣層和識(shí)別裂縫。 （ LithoDensity logging） 巖性密度測(cè)井是國(guó)外70年代后期研制的一種新測(cè)井方法。它是在密度測(cè)井基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的。 1． 探測(cè)對(duì)象 中子測(cè)井是測(cè)量井中的熱中子分布 。 輸出視孔隙度φN。 常見(jiàn)的中子測(cè)井僅有兩種： （ 1） 測(cè)超熱中子分布的井壁中子測(cè)井儀： SNP （ 2） 測(cè)熱中子分布的補(bǔ)償中子測(cè)井儀： CNL 它們的區(qū)別如下： 四、中子測(cè)井（ NEUTRON LOG） 名稱 探測(cè)器個(gè)數(shù) 所測(cè) φ N值反映內(nèi)容 SNP 1 只反映地層含氫指數(shù)，不受 Cl－ 干擾 CNL 2 反映地層含氫指數(shù)及 Cl－ 元素影響 補(bǔ)償中子測(cè)井 補(bǔ)償中子測(cè)井主要用于識(shí)別孔隙性地層和估算孔隙度。通常，通過(guò)將中子測(cè)井孔隙度與其它孔隙度測(cè)井或者巖心分析資料對(duì)比，能夠?qū)鈱訌挠蛯踊蛘咚畬又袇^(qū)分出來(lái)。中子和密度測(cè)井相結(jié)合能夠提供精確的地層評(píng)價(jià)資料。 應(yīng)用： 確定孔隙度； 識(shí)別氣層； 結(jié)合其它類型的孔隙度測(cè)井識(shí) 別巖性。 2． 地質(zhì)應(yīng)用 （ 1） 識(shí)別孔隙地層 ， 確定孔隙度 φN 因?yàn)橹凶涌紫抖葴y(cè)井是一種通過(guò)地層含氫量來(lái)反映充滿液體的孔隙大小的測(cè)井方法 。 所以： 其中， φN、 φNma 、 φNf分別表示巖層、骨架、孔隙流體的含氫指數(shù)。 NfNN m aNN ????? ????? )1(N m aNfN m aNN ????????（ 2） 與密度孔隙度配合 ， 較易識(shí)別氣層 。 由于氣層的含氫指數(shù)低 ， 故 ψN偏小 。 （ 3） 利用雙中子 （ ψ超熱 、 ψ熱中子 ） 重疊曲線可快速識(shí)別淡水水淹層和高礦化度水層 。 淡水層：熱中子孔隙度 ψther= 超熱中子孔隙度 ψepi 鹽水層：熱中子孔隙度 ψther 超熱中子孔隙度 ψepi （ 4）識(shí)別巖性 聲波測(cè)井是探測(cè)井內(nèi)巖層聲波時(shí)差的變化。 五、聲波測(cè)井曲線的地質(zhì)應(yīng)用 AC (Acoustical logging) 巖石 骨架值 砂巖 182 168 灰?guī)r 156 白云巖 143 硬石膏 164 淡水 620 鹽水 606 補(bǔ)償聲波測(cè)井 補(bǔ)償聲波測(cè)井是測(cè)量所鉆開(kāi)地層的聲速。補(bǔ)償測(cè)量能消除惡劣井眼條件的影響。測(cè)量的傳播時(shí)間可用來(lái)進(jìn)行地層對(duì)比和計(jì)算地層孔隙度。 應(yīng)用： 確定含流體地層的孔隙度； 在惡劣井眼條件下采集準(zhǔn)確孔隙度資料； 地層對(duì)比； 采集地層速度資料； 結(jié)合其它孔隙度資料識(shí)別巖性； 結(jié)合其它孔隙度資料確定次生孔隙度； 從波形特征或變密度顯示識(shí)別裂縫。 高分辨率聲波測(cè)井 2． 地質(zhì)應(yīng)用 （ 1） 確定巖層的孔隙度 在固結(jié) 、 壓實(shí)的純地層中 ， 若有小的均勻分布的粒間孔隙 ， 則 ψ與 Δt 間存在線性關(guān)系 ， 該式稱為平均時(shí)間公式或威利公式： 式中： Δt 、 Δtma、 Δtf 分別為巖層 、 巖石骨架 、 流體的時(shí)差值 。 單位： μs/m 由于 Δtma、 Δtf 難以求準(zhǔn)，通常按地區(qū)，針對(duì)某一地層用巖心分析資料和測(cè)井資料建立 ψ與 Δt的統(tǒng)計(jì)關(guān)系。 mafmas tttt????????（ 2） 識(shí)別氣層 聲波時(shí)差在氣層上反映高的Δt值，在松散層含氣時(shí)，會(huì)出現(xiàn)明顯的周波跳躍現(xiàn)象。 （ 3） 劃分地層 ， 進(jìn)行地層對(duì)比 a． 砂泥巖剖面 砂巖速度一般較大 ， Δt較低 ， 通常鈣質(zhì)膠結(jié)比泥質(zhì)膠結(jié)的 Δt要低 。 隨鈣質(zhì)增多 ， Δt下降 ， 隨 Vsh增多 ， Δt增大 。 致密的灰?guī)r與白云巖 Δt最低 ， 若含泥質(zhì) ， Δt增大， 如有孔隙或裂縫時(shí) ， Δt有明顯增大 。 （ 4） 利用中子密度交會(huì)孔隙度 ψDN與 ψs的差